Для студентов МГТУ им. Н.Э.Баумана по предмету ФизикаИнтерференция в тонких пленках. Определение геометрических параметров поверхностей прозрачных тел интерференционным методомИнтерференция в тонких пленках. Определение геометрических параметров поверхностей прозрачных тел интерференционным методом
2021-11-102021-11-10СтудИзба
Интерференция в тонких пленках. Определение геометрических параметров поверхностей прозрачных тел интерференционным методом
Описание
Конспект, контрольные вопросы, экспериментальная часть
Файлы условия, демо
Характеристики лабораторной работы
Предмет
Учебное заведение
Семестр
Номер задания
Вариант
Теги
Просмотров
13
Качество
Скан рукописных листов
Размер
8,47 Mb
Список файлов
Комментарии
Нет комментариев
Стань первым, кто что-нибудь напишет!
МГТУ им. Н.Э.Баумана
pomnihoe

















