rpd000007858 (1009427), страница 2
Текст из файла (страница 2)
Прикрепленные файлы: Вопросы экзамена.doc
-
УЧЕБНО-МЕТОДИЧЕСКОЕ И ИНФОРМАЦИОННОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ ДИСЦИПЛИНЫ
а)основная литература:
Шишкин Г.Г., Шишкин А.Г. Электроника. Учебник для вузов. – М.: Дрофа, 2009, − 703 с.
2 Степаненко И.П. Основы микроэлектроники. Учебное пособие для вузов. – 2-изд., перераб. и доп. ― М.: – Санкт-Петербург: Лаб. Баз. Знаний Невский Диалект физматлит, 2001.
3. Шалимова К.В. Физика полупроводников. М.: Энергоатомиздат, 1985.
4. Пихтин А.Н. Оптическая и квантовая электроника: Учеб. для вузов. – М.: Высш. школа, 2001. – 573с.
5. Кирдяшев К.П. Моделирование физических процессов в электронных приборах. – М.: Изд. МАИ, 2007, 80с.
б)дополнительная литература:
Электронные, квантовые приборы и микроэлектроника: учебное пособие для вузов / Ю.Л. Бобровский, С.А.Корнилов, И.А.Кратиров и др.; Под ред. Проф.Н.Д.Федорова. – М.: Радио и связь, 1998.- 560 с
2. Драгунов В.П., Неизвестный И.Г., Гризчин В.А. Основы наноэлектроники. Учебн. пособие. – М.: Университетская книга. Логос. 2006.
3. Шишкин Г.Г., Агеев И.М. Наноэлектроника. М.: Бином, 2011.
в)программное обеспечение, Интернет-ресурсы, электронные библиотечные системы:
-
МАТЕРИАЛЬНО-ТЕХНИЧЕСКОЕ ОБЕСПЕЧЕНИЕ ДИСЦИПЛИНЫ
Комплект лабораторных стендов для исследования статических характеристик р – п перехода.
Комплект лабораторных стендов для исследования динамических характеристик р – п перехода.
Комплект лабораторных стендов для исследования электрофизических параметров полупроводников.
Комплект лабораторных стендов для исследования характеристик светодиода и полупроводникового лазера.
Наглядные пособия для изучения конструкций ИМС.
Измерительные средства для обеспечения программ измерения на названных стендах.
Предпочтительно использование стендов, сопряженных с ПЭВМ, используемых для управления экспериментами и измерениями, а также выхода в Интернет для получения справочных данных, проведения расчетов и выполнения виртуальных лабораторных работ.
Приложение 1
к рабочей программе дисциплины
«Физические основы микро- и наноэлектроники »
Аннотация рабочей программы
Дисциплина Физические основы микро- и наноэлектроники является частью Математического и естественно-научный цикл дисциплин подготовки студентов по направлению подготовки Конструирование и технология электронных средств. Дисциплина реализуется на 4 факультете «Московского авиационного института (национального исследовательского университета)» кафедрой (кафедрами) 408.
Дисциплина нацелена на формирование следующих компетенций: ПК-1 ,ПК-2 ,ПК-3.
Содержание дисциплины охватывает круг вопросов, связанных с: физическими основами работы электронных приборов, включая приборы микро и наноэлектроники.
Преподавание дисциплины предусматривает следующие формы организации учебного процесса: Лекция, мастер-класс, Практическое занятие, Лабораторная работа.
Программой дисциплины предусмотрены следующие виды контроля: промежуточная аттестация в форме Экзамен (4 семестр).
Общая трудоемкость освоения дисциплины составляет 5 зачетных единиц, 180 часов. Программой дисциплины предусмотрены лекционные (44 часов), практические (12 часов), лабораторные (28 часов) занятия и (69 часов) самостоятельной работы студента.
Приложение 2
к рабочей программе дисциплины
«Физические основы микро- и наноэлектроники »
Cодержание учебных занятий
-
Лекции
1.1.1. Основные понятия физики полупроводников(АЗ: 2, СРС: 0)
Тип лекции: Информационная лекция
Форма организации: Лекция, мастер-класс
1.1.2. Электрофизические свойства полупроводников(АЗ: 2, СРС: 0)
Тип лекции: Информационная лекция
Форма организации: Лекция, мастер-класс
1.2.1. Электрические переходы. . р-п переход в равновесном состоянии(АЗ: 2, СРС: 0)
Тип лекции: Информационная лекция
Форма организации: Лекция, мастер-класс
1.2.2. р-п переход в неравновесном состоянии(АЗ: 2, СРС: 0)
Тип лекции: Информационная лекция
Форма организации: Лекция, мастер-класс
1.2.3. Свойства р-п перехода(АЗ: 2, СРС: 0)
Тип лекции: Информационная лекция
Форма организации: Лекция, мастер-класс
1.2.4. Диоды(АЗ: 2, СРС: 0)
Тип лекции: Информационная лекция
Форма организации: Лекция, мастер-класс
1.4.1. Физика биполярных транзисторов(АЗ: 4, СРС: 0)
Тип лекции: Информационная лекция
Форма организации: Лекция, мастер-класс
1.4.2. Параметры и характеристики биполярных транзисторов(АЗ: 2, СРС: 0)
Тип лекции: Информационная лекция
Форма организации: Лекция, мастер-класс
1.4.3. Применение БП транзисторов в электронных схемах(АЗ: 2, СРС: 0)
Тип лекции: Информационная лекция
Форма организации: Лекция, мастер-класс
1.5.1. Физика полевых транзисторов(АЗ: 2, СРС: 0)
Тип лекции: Информационная лекция
Форма организации: Лекция, мастер-класс
1.5.2. Параметры и характеристики полевых транзисторов(АЗ: 2, СРС: 0)
Тип лекции: Информационная лекция
Форма организации: Лекция, мастер-класс
1.5.3. Полевые транзисторы интегральных схем(АЗ: 2, СРС: 0)
Тип лекции: Информационная лекция
Форма организации: Лекция, мастер-класс
2.1.1. Действие света на полупроводники и электр. переходы(АЗ: 2, СРС: 0)
Тип лекции: Информационная лекция
Форма организации: Лекция, мастер-класс
2.1.2. Фотоизлучающие приборы(АЗ: 2, СРС: 0)
Тип лекции: Информационная лекция
Форма организации: Лекция, мастер-класс
2.1.3. Фотоприемные приборы(АЗ: 2, СРС: 0)
Тип лекции: Информационная лекция
Форма организации: Лекция, мастер-класс
2.1.4. Элементы интегральной оптоэлектроники(АЗ: 2, СРС: 0)
Тип лекции: Информационная лекция
Форма организации: Лекция, мастер-класс
2.2.1. Интегральные схемы. Основные понятия(АЗ: 2, СРС: 0)
Тип лекции: Информационная лекция
Форма организации: Лекция, мастер-класс
2.2.2. Биполярные интегральные схемы. Логики(АЗ: 2, СРС: 0)
Тип лекции: Информационная лекция
Форма организации: Лекция, мастер-класс
2.2.3. Логические схемы на полевых транзисторах(АЗ: 2, СРС: 0)
Тип лекции: Информационная лекция
Форма организации: Лекция, мастер-класс
2.2.4. Фундаментальные ограничения микроминиатюризации(АЗ: 2, СРС: 0)
Тип лекции: Информационная лекция
Форма организации: Лекция, мастер-класс
2.2.5. Новые направления в микро и наноэлектронике(АЗ: 2, СРС: 0)
Тип лекции: Информационная лекция
Форма организации: Лекция, мастер-класс
-
Практические занятия
1.1.1. Расчет концентрации электронов в типичных полупроводниках(АЗ: 2, СРС: 2)
Форма организации: Практическое занятие
1.2.1. Расчет идеальной ВАХ р-п перехода(АЗ: 2, СРС: 2)
Форма организации: Практическое занятие
1.2.2. Расчет реальной ВАХ перехода(АЗ: 2, СРС: 2)
Форма организации: Практическое занятие
1.4.1. Расчет характеристик биполярного транзистора(АЗ: 2, СРС: 2)
Форма организации: Практическое занятие
1.5.1. Расчет параметров полевого транзистора(АЗ: 2, СРС: 2)
Форма организации: Практическое занятие
1.5.2. Защита рефератов(АЗ: 2, СРС: 42)
Форма организации: Практическое занятие
-
Лабораторные работы
1.2.1. Статические характеристики р-п перехода(АЗ: 4, СРС: 2)
Форма организации: Лабораторная работа
1.2.2. Динамические характеристики р-п перехода(АЗ: 4, СРС: 2)
Форма организации: Лабораторная работа
1.3.1. Исследование полупроводниковых диодов(АЗ: 4, СРС: 2)
Форма организации: Лабораторная работа
2.1.1. Исследование БП транзистора(АЗ: 4, СРС: 4)
Форма организации: Лабораторная работа
2.1.2. Исследование полевого транзистора(АЗ: 4, СРС: 4)
Форма организации: Лабораторная работа
2.1.3. Исследование действия света на р-п переход(АЗ: 8, СРС: 3)
Форма организации: Лабораторная работа
-
Типовые задания
Приложение 3
к рабочей программе дисциплины
«Физические основы микро- и наноэлектроники »
Прикрепленные файлы
Версия: AAAAAARxPEk Код: 000007858