Для студентов МГТУ им. Н.Э.Баумана по предмету ФизикаИнтерференция в тонких пленках. Определение геометрических параметров поверхностей прозрачных тел интерференционным методомИнтерференция в тонких пленках. Определение геометрических параметров поверхностей прозрачных тел интерференционным методом
2020-03-062020-11-26СтудИзба
Интерференция в тонких пленках. Определение геометрических параметров поверхностей прозрачных тел интерференционным методом
Описание
O7 (Тетрадь + в методе выделен текст+ ответы на контрольные вопросы)
Тема: ИЗМЕРЕНИЕ ГЕОМЕТРИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ ПОВЕРХНОСТЕЙ ПРОЗРАЧНЫХ ТЕЛ ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫМ МЕТОДОМ
Характеристики лабораторной работы
Предмет
Учебное заведение
Семестр
Номер задания
Вариант
Теги
Просмотров
648
Размер
19,99 Mb