Для студентов СПбГЭТУ им. Ульянова (Ленина) по предмету Методы исследования структуры в микроэлектроникеВольт-фарадный метод измерения концентрации и концентрационных профилей легирующей примеси в полупроводниковых структурахВольт-фарадный метод измерения концентрации и концентрационных профилей легирующей примеси в полупроводниковых структурах
2023-04-082023-04-08СтудИзба
Вольт-фарадный метод измерения концентрации и концентрационных профилей легирующей примеси в полупроводниковых структурах
Описание
Цель работы: Исследование концентрации и профиля концентрации примесей в структуре с объемным зарядом
Характеристики лабораторной работы
Учебное заведение
Семестр
Номер задания
Просмотров
1
Скачиваний
0
Размер
152,15 Kb
Список файлов
- ЛР№1.docx 152,15 Kb