Для студентов МГТУ им. Н.Э.Баумана по предмету ФизикаИнтерференция в тонких пленках. Определение геометрических параметров поверхностей прозрачных тел интерференционным методомИнтерференция в тонких пленках. Определение геометрических параметров поверхностей прозрачных тел интерференционным методом
5,00531
2021-09-052024-09-03СтудИзба
Интерференция в тонких пленках. Определение геометрических параметров поверхностей прозрачных тел интерференционным методом
-76%
Описание
О-7 - Интерференция в тонких пленках. Определение геометрических параметров поверхностей прозрачных тел интерференционным методом
Интерференция в тонких пленках. Определение геометрических параметров поверхностей прозрачных тел интерференционным методом
![]()
Интерференция в тонких пленках. Определение геометрических параметров поверхностей прозрачных тел интерференционным методом



Характеристики лабораторной работы
Предмет
Учебное заведение
Семестр
Номер задания
Вариант
Просмотров
311
Размер
59,7 Mb
Список файлов
О-7
20210905_225954.jpg
20210905_230002.jpg
20210905_230005.jpg
20210905_230010.jpg
20210905_230014.jpg
20210905_230023.jpg
20210905_230026.jpg
20210905_230033.jpg
20210905_230037.jpg
20210905_230041.jpg

Друзья, спасибо за доверие! Если вам понравилась работа – поставьте 5⭐ и напишите отзыв. Это поможет другим студентам, а мне даст силы делать ещё больше качественных материалов для вас 🔥