Отзыв 5 (Моделирование процессов возбуждения рентгеновского излучения при взаимодействии киловольтных электронов с конденсированным веществом)

отзыв на автореферат Широковои Екатерины Васильевны «Моделирование процессов возбуждения рентгеновского излучения при взаимодействии киловольтных электронов с конденсированным веществом». представленной к защите на соискание ученой степени кандидата физико-математических наук по специальности О!.04.07 — физика конденсированного состояния Диссертационная работа Широковой В.В, посвящена моделированию процессов возбуждения рентгеновского характеристического излучения 1РХИ) в твердом теле при воздействии высокоэнергетического электронного пучка. Основной целью работы является развитие и разработка единого подхода к расчету матричных поправок при количественном рентгеноспектральном микроанализе (КРСМА) для широкого диапазона зле~СИТ~~.

точность Определения этих попра~ок крайне Важна, поскольку сущсстВснно влияет на достойсрность получаемых данных при микрознализе. Метод рентгеноспектрального микроанализа получил широкое распространение благодаря быстроте, удобству, неразрушающему характеру анализа и возможности полной автоматизации. Применение высокоточного метода КРСМА при исследовании материалов открывает новые перспективы для изучения сложных многокомпонентных систем и определения их состава В облас~~х п~р~д~~ ~ли~~о микрометра в диапазоне концентраций От 0.01 "~> (в некоторых случаях даже ниже — 0.005'Ъ) до 100',4 посредством анализа РХИ.

Существующие в настоящее время полуэмпирические и эмпирические методики расчета матричных поправок (ХАГ-методики, и-коррекция и т.п.) на атомный номер, поглощение„обратное рассеяние электронов мишени, на торможение и Вто1эичную флуОрссцснцию, нс позволяют проВОдить расчеты интенсивностей РХИ многих элементов с достаточно высокой точностью, пОскольку до сих пор ОтсутстВует сдиная модель описания функции распределения РХИ по массовой толщине д Гря) исследуемых образцов.

В результате„ точность анализа зависит от выбранной аппроксимационной модели. Иа основании сказанного выше, разработка новой универсальной модели распределения РХИ по массовой толщине д ~р~), учитываюгцей основные закономерности Взаимодействия ну~к~ электронов с веществом, является несомненно актуальной в фундаментальном плане научной задачей. Оценивая научную новизну диссертации Широковой В.В., можно уверенно констатировать, что В работе получен ряд новых результатов. ')то, во-первых, новые вы ажения для расчета матричных поправок на поглощение РХИ и на Обратное рассеяние электронов, Г~олученныс на Основс Определения и детального описания взаимодействия киловольтных электронов с конденсированным веществом, Во-вторых, количественная о енка новых поп авок, которая показала хорошее соответствие расчетных и экспериментальных данных для широкого круга ЭЛЕМЕНТОВ.

Полученные в диссертационной работе результаты являются весьма цеййымй й дают Осйоваййе йадеяться, что йовые матрйчйые поправкй будут использованы в программном обеспечении микроанализаторов в растровой электронной микроскопии и рентгеноспектральном микроанализе. )то сугцественно повысит эффективность количественного описания информативных сигналов (йнйлилшческ~~ линий)„при йсследоваййях мнОГОкомпОнентных материалОВ, проВодимых с ИОмОщью хОрошо сфокусированных электронных пучков, что составляет практическую значимость работы. При прочтении автореферата каких-либо серьезных недостатков мною не обнаружено.

Он в целом написан логично, хорошим языком, содержит большоЙ теоретическиЙ материал, а также сопоставление результа~ов расчетов с большим массивом экспериментальных данных, имеющихся в литературе. Вместе с тем, возникают вопросы, ответы на которые могут имет~ достаточно важное значение, а именно: ! . Как в новом аналитическом выражении распределения РХИ по массовой толщине д ~р~) ведется учет изменения величины тормозной способности для мйогокомпойейтйоЙ сйстемы в локальйОЙ мйкроооластй по глубйне. 2.

На стр.1 автореферата сказано: «КРСМА позволяет определять содержания (правильно — содержание) элементов от Ве по 1.1». Однако, далее по тексту: «от В по 11» 1стр. 2,4,13). Следует уточнить, какую нижнкяо границу применимости имеет метод КРСМА". Он применим для элемейтов с атомным йОмером более 4-х 1бериллиЙ) илй 5-и (бор)2 По-видимому, на стр. 1 сделаны опечатки. В качестВе замечания следует Отметить неточность в фОрмулироВке некоторых выражений, например, на стр. 12 сказано: «Новые поправки....показывают один из лучших результатов погрешности».

Следовало бы указать, какой конкретно лучший результат погрешности на исследоваййых сйстемах получей авт~ро~ В диссертацйонной работе. Более тОго, для уоедйтельйОстй разработанного подхода логично было бы провести сравнение результатов погрешности при расчете матричных поправок изученных систем известными в литературе методами с результатами„пОлученными с ИОмОщью НОВОГО разраООтаннОГО автором метода расчета.

Разумеется, высказанные вопросы и замечания ни в коей мере не снижают ценности полученных результатов и не влияют на общую положительную оценку работы Е.В. Широковой. Диссертационная работа Широковой Е.В. является самостоятельной завершенной научно-исследовательской квалификационной работой, решающей ряд актуальных задач, связанных с изучением процессов неупругого взаимодействия высокоэнергетического электронного пучка с веществом, и содержит новые и ценные результаты. Широкова Е.В. является автором и соавтором статей в весьма солидных изданиях.

В целом, диссертационная работа Широковой Екатерины Васильевны по научной новизне, актуальности, обьему и обоснованности научных результатов отвечает требованиям ВЛК РФ, предъявляемым к диссертациям на соискание ученой степени кандидата наук. Работа соответствует критериям п.9-14 «! !оложения о порядке присуждения ученых степеней»„утвержденного постановлением правительства РФ от 24.09.2013 Х 842„ а Широкова Екатерина Васильевна заслуживает присуждения ей ученой степени кандидата физико-математических наук по специальности 01.04,07 Физика конденсированного состояния. Дак) согласие на обработку своих персональных данных.

Заведующая лабораторией морфологии полимеров Института высокомолекулярных соединений РАН, доктор физико-математических наук Татьяна Евгеньевна Суханова 3 ноября 2016 г. Федеральное государственное бюджетное учреждение науки Институт высокомолекулярных соединений Российской академии наук 199004 Санкт-1!етербург, Вл). Ьольнюй проспект, д. 31 Телефон: 8(812)328-85-03, Факс: 8(812)328-68-69 'Злектронная почта: хе!ппс~ьйпслпасго.ги 102.00.06 - Высокомолекулярные соединения) Подпись Сухаиавой Т.Е. заверяю я13~ 3'»; ~ ~ „,"~'~' ваяя,/ Ф4".~4-'Ф'~~~ф~-'~,' л . в у ',~', ф".,~"р,д.'гг~~'1М= .