Неофициальный отзыв 1 (Оптические свойства тонких пленок Ge2Sb2Te5 и влияние на них легирующих примесей)
Описание файла
Файл "Неофициальный отзыв 1" внутри архива находится в папке "Оптические свойства тонких пленок Ge2Sb2Te5 и влияние на них легирующих примесей". PDF-файл из архива "Оптические свойства тонких пленок Ge2Sb2Te5 и влияние на них легирующих примесей", который расположен в категории "". Всё это находится в предмете "физико-математические науки" из Аспирантура и докторантура, которые можно найти в файловом архиве НИУ «МЭИ» . Не смотря на прямую связь этого архива с НИУ «МЭИ» , его также можно найти и в других разделах. , а ещё этот архив представляет собой кандидатскую диссертацию, поэтому ещё представлен в разделе всех диссертаций на соискание учёной степени кандидата физико-математических наук.
Просмотр PDF-файла онлайн
Текст из PDF
Акттальность дисссртаннонной работы И~~сна Х. Ф. СВЯзайа с тем, что Она посвя$псна Исследованию алняния лспцзъйнййх примесей (В1, Ь. Япу на Оптйчсскйс свОЙстаа ГОйких плсйОк бс„.ЯЬ~Хс~ (бЯ'225), примснасмых а устройствах фазовой паматй (ФП). Дйсссртантом проделай болыпой Обьсм зкспсрнмейтальной работы й пол~чей ряд Интересных научных результатоа, Впервые предлоятсн подход к Опрсделснн~о й Онснке Влйяййя лсснрованйа прймссями на оптйчсский контраст пленок 6Я'225. )то Ва:кный Оптнчсский парам~» матсрнала ФИ, крйтйчйый для работы Оптйчсскйх дйсков разлйчных форматоа, йапрймср, ОЪ'О+ЙФ, В1ц-йау. Вамщм достоинством днсссртацни является впервые разработаййаа двухслОЙИВЯ модель зкспсрймсйтальйой стрткт~ры (первый слон — пленка ба; Второй слои — смесь 95% бЯ' й 5"~~ воздуха~ на Основе тойкйх пленок 65Т225, лстнроаанйых Вйсмттом, ОЛО~~М й ийдйем, которая адекватно Опнсыааст спектральные заВйсймости Оптнчсских кОистант.
Работа„несомненно, Имеет табаке Вакйое практическое значсийс, поскольк~' иапраВлсна на совершенствование тсхноло$ нй ФП. результаты лйсссртанйойной работы ИО йзмсисйй~о О~ттйчсското контраста мо~~п использованы прй разработке состааоа активной Областй для Оптйчсскйх лйскоа хранснйя ийформапйй йа Основе матсрйалоа Ос-ЪЬ Гс. Автореферат дисссртаннй йапйсан научным, чсткйм соотаетствйй с трсбоаанйами ИАК й полностью Отра~каст характер й содержание дйсссртацйн. НФфчная ИОВизна, акт~альиость, прак Гнчсская значимость й Обоснованность зипищасмь$х положений ис Вызывают СОМ ИСПИ Н.
Можно отметить следующие замечания по автореферату. Тнмошенков СХ1. ,Я~.,~б. 804Фт, Д.т.н., проф. Зав, каф, «Микроэлектроники» НИУ МИЭТ ~м~'"'М~,, Подпись Тим~фе~1кёва С,"ц,:: зай~яю: ученый секр~та~1ь1~~1~к~~;КГ;,':. ~ " 'д~4~ Ларионов Н.М. Почтовый адресе: 124498, Москва, Зеленоград, проезд 4806, д.
5. Телефон: +79055055449 Е-та11: зр1111фгпа11.ги 1. Автором предложена двухслойная модель тонких пленок, описывающая спектральные зависимости оптических констант, Однако из автореферата не ясно, почему выбран именно такой состав второго слоя- смесь 95% ОЯТ и 5% воздуха. 2. В автореферате диссертации имеются опечатки и орфографические ошибки. Качество некоторых рисунков в невысокое, подписи на рисунках мелкие и плохо различимые. Перечисленные недостатки не снижают общей положительной оценки диссертационной работы Нгуена Х.Ф, Судя по автореферату, диссертация, несомненно, удовлетворяет всем положениям ВАК, является законченным научным исследованием, а ее автор Нгуен Хуи Фук заслуживает присуждения искомой ученой степени кандидата физико-математических наук по специальности 01,04,10 — «Физика полупроводников».
.