Для студентов МГТУ им. Н.Э.Баумана по предмету ФизикаИнтерференция в тонких пленках. Определение геометрических параметров поверхностей прозрачных тел интерференционным методомИнтерференция в тонких пленках. Определение геометрических параметров поверхностей прозрачных тел интерференционным методом
4,855140
2022-09-142022-09-14СтудИзба
Интерференция в тонких пленках. Определение геометрических параметров поверхностей прозрачных тел интерференционным методом
Описание
Характеристики лабораторной работы
Предмет
Учебное заведение
Семестр
Номер задания
Вариант
Теги
Просмотров
13
Размер
8,87 Mb
Список файлов
O7.pdf
МГТУ им. Н.Э.Баумана
id588993908


















