Неофициальный отзыв 2 (Оптические свойства тонких пленок Ge2Sb2Te5 и влияние на них легирующих примесей)
Описание файла
Файл "Неофициальный отзыв 2" внутри архива находится в папке "Оптические свойства тонких пленок Ge2Sb2Te5 и влияние на них легирующих примесей". PDF-файл из архива "Оптические свойства тонких пленок Ge2Sb2Te5 и влияние на них легирующих примесей", который расположен в категории "". Всё это находится в предмете "физико-математические науки" из Аспирантура и докторантура, которые можно найти в файловом архиве НИУ «МЭИ» . Не смотря на прямую связь этого архива с НИУ «МЭИ» , его также можно найти и в других разделах. , а ещё этот архив представляет собой кандидатскую диссертацию, поэтому ещё представлен в разделе всех диссертаций на соискание учёной степени кандидата физико-математических наук.
Просмотр PDF-файла онлайн
Текст из PDF
ОТЗЫВ на автореферат диссертации Нгуен Хуи Фук «Оптические свойства тонких пленок бе23Ь2Те5 и влияние на них легирующих примесей», представленной на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук по специальности 01.04.10 — «Физика полупроводников» В настоящее время большое внимание уделяется созданию новых и улучшению характеристик уже существующих элементов памяти.
В связи с этим большой интерес вызывают работы по созданию устройств энергонезависимой фазовой памяти на основе тонких пленок Ое2ЯЬ2Те5, Таким образом, тема диссертационной работы Нгуен Хуи Фук, посвященная экспериментальным исследованиям влияния легирующих примесей на оптические характеристики и выявлению эффективных методов управления свойствами тонких пленок ОЗТ225, без сомнения является актуальной.
Особый интерес представляет разработанная в диссертационной работе модель экспериментальной структуры на основе тонких пленок ОЯТ225, легированных висмутом, оловом и индием, адекватно описывающая спектральные зависимости оптических констант. Новизна результатов работы не вызывает сомнений, так как большинство из них получены впервые с использованием оригинальных методик и подходов. Положения, выносимые на защиту, сформулированы достаточно лаконично и понятно.
К достоинствам работы следует также отнести существенную практическую значимость результатов, которые прошли достаточную апробацию на конференциях и нашли отражение в 8 статьях в журналах из списка, рекомендованного ВАК. В качестве недостатка работы необходимо отметить следующее: из автореферата не ясно, проводилось ли в диссертации исследование режимов термического отжига для получения кристаллических пленок ОБТ225 и насколько оптимальным является отжиг при температуре 170 ~ 1'С в течение 5 часов в инертной атмосфере (Аг).
Тем не менее, указанный недостаток не снижает ценности диссертационной работы, а ее автор Нгуен Хуи Фук заслуживает присуждения ученой степени кандидата физико-математических наук по специальности 01.04.10 «Физика полупроводников».
доктор технических наук, профессор кафедры конструирования и производства электронной аппаратуры Калужского филиала ФГБОУ ВП «МГТУ им. Н.Э. Баумана» Андреев Владимир Викторович Место работы: 248000, Россия, г. Калуга, ул. Баженова, д. 2, Калужского филиала ФГБОУ ВПО «Московский государственный технический университет имени Н.Э.
Баумана», каф. ЭИУ1-КФ Тел. (4842) 57-81-88 Эл. почта: ,.;~'.:: ...,'.' ' ""эь,, Подпись Андреева В.В. заверяю»«':,,': ... Ученый секретарь совета Калужского филиала ФГБОУ В «МГТУ им. Н.Э. Баумана» М.И.Морозенко .