Для студентов МГТУ им. Н.Э.Баумана по предмету ФизикаИнтерференция в тонких пленках. Определение геометрических параметров поверхностей прозрачных тел интерференционным методомИнтерференция в тонких пленках. Определение геометрических параметров поверхностей прозрачных тел интерференционным методом
4,6753
2019-12-042019-12-04СтудИзба
Интерференция в тонких пленках. Определение геометрических параметров поверхностей прозрачных тел интерференционным методом
Описание
Практическая часть без теории
Характеристики лабораторной работы
Предмет
Учебное заведение
Семестр
Номер задания
Вариант
Теги
Просмотров
1825
Покупок
0
Качество
Фото рукописных листов
Размер
2,93 Mb
Список файлов
- 5.jpg 663,9 Kb
- 6.jpg 877,56 Kb
- 7.jpg 625,34 Kb
- комментарий к рисунку пятна.txt 80 b
- 8.jpg 853,88 Kb
не приунывайте