20090520_ТелоВВ (1088612), страница 3

Просмтор этого файла доступен только зарегистрированным пользователям. Но у нас супер быстрая регистрация: достаточно только электронной почты!

Текст из файла (страница 3)

где: λ_с.ш – интенсивность отказов схем широкого применения ( );

λ_с.с – интенсивность отказов микросборок ( );

λ_1К.П – интенсивность отказов паяного контакта ( );

М_М.С – количество задействованных выводов микросхемы (для J₁ – 11, для J₂ – 14).

для устройства ввода-вывода:

для арифметического устройства:

для устройства управления:

1. Количество внешних выводов разъёма кассеты в устройстве управления определим по формуле:

, где: К₁ = 3.

1. Количество внешних выводов разъёма кассеты в устройстве ввода-вывода определим по формуле:

, где: К₁ = 3.

1. Количество внешних выводов разъёма кассеты в арифметическом устройстве определим по формуле:

, где: К₁ = 3.

1. Интенсивность отказов кассеты устройства управления определим по формуле:

1. Интенсивность отказов кассеты устройства ввода-вывода определим по формуле:

1. Интенсивность отказов кассеты арифметического устройства определим по формуле:

1. Определим количество внешних выводов аппаратуры:

1. Интенсивность отказа аппаратуры варианта разъёмной конструкции определим по формуле:

где: λ_1КВ – интенсивность отказов врубного контакта разъёма ( ).

1. Интенсивность отказа аппаратуры варианта книжной конструкции определим по формуле:

1. Интенсивность отказа аппаратуры варианта кассетной конструкции определим по формуле:

1. Учёт влияния условий окружающей среды на интенсивность отказа аппаратуры.

   1. Интенсивность отказов аппаратуры с учетом её работы при реальной температуре, выбранной внутри интервала допустимых температур определим по формуле:

где: К_э – поправочный коэффициент, учитывающий режимы эксплуатации для различных классов аппаратуры (задан как ω = 0,9).

для разъёмной конструкции:

для книжной конструкции:

для кассетной конструкции:

1. Интенсивность отказов аппаратуры с учетом влияния условий окружающей среды определим по формуле:

где: К_М – коэффициент, учитывающий влияние механических воздействий (К_М = 1,0);

К_ВЛ – коэффициент, учитывающий влияние влажности (К_ВЛ = 1,0);

К_Д – коэффициент, учитывающий влияние пониженного давления (К_Д = 1,14).

для разъёмной конструкции:

для книжной конструкции:

для кассетной конструкции:

1. Среднее время безотказной работы аппаратуры определим по формуле:

для разъёмной конструкции:

для книжной конструкции:

для кассетной конструкции:

1. Определение количества микросхем и субблоков аппаратуры основного состава и ЗИПа.

   1. Число профилактических осмотров.

      1. Т.к. аппаратура эксплуатируется в течение части суток, и при этом осуществляются профилактические осмотры в промежутках между рабочими циклами, то величину среднего времени между отказами аппаратуры определяем путем решения уравнения:

где: Т_ПР – время профилактического осмотра.

Это уравнение решаем графоаналитически (Приложение 2), путем нахождения общей точки кривых Т₁ и Т₂ – Т₃, описываемых формулами:

для разъёмной конструкции:

для книжной конструкции:

для кассетной конструкции:

1. Время назначенного ресурса аппаратуры определим по формуле:

для разъёмной конструкции:

для книжной конструкции:

для кассетной конструкции:

1. Время наработки между двумя профилактическими осмотрами определим по формуле:

, где Т_ПР = 2.

для разъёмной конструкции:

для книжной конструкции:

для кассетной конструкции:

1. Число профилактических осмотров в течение времени назначенного ресурса аппаратуры определим по формуле:

для разъёмной конструкции:

для книжной конструкции:

для кассетной конструкции:

1. Комплект ЗИП.

   1. Типовыми элементами замены (ТЭЗ) аппаратуры являются:

для варианта разъёмной конструкции – субблок,

для варианта кассетной конструкции – кассета,

для варианта книжной конструкции – блок.

1. Количество ТЭЗ в комплекте ЗИПа определяется в два этапа:

а) определим количество ЭВ, необходимое для замены:

для устройства ввода-вывода:

для арифметического устройства:

для устройства управления:

б) количество ТЭЗ в комплекте ЗИПа определим по формуле:

для устройства ввода-вывода:

для арифметического устройства:

для устройства управления:

1. Количество субблоков, заменяемых при проведении профилактических осмотров в течении времени назначенного ресурса.

   1. Количество ТЭЗ, замененных в течение времени назначенного ресурса, определяем по формуле:

для разъёмной конструкции:

для книжной конструкции:

для кассетной конструкции:

1. Распределение по типам субблоков, заменяемых при проведении профилактических осмотров, для варианта разъёмной конструкции аппаратуры определяем по формуле:

Характеристики

Список файлов курсовой работы