Для студентов МГТУ им. Н.Э.Баумана по предмету ФизикаИнтерференция в тонких пленках. Определение геометрических параметров поверхностей прозрачных тел интерференционным методомИнтерференция в тонких пленках. Определение геометрических параметров поверхностей прозрачных тел интерференционным методом
2021-01-222024-11-05СтудИзба
Интерференция в тонких пленках. Определение геометрических параметров поверхностей прозрачных тел интерференционным методом
Описание
Описание файла отсутствует
Характеристики лабораторной работы
Предмет
Учебное заведение
Семестр
Номер задания
Вариант
Просмотров
173
Размер
463,57 Kb
МГТУ им. Н.Э.Баумана


















