part_2 (А.Н. Мальцев - Молекулярная спектроскопия в 2-х томах), страница 5

Интевсивность спектральных линий можно измерять по степени погернсния их изображения иа фотопластинке, однако следует иметь и виду, по плотность пс>~>ернения зависят от интенсивности света довольно сложным образом и иелинсйна при малых и больших интенсивностях. Чувствительность фотографических материалов увеличивается с ростом размеров зерен ЛиВг, однако при зтам уменьшается контрастность изображения и разрешающая спа<обпость эмульсии. При спектральных исследованиях интенсивных источников света <>бьшна >юльзуютси мелкозернистыми фотографически<ми матерпаламл с малой чувствнтельно<иью, но с бадьи>им разрешением (минимальнас расс>аяаие между разрешаемыми линиями — 0,02 мм) и пысш<ой кон>растиостыо.

Чувствнтелыюсть эмульсий определяется по дейс>вию на псе неразложенпого белого света. Для спектральных исследований этого недостаточно. Необходимо знать спекгральну>а чувствительность в зависимости от длины залпы падающего света. Обычные (несенсибилнзированные) эмульсии чувствительны в области 2300-5000 А с максимумом око:и 4000 А. Па такие эмульсии красный св<т не действует, и при нем их можно обрабатывать (проявлять, фиксп;>ава>ъ и т. д.). Для рабаты в более длинновалновой области спектра эмульсии сенсибилизируются различными красителями. Фотоматериалы, ачувстилеиные к желтой области спектра (да 5800 А), называются ортохроматичссхими, а к близкой красной (до 7000 А) — изохрама<ичсскнми. Панхромачч<ческие фотоматериалы чувствительны вплоть да об>ласти 7000 А, однако имеют провал чувствительности от 8000 до 6200 А.

Наиболее равномерна чувствительность у изопапхроматичсскпх эмульсий, Сепснбнлизированныс эмульсии необходима проявля~ь в полной темнаге. Процесс обработки фотографических материалов (их проявление и фиксирование) может сильна влиять на контрастность и разрешающую способность фотаэмульсии. Проявление ведется обычно в темноте по времени, которое указывается па упакагке фотопластинок.

При .проявлении фото- 137 . >х, а сам кювету с проивптелсм пластинку кладут эмульсией вверх, а " у осторожно накачивают, чтобы паап '. р есс п>ел равномерно. Ф >ксировииие обьп>но проводится в д . ва аза дольше, чем и! ол . П >н работе с проявителем и фиксаже., ду б' м еле ет избегать »аство а в д угой.

Для этого при перенесении мападания Одного раствора в другая. ля фотоматериалов нз проявителя в фиксаж их проны а с надой. фотопленку тщатель- П .. - ф кс! ровапия фотопластинку или,„о на (не менее 2() мин) промывают в проточной д во'с н с пиит на воздухе. ,' ывать илп отмрыва>ь ее выдвижну>о шторку), так как п игом случае спектры могут смсстигься друг относи: р ' ' и пз>!ере!!пя удут б, т неверны.

Чтобы избслсать нежелательной подфотозмульснн в промежутках между зкспозициямн, кассетну>о часть захрыва!От поворотной шторка ! ( >, 1 е х нма п овасти Перед тем как начать измерения спектра, н об. од отождествление, и л ний эталонного спектра железа. Обычно для этого иапользу!Отея спектропроекторы ПС-18 !рис., ) ил й В.РА В.

РАсшиФРОВНА и измкрение спектРОТРАмм Из рение длин волн (или волновых чисел) тр ) спек альных липа;, - .,-, . т ом инте, по- полосатых спек>рах проводится ске од . и а т, когда в исследуемом спскт- ляцин либо па внутреннему стш!дарту, к~гд~ 1>с хорошо известны длины в л 1> д ' О ' ° °, лн О али я а характерных линий, ли о г .

>тном ! спектру железной дуги илн ртут >я ом с измеряемым спектром лаъшы, котопый й>отогра4>прук>т рядом с измер так, 1>тобы Они ньскалюсо перскрыполись. Для фотографирования эталонного спектра рядом с исслсд е- мым спек> >ом нес ходи з ... б одимо пользоваться фи>урной днзфрагмаи, 1.7, . Д ф агма помещается нспасредствснри продольном т!срсмещщ>ин ниой на ис. 1 .,а. на р е щелью спектрографа н и и пр аЗЛПЧНЫЕ и1>аСТКИ ЩЕЛИ, ВЫСОТа можст открыва>ь или закрывать ра .

>)евая часть фигурного (в виде ласточ и>ран око о 1О мы ста вы сза диафрагмы (см. рис ат! огран ляя открытой лишь среднгою ыс ! ели оверху и снизу, Оставляя от ы >сза не,'>Од щель 0 От читы шат и ЕЕ >аетзи ПОЛ~жЕНИЕ ЗТО>а ВЫРСЗа и р ! о елсние шкалы соответствует высоте верхней п>кале. Одно де. е 1,2мм. Правая часть выреза, паа орот, заж ели оставляя открытой верхшою и нижнюю части ее. по и азой нижней шка !с.

'>а>сай Положение выреза отсчитывак>т по пр " " ! фигурный вырез позволяет снимать в р-д в с е ней части п!ели левая часть выреза) спектр исследуемого веществ, , а, а све >х н снизу га и >анап >асть пы„ ырсза) — спектр сравнения, например, \ гп. П . и этом Об выреза устапамл ают'сн па спсктр железно ! ду р еленин обеих шкал или так, что с 11 7 б Пе >екрываз пс ек ывались, как зто видно из рис,, ер с!тобы точнее измеря>1, спе>стрь! пие спектров необходимо длк того, что е ией частя диафрагмы слуат, ля ог>апичения высоты щели в ее центральной части.

ти м тинным штрихам, расположси- вырезы устаивали~на>огся па двум дли ! ыо косого выреза левай нижней части дпафрагмы. С помощью косого вы а пыэ! в лев !" можно получить последовательно д спектров одн!иковой (на небольшой) высоты (см. рнс,в . С. е ст обратить внимание на то, что при фо>аграфировании эталонного спектра сравнения нельзя трата у ть кассет (в част- Рис.

11. 1О. С!!сисриарисктор ПС-!8 СПП-2 (рнс. Н.11), которые проектируют изображение фотопластшнси с дв д двадцатикратным уве>ип>ением на белый экран. в мжс На экран помещают фотографии спектра железа то. масштабе. Па пих приведены значения длин воли наиболее резких линий илн имеется шк, ется шкала длин волн. Более точные значения даются в прилагаемых к атласам таблицах. П " " нфровке спнктрограммы фотопластинку кладут ЭМУЛЬСИЕЙ ВВСРХ Иа ПОДВ>>жнай СтатИК (СМ. РИС.. В си Ч ного спсктропроектора и закрепляют зажимом.

Фокусировка апект- 2 Ос>ществлястся вращением объектива, находящегося пад подвижным столпкон. Перемещснис верхнсго столика 139 .! !получаются коэффициенты х, — и.! Пт— !! — !и (П.9) н 1!по. П. 11. Споктропроептор СПП-2 Х1 Р Хт ! ~ Х! Р- Хт по — 151 (П.10) 140 141 при помон!и двух длинных рукОпток 4, б пазэоляет ВЫВсстн В поле зрения любой участок сиектрограммы и сравнить его с фотографией спектра железа или ртути нз атласа. Не имея навыка, не всегда легко определить длишжувплновую сторону спектрограмыы, поэтому отогкдоствление спектра железа Вызывает нскотороз затруднение, так кэк не ясно, как располагать фотографию спектра — шо возрастанию нли уменьшению длин волн.

Обычно зто решается эмпирически — спектр кпрогопяетсяэ перед спектрограммай и если совмегценнй нсг, то он поворачивается на !80" и все повторяется. Следует иметь в виду, что ио ряду техни !Вских п иии о гепь тзудна точно подогнать проектируемый спектр к спектру атласа.

Ьбы !но к краям спектр сжат нли растянут, однако на расшифровке спектра зто сушественно пе сказывается. Спектропроектор СПП-2 (рис. И.11) имеет более савремепнуго конструкцию и удобнее в работе, Его можно использовать такжс н для точного (,-0,01 мм) измерения расстояний между спсктральпыэ!и линиями, перемещая столп!к с закрепленной фотопластинкой микрометрпческнм винтом и проектируя линии между двумя парал.1слш!ыми штрихамп экрана.

11 !слг* '!ого как спектр В!слеза а!Омгпсс1В.1ш1, исоахадимо и'1 мгп1ть на спектрограмме чернилами нлн острым карандашом те линии спектра железа, которые будут в дальнейшем служить рсяерами для расчета линий илн кантов исследуемого спектра. Длины воли реперов записываются и рабочий журнал.

Для грубой оценки д.!ин волн неизвестного спектра можно воспользоваться фотографиями спскгра железа, на которых отмечены длины воли большинства линий. «На глаз» или с помощью линейки можно провести линейную н!Вгерполяцию измеряемой линии или канта па двум соседним известным линиям эталонного спектра железа. Для гочнога измерения спектров испальзу1отся измеригельиыс микроскопы МИ!з-!2 или компаратар ИЗЛ-2. Измерение длин волн спектральных линий основано на том, чта ме!кду длиной волны спектральной линии й и палшкеиием ее па спсктрограммс 1, отсчитанным ог некоторого (произвольнога) начала, за которое может быть взят, например, нуль шкалы измерительного прибора, сушествует определенная зависимость.

Для ряда случаев связь между Х и 1 можно считать линейной: 7. =-и, +а„1, (П,7) 1'ДЕ По Н В! — ПОСТОЯННЫЕ, Для определения по и а! надо знать длины волн 1,! и Х1 каких- либо двух линий на концах измеряемого интервала спектра я определить для них 1! и 1э Тогда из системы уравнений 11 — ' по+ ц111 (!1,0) 55В = — пп + п111 Физический смысл п1 — обратная линейная дисперсия, усреднен. ная для измеряемого интервала длин волн; а,— длина валлы, соответствующая началу шкалы измерительного прибора, Г!адстапи!В числеппыс значении этих коэффициентов в уравнснпе И,7, можно определьгп длину волны ).

л!обой линии, если известно ее положение 1. Это же уравнение И.7 можно использовать и для экстрапа!!Ицни, по она должна быть небольшой. В случае спсктрограмм, полученных па прпзмсниых спсктрографах, интервал интерполяции пе В!ожет быль большим, Его ветичнпа определяется ~одом критюй диспсрсии (см. рис. ?!,4,а) п требуемой та пгастшо измерений. Для спектраграфа ИСП-51 с каъш- й Э. МЕТОДИКА ФОТОГРАФИРОВАНИЯ И ИЗМЕРЕНИЯ СПЕКТРОВ КОМБИНАЦИОННОГО РАССЕЯНИЯ, ВОЗБУЖДАЕМЫХ РТУТНОЙ ЛАМПОЙ Уста>>анка для получения спектров коъчбипацноииога рассеяния состоит из трехпризменнага спектрографа ИСЛ-5! (см, 9 4) и осветвтсля, в который входят ртутно-кварцевая лампа, кювета с веществом и лииза-конденсор.

Осветитель (его схема представлена на рнс. П.13) состоит пз эллиптического цилиндра 1, внутренняя поверхность которого хро- Рнс. 11.!3. Схема осиетителя аля съемки Кр-сниарои, возбуждаемых ртутной личшой: о -- ородоньное селение, иид сверху; о — поперечное сечение, них по неоривле- ииго х с>чектрографу мирована и отпалировапа до зеркального блеска.