Для студентов МГТУ им. Н.Э.Баумана по предмету ФизикаИнтерференция в тонких пленках. Определение геометрических параметров поверхностей прозрачных тел интерференционным методомИнтерференция в тонких пленках. Определение геометрических параметров поверхностей прозрачных тел интерференционным методом
5,0057
2023-01-302023-01-30СтудИзба
Интерференция в тонких пленках. Определение геометрических параметров поверхностей прозрачных тел интерференционным методом
Описание
Выполненная лабораторная работа: О-7 (Измерение геометрических параметров поверхностей прозрачных тел интерференционным методом)
Файлы условия, демо
Характеристики лабораторной работы
Предмет
Учебное заведение
МГТУ им. Н.Э.БауманаСеместр
Номер задания
Вариант
Просмотров
107
Качество
Фото рукописных листов
Размер
10,26 Mb
Список файлов
20230130_163534.jpg
20230130_163541.jpg
20230130_163546.jpg
20230130_163552.jpg
20230130_163558.jpg
krylov_vladik
30 января 2023 в 17:47
Комментарии
Нет комментариев
Стань первым, кто что-нибудь напишет!
![](https://s.studizba.com/z.php?f=/templates/si/i/noavatar.png&w=100&h=100&t=1"){kind=avatar}
