Для студентов МГТУ им. Н.Э.Баумана по предмету ФизикаИнтерференция в тонких пленках. Определение геометрических параметров поверхностей прозрачных тел интерференционным методомИнтерференция в тонких пленках. Определение геометрических параметров поверхностей прозрачных тел интерференционным методом
2020-03-062020-11-26СтудИзба
Интерференция в тонких пленках. Определение геометрических параметров поверхностей прозрачных тел интерференционным методом
Описание
O7 (Тетрадь + в методе выделен текст+ ответы на контрольные вопросы)
Тема: ИЗМЕРЕНИЕ ГЕОМЕТРИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ ПОВЕРХНОСТЕЙ ПРОЗРАЧНЫХ ТЕЛ ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫМ МЕТОДОМ
Характеристики лабораторной работы
Предмет
Учебное заведение
Семестр
Номер задания
Вариант
Теги
Просмотров
674
Размер
19,99 Mb
Список файлов
Комментарии
Нет комментариев
Стань первым, кто что-нибудь напишет!
МГТУ им. Н.Э.Баумана
ph4nt0m7

















