Для студентов МГТУ им. Н.Э.Баумана по предмету ФизикаИнтерференция в тонких пленках. Определение геометрических параметров поверхностей прозрачных тел интерференционным методомИнтерференция в тонких пленках. Определение геометрических параметров поверхностей прозрачных тел интерференционным методом
4,95570
2013-08-202013-08-20СтудИзба
Интерференция в тонких пленках. Определение геометрических параметров поверхностей прозрачных тел интерференционным методом
Описание
Характеристики лабораторной работы
Предмет
Учебное заведение
МГТУ им. Н.Э.БауманаСеместр
Номер задания
Вариант
Теги
Просмотров
8209
Качество
Фото рукописных листов
Размер
4,65 Mb
Список файлов
IMG_0396.jpg
IMG_0397.jpg
IMG_0398.jpg
IMG_0399.jpg
IMG_0400.jpg
IMG_0401.jpg
IMG_0402.jpg
IMG_0403.jpg
IMG_0404.jpg
![Картинка-подпись](https://s.studizba.com/z.php?f=/uploads/fotos/podpt_2_43798.png&w=1632&h=400&t=1")
Зарабатывай на студизбе! Просто выкладывай то, что так и так делаешь для своей учёбы: ДЗ, шпаргалки, решённые задачи и всё, что тебе пригодилось.
Начать зарабатывать
Начать зарабатывать
zzyxel
20 августа 2013 в 00:44
![](https://s.studizba.com/z.php?f=/templates/si/i/noavatar.png&w=100&h=100&t=1"){kind=avatar}
