Неофициальный отзыв 3 (Оптические свойства тонких пленок Ge2Sb2Te5 и влияние на них легирующих примесей)

отзыв на автореферат диссертации Нгуена Хуи Фука «Оптические свойства тонких пленок ОезЯЬзте и влияние на них легирующих примесей», представленной на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук по специальности 01.04.10 — физика полупроводников Разработка новых устройств хранения информации, управляемых с помощью низкоэнергетических воздействий на основе сверхбыстрых фазовых переходов является одной из актуальных задач.

стоящих перед физикой полупроводников и современными нанотехнологиями. В настоящее время применяются устройства энергонезависимой фазовой памяти типа перезаписываемых оптических дисков и ячеек памяти произвольного доступа. Важнейшими материалами для подобных устройств благодаря своим уникальным свойствам являются соединения на основе системы Ое-БЬ-Те. Структурные особенности этих соединений, например, большая концентрация структурных дефектов типа вакансий позволяет целенаправленно изменять их свойства путем внедрения различных легирующих добавок.

В связи с этим для направленного синтеза представляется особенно важным понимание зависимости оптических характеристик от типа и концентрации легирующих примесей. В работе Нгуена Хуи Фука проведен синтез тонкопленочных структур Ое2ВЬзте лсгированных В1, Яп и 1п в разных пропорциях, проведены экспериментальные исследования оптических характеристик, рассчитаны оптические константы, сопоставлены теоретические и экспериментальные результаты.

Судя по автореферату, диссертационная работа является актуальной законченной самостоятельной научно-исследовательской работой и в ней решены следующие важные задачи: установлена взаимосвязь между фазовым составом тонких пленок, легированных В1, эп, 1п и оптическими константами, шириной запрещенной зоны, величиной энергии Урбаха.

Определен механизм примесного замещения основных компонентов в этих соединениях, предложена модель, описывающая спектральные зависимости и методы расчета оптических констант для тонких пленок Ое1ЯЬзте. Использование современных методов исследований на высоком экспериментальном уровне (оптическое пропускание, спектральная эллипсометрия и комбинационное рассеяние света) обеспечивают достоверность полученных результатов. Результаты работы опубликованы в российской и международной печати и доложены на конференциях в полном объеме.

Результаты работы несомненно будут востребованы при разработке активной области устройств фазовой памяти на основе материалов Ое-ЯЬ-Те. К недостаткам автореферата следует отнести плохое качество рисунка 4. Но этот недостаток не влияет на общее положительное впечатление о диссертационной работе. В целом диссертационная работа Нгуена Хуи Фука «Оптические свойства тонких пленок ОезЯЬзте и влияние на них легирующих примесей», соответствует специальности 01.04.10— физика полупроводников, по объему и уровню выполненных исследований, по научной и практической значимости полученных результатов и выводов отвечает требованиям ВАК, предъявляемым к кандидатским диссертациям, а ее автор Нгуен Хуи Фук заслуживает присуждения ученой степени кандидата физико-математических наук по специальности 01.04.10— физика полупроводников. 22.10.2014 Чл.-корр.

РАН, профессор, д.ф.-м.н., заведующий лабораторией Федерального государственного бюджетного учреждения науки Институт химии твердого тела Уро Российской академии наук, ул. Первомайская 91, 620990 Екатеринбург, тел. (343) 374 73 06, е-ша11: геш еаза)11тпплпап.гп Ремпель А.А. Подпись Ремпеля Андрея А Ученый секретарь ИХТТ У доктор химических наук Ж Я+,е";, г' . Денисова Т. А. .