rpd000008220 (1009429), страница 5
Текст из файла (страница 5)
Ответы: 1 – больше волнового. 2.-меньше волнового. 3.- равном волновому
17. Для уменьшения наводок по цепям питания необходимо:
Ответы: 1 – уменьшать активное и индуктивное сопротивление проводников.
2 - уменьшать собственную емкость проводников. 3 - использовать радиоэлементы с большим потреблением тока.
18. Эффективность электростатического экранирования определяется:
Ответы: 1 - электропроводностью материала экрана. 2 - толщиной стенки экрана.
3 - отношением емкости между источником и приемником наводки до экранирования к емкости после экранирования.
19. Ферромагнитные материалы используются для изготовления электромагнитных экранов, предназначенных для экранирования:
Ответы: 1 - высокочастотных электромагнитных полей. 2 - низкочастотных электромагнитных полей.
20. Толщина стенки электромагнитного экрана может быть уменьшена:
Ответы: 1 - при уменьшении удельной электропроводности материала. 2 - при росте частоты электромагнитного поля. 3 - при уменьшении относительной магнитной проницаемости материала экрана.
Тестовые вопросы по разделу 1.doc
Тестовые вопросы по разделу 1
«Общие вопросы конструирования ЭС ».
1. Требования к конструкции ЭВС определяются:
Ответы: 1 –стоимостью изделия.. 2.-надёжностью изделия. 3-условиями эксплуатации.
2..Чему равны размеры ячейки Я.48.34.02.01
Ответы: 1 –480х340мм. 2-240х170мм 3- 48х34мм.
3. Базовые несущие конструкции (БНК) подразделяются на следующие конструктивные уровни:
Ответы: 1 –БНК1, БНК2,БНК3,БНК4.. 2 - БНК1,БНК2,БНК3,.- 3.- БНК1,БНК2,
4.После выпуска рабочей конструкторской документации (КД), ей присваивается литера:
1 – О, 2 – О1, 3 – не присваивается.
5. Схема деления изделия относится:
Ответы: 1 - к электрическим схемам изделия. 2 - - графическим КД. 3 - к текстовым КД.
6. Технические условия относятся:
1 – к КД, 2 – к технологическим документам,, 3 – к эксплуатационным документам..
7. Для оценки качества компоновки конструкции используется:
Ответы: 1 –комплексный показатель качества. 2 - степень интеграции – 3 -коэффициент дезъинтеграции.
8. Унификация несущих конструкций ЭС основана на принципе:
Ответы: 1 –местного влияния. 2.-комплексной микроминиатюризации 3.- модульности построения конструкций.
9. Периодичность и методику проведения испытаний изделия содержит документ:
Ответы: 1 – техническое задание. 2-технические условия. 3- паспорт изделия.
10. Комплектность КД на разрабатываемое изделие определяется:
Ответы: 1 – ГОСТ. 2.- заказчиком. 3.- исполнителем.
10.. Базовая несущая конструкция 2-го уровня 2,5К применяется:
Ответы: 1 –в наземной аппаратуре.. 2.-в судовой аппаратуре.3.- в бортовой авиационной.
11. Сколько цифр содержит децимальный номер изделия.
Ответы: 1 –4.. 2.-6. 3.- 8.
12. Сколько знаков содержит код разработчика КД.
Ответы: 1 –4.. 2.-6. 3.- 8.
13. Коэффициент дезъинтеграции ЭМ равен :1 -4, 2 - 6 , 3 8. Компоновка какого модуля лучше?
.Ответы: 1 –1.. 2.-2. 3.- 3.
14. В основе разработки БНК лежит:
Ответы: 1 – модульный принцип ,. 2.- принцип комплексной микроминиатюризации, 3 – принцип электротепловой аналогии.
15. Какие чертежи изделия являются обязательными при выполнении этапа технического проектирования:
Ответы: 1 – чертёж общего вида. 2.- Сборочный чертёж и спецификация. 3.- Сборочный чертёж, спецификация, чертежи деталей.
16. Конструкция РЭС есть организованная совокупность
Ответы: 1 – деталей.. 2.- деталей и связей. 3.- связей.
17. Литера, присваиваемая документации на изделие, обозначает
Ответы: 1 – сложность изделия. 2 - стадию разработки изделия. 3.- класс изделия.
18. Для характеристики вибрационных воздействий на РЭС необходимо задать
Ответы: 1 – диапазон частот вибрационного воздействия. 2 - значение вибрационной перегрузки. 3 - диапазон частот вибрационного воздействия и значение вибрационной перегрузки.
Тестовые вопросы по разделу 4.doc
Тестовые вопросы по разделу 4.
Надёжность конструкций ЭС.
1. Если невосстанавливаемый объект характеризуется постоянством интенсивности отказов, тогда в качестве параметра надёжности целесообразно использовать:
Ответы: 1 - вероятность безотказной работы. 2 - интенсивность отказов.
3 - коэффициент готовности.
2. Для оценки надёжности аппаратной части РЭС применяют математическую модель: Ответы: 1 - Вейбулла. 2 –Джелинского – Моранды. 3 – Шумана.
3 Статистические модели применяют для оценки надёжности:
Ответы: 1 - элементной базы ЭВС. 2 –. РЭС. 3 - вычислительных сетей.
4. Структурные модели применяют для оценки надёжности:
Ответы: 1 - элементной базы РЭС. 2 –. устройств и систем. 3 - вычислительных сетей.
5. Для приближённых оценок надёжности применяют модель:
Ответы: 1 - Вейбулла. 2 –экспоненциальную, 3–. Шумана.
6. При повышении температуры интенсивность отказов ИС:
Ответы: 1 - уменьшается, 2 –увеличивается. 3 -.не изменяется.
7. При увеличении площади кристалла СБИС интенсивность отказов:
Ответы: 1 - уменьшается, 2 –увеличивается. 3 -.не изменяется.
8. При уменьшении топологических размеров элементов СБИС интенсивность отказов:
Ответы: 1 - уменьшается, 2 –увеличивается. 3 -.не изменяется.
9.. Числовой контроль по модулю позволяет обнаруживать ошибки:
Ответы: 1 - только арифметических операций. 2 – только операций пересылки и хранения . 3 -.арифметических операций и операций пересылки и хранения.
10. Цифровой контроль по модулю два позволяет обнаруживать ошибки:
Ответы: 1 - только арифметических операций. 2 –.только операций пересылки и хранения . 3 - арифметических операций и операций пересылки и хранения.
11. Для обнаружения ошибок функционирования СБИС обычно применяют:
Ответы: 1 - числовой контроль. 2 – тестовый контроль. 3 -. вероятностные методы контроля.
12 При повышении времени восстановления коэффициент готовности:
Ответы: 1 – уменьшается. 2 –увеличивается. 3 - не изменяется.
13. Основными причинами ошибок ПО являются:
Ответы: 1 – неточные исходные задания разработки. 2 – ошибки числовых значений.
3 - двусмысленность требований.
14. Какая из моделей надёжности ПО рассматривает временные периоды отладки ПО и его эксплуатации отдельно:
Ответы: 1 – Вейбулла, 2 – Джелинского-Моранды.. 3 – Шумана.
15.Для оценки надёжности отказоустойчивых систем применяются модели надёжности:
Ответы: 1 – математичесские. 2 – структурные. 3 –графовые.
16. При каких значениях Р модуля интервал оценки надёжности вычислительной системы методом минимальных путей и сечений будет меньше:
Ответы: 1 – Р= 0,9. 2 – Р= 0,6. 3 – Р= 0,4.
Версия: AAAAAARxR3U Код: 000008220