Определение интегрального показателя уровня качества РЭС для двух степеней интеграции и трёх вариантов компоновки аппаратуры (1088617), страница 4
Текст из файла (страница 4)
где - интенсивность отказов схем широкого применения (см.
);
- интенсивность отказов микросборок (примерно на порядок больше чем у микросхем – см. справочник);
- интенсивность отказов паяного контакта (около
).
- рекомендуется взять количество задействованных выводов равным всем имеющимся у микросхемы (микросборки).
1)Для J=32
а) конструкция книжная, кассетная
СБ=0,000015
б) конструкция разъемная
СБ=0,000014
2)Для J=64
а) конструкция книжная, кассетная
СБ=0,000012
б) конструкция разъемная
СБ=0,000011
5.2.2. Количество внешних выводов разъема кассеты в устройстве управления определяется по формуле
1)Для J=32
а) конструкция книжная, кассетная
МУУ= 35
2)Для J=64
а) конструкция книжная, кассетная
МУУ= 37
5.2.3. Количества внешних выводов разъема кассеты в устройстве ввода-вывода определяется по формуле
1)Для J=32
а) конструкция книжная, кассетная
МУУ= 35
2)Для J=64
а) конструкция книжная, кассетная
МУУ= 37
5.2.4. Количество внешних выводов разъема кассеты в арифметическом устройстве определяется по формуле
1)Для J=32
а) конструкция книжная, кассетная
МУУ= 63
2)Для J=64
а) конструкция книжная, кассетная
МУУ= 66
5.2.5. Интенсивность отказов кассеты устройства управления определяется по формуле
1)Для J=32
а) конструкция книжная, кассетная
УУ=0,00006
б) конструкция разъемная
УУ=0,00006
2)Для J=64
а) конструкция книжная, кассетная
УУ=0,00005
б) конструкция разъемная
УУ=0,00004
5.2.8. Количество внешних выводов аппаратуры определяется по формуле
МА= 82
5.2.9. Интенсивность отказа аппаратуры варианта разъемной конструкции определяется по формуле
где - интенсивность отказов врубного контакта разъема (около
- точнее см. в справочнике для данного разъема).
1)Для J=32
а) конструкция разъемная
а=0,0007
2)Для J=64
а) конструкция разъемная
а=0,0006
5.2.10. Интенсивность отказа аппаратуры варианта книжной конструкции определяется по формуле
1)Для J=32
а) конструкция разъемная
а=0,0006
2)Для J=64
а) конструкция разъемная
а=0,0005
5.3. Учет влияния условий окружающей среды на интенсивность отказа аппаратуры.
5.3.1. Интенсивность отказов аппаратуры с учетом ее работы при реальной температуре, выбранной внутри интервала допустимых температур, определяется по формуле
где - поправочный коэффициент, учитывающий режимы эксплуатации для различных классов аппаратуры (задается разработчику в виде W).
1)Для J=32
а) конструкция книжная, кассетная
а ср=0,00006
б) конструкция разъемная
а ср=0,00006
2)Для J=64
а) конструкция книжная, кассетная
а ср=0,00005
б) конструкция разъемная
а ср=0,00006
5.3.2. Интенсивность отказов аппаратуры с учетом влияния условий окружающей среды определяется по формуле
где - коэффициент, учитывающий влияние механических воздействий;
- коэффициент, учитывающий влияние влажности;
- коэффициент, учитывающий влияние пониженного давления (значение коэффициентов
,
,
задаются разработчику).
Величины интенсивностей отказов и коэффициентов влияния регламентируются техническими заданиями на разработку аппаратуры и зависят от выбранной технологии изготовления и назначения аппаратуры. Некоторые рекомендуемые значения поправочных коэффициентов приведены в таблицах справочного приложения 5.
1)Для J=32
а) конструкция книжная, кассетная
а=0,00006
б) конструкция разъемная
а=0,00006
2)Для J=64
а) конструкция книжная, кассетная
а=0,00006
б) конструкция разъемная
а=0,00006
5.3.3. Среднее время безотказной работы аппаратуры в часах определяется по формуле
1)Для J=32
а) конструкция книжная, кассетная
Тср=16700
б) конструкция разъемная
Тср=16700
2)Для J=64
а) конструкция книжная, кассетная
Тср=16700
б) конструкция разъемная
Тср=16700
6. Определение количества микросхем и субблоков аппаратуры основного состава и ЗИПа
6.1. Число профилактических осмотров.
6.1.1. Если аппаратура эксплуатируется в течении части суток и при этом осуществляются профилактические осмотры в промежутках между рабочими циклами, то величина среднего времени между отказами аппаратуры определяется путем решения уравнения
где - время профилактического осмотра (можно взять
).
Если можно рассчитать по этой формуле, то формулы 56 и 57 не считают, если нельзя рассчитать по этой формуле, то уравнение можно решать графоаналитически, путем нахождения общей точки кривых и
, описываемых формулами
Строим графики и находим Тср.
6.1.2. Время назначенного ресурса аппаратуры определяется по формуле
1) Для J=32
а) конструкция книжная, кассетная
Тр=217
б) конструкция разъемная
Тр=226
2) Для J=64
а) конструкция книжная, кассетная
Тр=525
б) конструкция разъемная
Тр=509
6.1.3. Время наработки между двумя профилактическими осмотрами определяется по формуле
1) Для J=32
а) конструкция книжная, кассетная
То=30
б) конструкция разъемная
То=28
2) Для J=64
а) конструкция книжная, кассетная
То=46
б) конструкция разъемная
То=42
6.1.4. Число профилактических осмотров в течение времени назначенного ресурса аппаратуры определяется по формуле
1) Для J=32
а) конструкция книжная, кассетная
=7
б) конструкция разъемная
= 7
2) Для J=64
а) конструкция книжная, кассетная
= 11
б) конструкция разъемная
= 10
6.3. Количество субблоков, заменяемых при проведении профилактических осмотров в течение времени назначенного ресурса.
6.3.1. Количество типовых элементов замены , замененных в течение времени назначенного ресурса, определяется по формуле
1) Для J=32
а) конструкция книжная, кассетная
Np=1
б) конструкция разъемная
Np=1
2) Для J=64
а) конструкция книжная, кассетная
Np=1
б) конструкция разъемная
Np=1
6.3.2. Распределение по типам субблоков , заменяемых при проведении профилактических осмотров, для варианта разъемной конструкции аппаратуры определяется по формуле
1) Для J=32
а) конструкция разъемная
Ncpjp=2
2) Для J=64
б) конструкция разъемная
Ncpjp=2
6.3.3. Количество субблоков j-го типа , заменяемых в течение времени назначенного ресурса, определяется по формуле
где – число допустимых замен микросхем в субблоке, - берется из п. 4.2.1. Рекомендуемое значение числа допустимых замен микросхем = 3.
Для J=32
а) конструкция книжная, кассетная
Ncpj= 2
б) конструкция разъемная
Ncpj= 2
2) Для J=64
а) конструкция книжная, кассетная
Ncpj= 2
б) конструкция разъемная
Ncpj= 2
6.3.13. Количество субблоков аппаратуры варианта книжной конструкции, замененных в течение времени назначенного ресурса, определяется по формуле
1) Для J=32
а) конструкция книжная
Np= 2
2) Для J=64
а) конструкция книжная
Np= 2
6.3.14. Количество субблоков j-го типа устройства управления аппаратуры варианта книжной конструкции , замененных в течение времени назначенного ресурса, определяется по формуле
1) Для J=32
а) конструкция книжная
Nсбj=2
2) Для J=64
а) конструкция книжная
Nсбj=2
6.3.15. Количество субблоков устройства ввода-вывода аппаратуры варианта книжной конструкции , замененных в течение времени назначенного ресурса, определяется по формуле
1) Для J=32
а) конструкция книжная
Nсбв=2
2) Для J=64
а) конструкция книжная
Nсбв=2
6.3.16. Количество субблоков арифметического устройства аппаратуры варианта книжной конструкции , замененных в течение времени назначенного ресурса, определяется по формуле
1) Для J=32
а) конструкция книжная
Nсба=2
2) Для J=64
а) конструкция книжная
Nсба=2
6.4. Количество субблоков и микросхем, необходимых для эксплуатации аппаратуры.
6.4.2. При дублировании аппаратуры варианта разъемной конструкции количество субблоков определяется по формуле
1) Для J=32
а) конструкция разъемная
Nсбjн=5
2) Для J=64
а) конструкция разъемная
Nсбjн=5
6.4.7. Общее количество субблоков , j-го типа, необходимое для эксплуатации аппаратуры в течение времени ее технической долговечности, определяется по формуле
1) Для J=32
а) конструкция книжная, кассетная
Nсбjд=565
б) конструкция разъемная
Nсбjд=610
2) Для J=64
б) конструкция книжная, кассетная
Nсбjд=240
б) конструкция разъемная
Nсбjд=275
6.4.8. Количество микросборок i-го типа , необходимое для эксплуатации аппаратуры в течение времени ее технической долговечности, определяется по формуле