Для студентов СПбГЭТУ им. Ульянова (Ленина) по предмету Методы исследования структуры в микроэлектроникеИзмерение толщины однородных изотропных пленок на однородных изотропных подложках методом поляризационно-интерференционной микроскопии видимого диапазИзмерение толщины однородных изотропных пленок на однородных изотропных подложках методом поляризационно-интерференционной микроскопии видимого диапаз
2023-04-082023-04-08СтудИзба
Измерение толщины однородных изотропных пленок на однородных изотропных подложках методом поляризационно-интерференционной микроскопии видимого диапазона
Описание
Цель Работы: исследование метода поляризационно-интерференционной микроскопии видимого диапазона для измерения толщин однородных изотропных пленок на однородных изотропных подложках.
Характеристики лабораторной работы
Учебное заведение
Семестр
Номер задания
Просмотров
1
Скачиваний
0
Размер
834,1 Kb
Список файлов
- ЛР№4.docx 834,1 Kb