Сведения о ведущей организации (Разработка методики определения содержания водорода в материалах с использованием закономерностей ядерного обратного рассеяния протонов)
Описание файла
Файл "Сведения о ведущей организации" внутри архива находится в папке "Разработка методики определения содержания водорода в материалах с использованием закономерностей ядерного обратного рассеяния протонов". PDF-файл из архива "Разработка методики определения содержания водорода в материалах с использованием закономерностей ядерного обратного рассеяния протонов", который расположен в категории "". Всё это находится в предмете "технические науки" из Аспирантура и докторантура, которые можно найти в файловом архиве МАИ. Не смотря на прямую связь этого архива с МАИ, его также можно найти и в других разделах. , а ещё этот архив представляет собой кандидатскую диссертацию, поэтому ещё представлен в разделе всех диссертаций на соискание учёной степени кандидата технических наук.
Просмотр PDF-файла онлайн
Текст из PDF
Сведения о ведущей организации Приложение 1 Полное наименование организации Сокращенное наименование организации Место нахождения Почтовый ~срес организации с указанием индекса Телефон с указанием кода города Адрес электронной почты Адрес официального сайта в сети «Интернет» Уполномоченный Должность Ученая степень Ученое звание Список основных публикаций работников ведущей организации по теме диссертации в рецензируемых научных изданиях за последние 5 лет (не более 15 публикаций) Федеральное государственное автономное образовательное учреждение высшего образования «Национальный исследовательский технологический университет «МИСиС» НИТУ «МИСиС» Ленинский проспект, д.
4, 119049, г. Москва Ленинский проспект, д. 4, 119049, г. Москва +7 495 955-00-32 яузяа, яящ Ьпр:7ччччч.ппяз.ги Филонов Михаил Рудольфович Проректор по науке и инновациям д.т.н. профессор 1 Р?1?рроч М.Ь?., Оачг?1е~йо У.Р., Мйуа1сЫуаеч У.В., В.а?соч АХ., Тос?иа Р.А. Ь)оче1 ше?Ьос? Гог с1ппепяопа1 шеазпгешеп?з оГ папоге1?е? е1ешеп?з Ьазес? оп е1ес?гоп ргоЬе с?е?осцяп8 ?п а зсапп?п8 е1есггоп ппсгозсоре 7 Меазигешепс Яс?епсе апс? ТесЬпо1о8у. 2014. Уо1. 25. Ь?о 4,. Р.
044088 (11 рр) 2 У Ь? Ьес?печ, М Ь? И??рроч, А Г Вип?с?п апс1 Я М РегзЬ1п, ?.азег аЫас?оп сошрапзоп Ьу р?созесопс? рп1зез сга?п апс? папозесопс1 ри?зе 7 Ьазег РЬуясз Ьепегз, 2015, чо1. 12 (12), рр.126001; 3 Тшшг А. ЬаЬийп, Уая!у ?ч?. Ьес?печ, А1ехеу А. 11уш апс? Апс1геу М. Ророч, Гешсозесопс? 1азегшс?псес? Ьгеа?сс?оччп зрес1гозсору ?? Ь Апа!. АЬ Ярессгош., 2016, чо1. 31 (1), рр. 90-118; 4 ВехЬапоч Я.О., ?Эап?1оч Р.Ь?., ?опш А.А., Кис?гуазЬоч Я.?., Ьес?печ У.?ч?., РегзЬ?п о.М., Вас?еп?со А.А., Яагаеча ?.Ь?., Яе1ехпеч Ь,У., БипсЬп8азЬеча Е.Б., ??гуирш Б.А., Лауагпу Р.А., ?х?оп-1шеаг шсгеазе апс? зашгайоп оХ ?Ь?п?-Ьаппоп?с у1е1Й ?гош ьпррог?ес1 я1чег панов?гпс?пгез ехсйес1 Ьу ?Рс Гешсозесопс1 1азег рп1зез 0 Ьазег РЬуясз Ьегсегз, 2016, чо1.
13 (3), рр. 035302; 5 У.?ч1. Ьес?печ, МХа. Ог?зЬ?п, Я.М. РегзЬ?п, апс1 А.Г. Впп?с1п, ОиапЫуш8 Влшап ОН-Ьапс? зрес1га Гог гешо?е тчасег Сешрегаспге ше азате шепсз д Орйсз Ье??егз, 201б, чо1. 41, рр.4625-4628; 6 Серегина Е.В., Степович М.А., Макаренков А.М., Филиппов М.Н. О некоторых проблемах моделирования распределения не основных носителей заряда, генерированных электронным пучком в полупроводниковом материале,, Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования.
2016. № 4. с. 88-93; 7 Кузин А. Ю., Васильев А. Л., Карабанов Д. А., Митюхляев В. Б., Михуткин А. А., Пресняков М. Ю., Тодуа П. А., Филиппов М. Н. Экспериментальные исследования трехмерной реконструкции рельефных структур по стереоизображениям,полученным в растровом электронном микроскопе. Измерительная техника. 2016. №8. С. 21-24; 8 Фатюшина Е.В., Сысоев А.А., Сильников Е.Е., Сысоев А.А., Филиппов М.Н. Способы минимизации погрешностей определения изотопных отношений в лазерной масс- спектрометрии.
Журнал аналитической химии. 2016. Т. 71. №5. С. 524-532; 9, Кузин А.Ю., Степович М.А., Митюхляев В.Б., Тодуа П.А., Филиппов М.Н. Тепловые эффекты при низковольтном электронно-зондовом рентген оспектральном микроанализе с ианом етров ой локальностью. Измерительная техника. 2016. №10. С. 27-29; 10 Амрастанов А.Н., Гинзгеймер С.А., Степович М.А, Филиппов М.Н.
Об одной возможности математического моделирования теплового воздействия остро сфокусированного электронного пучка на однородный полупроводник, Известия РАН. Серия физическая. 2016. Т. 80. № 10. С. 1448-1452; 11 Васильев А.Л., Митюхляев В.Б., Михуткин А.А., Тодуа П.А., Филиппов М.Н. Оценка составляющей систематической погрешности рентгеноспектрального микроанализа, обусловленной поверхностным рельефом образца.
Заводская лаборатория. Диагностика материалов. 2016. Т. 82. № 12. С. 15-18; 12 Киртаев Р.В., Кузин А.Ю., Маслов В,Г., Митюхляев В.Б., Тодуа П.А., Филиппов М.Н. Калибровка растровых электронных микроскопов в широком диапазоне увеличений., Измерительная техника. 2016. № 12. С. 7-10. 13 Еськина В.В., Дальнова О.А., Турсунов Л.Х., Барановская В.Б., Карпов КЭ.А. Определение натрия в высокочистом графите методом электротермической атомно-абсорбционной спектрометрии высокого разрешения и иепре ывным источником спектра ! Заводская лаборатория.
Диагностика материалов, 2016, № 1, с. 5-7; 14 Н. А. Жау1апй, Б. Х. Вошу, В. Р. СЬЬегп', А. Вгапй1, М. А. Ргов1аппш, У. А. И11сЫг1па, У. Р. ХЬагоч, А. К. В1г1в, апй А. ЯювЬ, Айчапсей се11ы1огйс шагег1а1в Гог ггеагтепг апй йегесгюп. СЬепыггуЯе1есг, 1(15):4472-4488, 2016; 15 К. Т1вЬсЬеп1со, М. Мцгаго~а, О. УоПгоч, У. И11сЫг1па, О. Хейояе)йп, Ч. ЛЬвго~, апй М.
Ргойигп1п. Ми111-ваче1еп8гЬ гЬеппа1-1епв вресггогпеггу Гог Ь18Ь-ассигасу шеаапгешепгя оГ аЬаогр1МГ1ез апй циап1шп у1е1й оХ рЬо1ойедгайаг1оп оГ а Ьепюрго1е1п-11р1й сош 1ех. АгаЬ1ап 7опгпа1 оГСЬеппвггу, 2016. Исп. В.А. Филичкина +7 (916) 905 70 23 .
