rpd000007858 (211000 (11.03.03).Б6 Информационные технологии проектирования радиоэлектронных устройств)
Описание файла
Файл "rpd000007858" внутри архива находится в следующих папках: 211000 (11.03.03).Б6 Информационные технологии проектирования радиоэлектронных устройств, 211000.Б6. Документ из архива "211000 (11.03.03).Б6 Информационные технологии проектирования радиоэлектронных устройств", который расположен в категории "". Всё это находится в предмете "вспомогательные материалы для первокурсников" из 1 семестр, которые можно найти в файловом архиве МАИ. Не смотря на прямую связь этого архива с МАИ, его также можно найти и в других разделах. Архив можно найти в разделе "остальное", в предмете "вспомогательные материалы для первокурсников" в общих файлах.
Онлайн просмотр документа "rpd000007858"
Текст из документа "rpd000007858"
Министерство образования и науки Российской Федерации
Федеральное государственное бюджетное образовательное учреждение высшего профессионального образования
Московский авиационный институт
(национальный исследовательский университет)
УТВЕРЖДАЮ
Проректор по учебной работе
______________Куприков М.Ю.
“____“ ___________20__
РАБОЧАЯ ПРОГРАММА ДИСЦИПЛИНЫ (000007858)
Физические основы микро- и наноэлектроники
(указывается наименование дисциплины по учебному плану)
Направление подготовки | Конструирование и технология электронных средств | |||||
Квалификация (степень) выпускника | Бакалавр | |||||
Профиль подготовки | Информационные технологии проектирования радиоэлектронных устройств | |||||
Форма обучения | очная | |||||
(очная, очно-заочная и др.) | ||||||
Выпускающая кафедра | 404 | |||||
Обеспечивающая кафедра | 408 | |||||
Кафедра-разработчик рабочей программы | 44-4 | |||||
Семестр | Трудоем-кость, час. | Лек-ций, час. | Практич. занятий, час. | Лаборат. работ, час. | СРС, час. | Экзаменов, час. | Форма промежуточного контроля |
3 | 108 | 26 | 12 | 12 | 58 | 0 | 0 |
4 | 72 | 18 | 0 | 16 | 11 | 27 | Э |
Итого | 180 | 44 | 12 | 28 | 69 | 27 |
Москва
2011 г.
РАБОЧАЯ ПРОГРАММА ДИСЦИПЛИНЫ
Разделы рабочей программы
-
Цели освоения дисциплины
-
Структура и содержание дисциплины
-
Учебно-методическое и информационное обеспечение дисциплины
-
Материально-техническое обеспечение дисциплины
Приложения к рабочей программе дисциплины
Приложение 1. Аннотация рабочей программы
Приложение 2. Cодержание учебных занятий
Приложение 3. Прикрепленные файлы
Программа составлена в соответствии с требованиями ФГОС ВПО по направлению подготовки 211000 Конструирование и технология электронных средств
Авторы программы :
Шишкин Г.Г. | _________________________ |
Заведующий обеспечивающей кафедрой 408 | _________________________ |
Программа одобрена:
Заведующий выпускающей кафедрой 404 _________________________ | Декан выпускающего факультета 4 _________________________ |
-
ЦЕЛИ ОСВОЕНИЯ ДИСЦИПЛИНЫ
Целью освоения дисциплины Физические основы микро- и наноэлектроники является достижение следующих результатов образования (РО):
N | Шифр | Результат освоения |
1 | Иметь представление об основных характеристиках и принципах работы гидрогазовой системы и основных функциональных систем ЛА, использующих гидропривод. |
Перечисленные РО являются основой для формирования следующих компетенций: (в соответствии с ФГОС ВПО и требованиями к результатам освоения основной образовательной программы (ООП))
N | Шифр | Компетенция |
1 | ПК-1 | Способен представить адекватную современному уровню знаний научную картину мира на основе знания основных положений, законов и методов естественных наук и математики |
2 | ПК-2 | Способностью выявить естественно научную сущность проблем, возникающих в ходе профессиональной деятельности, привлечь для их решения соответствующий физико-математический аппарат |
3 | ПК-3 | Готов учитывать современные тенденции развития электроники, измерительной и вычислительной техники, информационных технологий в своей профессиональной деятельности |
4 | Владеет методами оценки основных технических характеристик проектируемого изделия. |
-
СТРУКТУРА И СОДЕРЖАНИЕ ДИСЦИПЛИНЫ
Общая трудоемкость дисциплины составляет 5 зачетных(ые) единиц(ы), 180 часа(ов).
Модуль | Раздел | Лекции | Практич. занятия | Лаборат. работы | СРС | Всего часов | Всего с экзаменами и курсовыми |
Физические основы микро и наноэлектроники. Часть 1 | Физические явления и процессы в полупроводниковых микроэлектронных структурах | 4 | 2 | 0 | 2 | 8 | 108 |
Контактные явления в микроэлектронных структурах | 8 | 4 | 8 | 8 | 28 | ||
Полупроводниковые диоды. | 0 | 0 | 4 | 2 | 6 | ||
Биполярные интегральные схемы | 8 | 2 | 0 | 2 | 12 | ||
Интегральные микросхемы на базе полевых транзисторов | 6 | 4 | 0 | 44 | 54 | ||
Физические основы микро и наноэлектроники. Часть 2 | Фотоэлектрические эффекты в полупроводниках и электрических переходах. | 8 | 0 | 16 | 11 | 35 | 72 |
Перспективные направления в микроэлектронике | 10 | 0 | 0 | 0 | 10 | ||
Всего | 44 | 12 | 28 | 69 | 153 | 180 |
-
Содержание (дидактика) дисциплины
В разделе приводится полный перечень дидактических единиц, подлежащих усвоению при изучении данной дисциплины.
1. Физические явления и процессы в полупроводниковых микроэлектронных структурах
- 1.1. Свободные носители заряда в собственных и примесных полупроводниках.
- 1.2. Статистика носителей заряда. Основные и неосновные носители.
2. Контактные явления в микроэлектронных структурах
- 2.1. Электрические переходы
- 2.2. Электронно-дырочный переход в неравновесном состоянии
- 2.3. Вольтамперная характеристика идеализированного p-n – перехода,
- 2.4. Вольтамперная характеристика реального p-n перехода
3. Полупроводниковые диоды
- 3.1. Виды диодов
4. Биполярные интегральные схемы
- 4.1. Физика биполярных транзисторов
- 4.2. Характеристики и параметры биполярного транзистора.
- 4.3. Статические вольтамперные характеристики.
5. Интегральные микросхемы на базе полевых транзисторов
- 5.1. Физика полевого, МДП и МОП транзисторов.
- 5.2. Статические характеристики и параметры МОП транзисторов.
6. Фотоэлектрические эффекты в полупроводниках и электрических переходах
- 6.1. Механизмы поглощения света в полупроводниках. Фотовольтаический и фотогальванический эффекты.
- 6.2. Фотоприемные и фотоизлучающие приборы. Элементы интегральной оптоэлектроники.
7. Перспективные направления в микроэлектронике
- 7.1. Виды и классификация интегральных схем. Биполярные логические интегральные микросхемы:
- 7.2. Логические элементы интегральных микросхем на n-МОП и p-МОП структурах
- 7.3. Наноэлектронные приборы
- 7.4. Гетероструктуры. Нанотехнология и наноприборы.
- 7.5. Одноэлектроника. Спинтроника.
-
Лекции
№ п/п | Раздел дисциплины | Объем, часов | Тема лекции | Дидакт. единицы |
1 | 1.1.Физические явления и процессы в полупроводниковых микроэлектронных структурах | 2 | Основные понятия физики полупроводников | 1.1 |
2 | 1.1.Физические явления и процессы в полупроводниковых микроэлектронных структурах | 2 | Электрофизические свойства полупроводников | 1.1, 1.2 |
3 | 1.2.Контактные явления в микроэлектронных структурах | 2 | Электрические переходы. . р-п переход в равновесном состоянии | 2.1 |
4 | 1.2.Контактные явления в микроэлектронных структурах | 2 | р-п переход в неравновесном состоянии | 2.2 |
5 | 1.2.Контактные явления в микроэлектронных структурах | 2 | Свойства р-п перехода | 2.3 |
6 | 1.2.Контактные явления в микроэлектронных структурах | 2 | Диоды | 2.3 |
7 | 1.4.Биполярные интегральные схемы | 4 | Физика биполярных транзисторов | 4.1 |
8 | 1.4.Биполярные интегральные схемы | 2 | Параметры и характеристики биполярных транзисторов | 4.2 |
9 | 1.4.Биполярные интегральные схемы | 2 | Применение БП транзисторов в электронных схемах | 4.3 |
10 | 1.5.Интегральные микросхемы на базе полевых транзисторов | 2 | Физика полевых транзисторов | 5.1 |
11 | 1.5.Интегральные микросхемы на базе полевых транзисторов | 2 | Параметры и характеристики полевых транзисторов | 5.2 |
12 | 1.5.Интегральные микросхемы на базе полевых транзисторов | 2 | Полевые транзисторы интегральных схем | 5.2 |
13 | 2.1.Фотоэлектрические эффекты в полупроводниках и электрических переходах. | 2 | Действие света на полупроводники и электр. переходы | 6.1 |
14 | 2.1.Фотоэлектрические эффекты в полупроводниках и электрических переходах. | 2 | Фотоизлучающие приборы | 6.2 |
15 | 2.1.Фотоэлектрические эффекты в полупроводниках и электрических переходах. | 2 | Фотоприемные приборы | 6.2 |
16 | 2.1.Фотоэлектрические эффекты в полупроводниках и электрических переходах. | 2 | Элементы интегральной оптоэлектроники | 6.2 |
17 | 2.2.Перспективные направления в микроэлектронике | 2 | Интегральные схемы. Основные понятия | 7.1 |
18 | 2.2.Перспективные направления в микроэлектронике | 2 | Биполярные интегральные схемы. Логики | 7.1 |
19 | 2.2.Перспективные направления в микроэлектронике | 2 | Логические схемы на полевых транзисторах | 7.2 |
20 | 2.2.Перспективные направления в микроэлектронике | 2 | Фундаментальные ограничения микроминиатюризации | 7.3 |
21 | 2.2.Перспективные направления в микроэлектронике | 2 | Новые направления в микро и наноэлектронике | 7.4 |
Итого: | 44 |
-
Практические занятия
№ п/п | Раздел дисциплины | Объем, часов | Тема практического занятия | Дидакт. единицы |
1 | 1.1.Физические явления и процессы в полупроводниковых микроэлектронных структурах | 2 | Расчет концентрации электронов в типичных полупроводниках | 1.1 |
2 | 1.2.Контактные явления в микроэлектронных структурах | 2 | Расчет идеальной ВАХ р-п перехода | 2.3 |
3 | 1.2.Контактные явления в микроэлектронных структурах | 2 | Расчет реальной ВАХ перехода | 2.4 |
4 | 1.4.Биполярные интегральные схемы | 2 | Расчет характеристик биполярного транзистора | 4.3 |
5 | 1.5.Интегральные микросхемы на базе полевых транзисторов | 2 | Расчет параметров полевого транзистора | 5.2 |
6 | 1.5.Интегральные микросхемы на базе полевых транзисторов | 2 | Защита рефератов | 7.5 |
Итого: | 12 |
-
Лабораторные работы
№ п/п | Раздел дисциплины | Наименование лабораторной работы | Наименование лаборатории | Объем, часов | Дидакт. единицы |
1 | 1.2.Контактные явления в микроэлектронных структурах | Статические характеристики р-п перехода | Лаб. полупроводниковых приборов | 4 | 2.3 |
2 | 1.2.Контактные явления в микроэлектронных структурах | Динамические характеристики р-п перехода | Лаб. полупроводниковых приборов | 4 | 3.1 |
3 | 1.3.Полупроводниковые диоды. | Исследование полупроводниковых диодов | Лаб. полупроводниковых приборов | 4 | 3.1 |
4 | 2.1.Фотоэлектрические эффекты в полупроводниках и электрических переходах. | Исследование БП транзистора | Лаб. полупроводниковых приборов | 4 | 4.1 |
5 | 2.1.Фотоэлектрические эффекты в полупроводниках и электрических переходах. | Исследование полевого транзистора | Лаб. полупроводниковых приборов | 4 | 5.2 |
6 | 2.1.Фотоэлектрические эффекты в полупроводниках и электрических переходах. | Исследование действия света на р-п переход | Лаб. полупроводниковых приборов | 8 | 6.1 |
Итого: | 28 |
-
Типовые задания
№ п/п | Раздел дисциплины | Объем, часов | Наименование типового задания |
Итого: |
-
Курсовые работы и проекты по дисциплине
-
Рубежный контроль
-
Промежуточная аттестация
1. Экзамен (4 семестр)