Билеты 2009 (993805)

МЭИ(ТУ)

ЭКЗАМЕНАЦИОННЫЙ БИЛЕТ №1

Дисциплина: моделирование технологических

Процессов и компонентов электронной техники

Утверждаю:

Зав.

Кафедрой

ФЭМАЭК

1. Роль моделирования в разрешении современных противоречий НТП.

2. Особенности инверсных задач, решаемых на основе моделирования, и их место в современных исследованиях.

МЭИ(ТУ)

ЭКЗАМЕНАЦИОННЫЙ БИЛЕТ №2

Дисциплина: моделирование технологических

Процессов и компонентов электронной техники

Утверждаю:

Зав.

Кафедрой

ФЭМАЭК

1. Характеристика основных факторов, определяющих вероятность успеха в решении современных научно-технических задач.

2. Особенности индуктивных задач, решаемых на основе моделирования, и их место в современных исследованиях.

МЭИ(ТУ)

ЭКЗАМЕНАЦИОННЫЙ БИЛЕТ №3

Дисциплина: моделирование технологических

Процессов и компонентов электронной техники

Утверждаю:

Зав.

Кафедрой

ФЭМАЭК

1. Роль исторической преемственности знаний и нравственной позиции исследователя в получении значимого для общества результата.

2. Противоречивость задач, решаемых, решаемых современным полупроводниковым производством.

МЭИ(ТУ)

ЭКЗАМЕНАЦИОННЫЙ БИЛЕТ №4

Дисциплина: моделирование технологических

Процессов и компонентов электронной техники

Утверждаю:

Зав.

Кафедрой

ФЭМАЭК

1. Характеристика роли и особенностей первой, второй и третьей НТР.

2. Характеристика возможностей и целей экспериментального подхода к контролю и описанию свойств изготавливаемых КЭТ.

МЭИ(ТУ)

ЭКЗАМЕНАЦИОННЫЙ БИЛЕТ №5

Дисциплина: моделирование технологических

Процессов и компонентов электронной техники

Утверждаю:

Зав.

Кафедрой

ФЭМАЭК

1. Роль и значение содержательной и формальной составляющих теории и современной методологии в решении актуальных научно-технических задач.

2. Особенности подходов, используемых при описании свойств КЭТ различными системами параметров.

МЭИ(ТУ)

ЭКЗАМЕНАЦИОННЫЙ БИЛЕТ №6

Дисциплина: моделирование технологических

Процессов и компонентов электронной техники

Утверждаю:

Зав.

Кафедрой

ФЭМАЭК

1. Требования к специалистам и условиям, позволяющим создавать адекватные модели объектов исследования.

2. Применение методологии макроподхода для описания свойств КЭТ в виде n-полюсника.

МЭИ(ТУ)

ЭКЗАМЕНАЦИОННЫЙ БИЛЕТ №7

Дисциплина: моделирование технологических

Процессов и компонентов электронной техники

Утверждаю:

Зав.

Кафедрой

ФЭМАЭК

1. Возможность и необходимость организации «конкурса моделей» при исследовании сложных явлений.

2. Основные цели и возможности описания свойств КЭТ на основе системы статических параметров и ВАХ.

МЭИ(ТУ)

ЭКЗАМЕНАЦИОННЫЙ БИЛЕТ №8

Дисциплина: моделирование технологических

Процессов и компонентов электронной техники

Утверждаю:

Зав.

Кафедрой

ФЭМАЭК

1. Роль и ограниченные возможности теории подобия в создании адекватной модели исследуемого объекта различной степени сложности.

2. Основные цели и возможности описания свойств КЭТ на основе систем малосигнальных Z,Y и h – параметров.

МЭИ(ТУ)

ЭКЗАМЕНАЦИОННЫЙ БИЛЕТ №9

Дисциплина: моделирование технологических

Процессов и компонентов электронной техники

Утверждаю:

Зав.

Кафедрой

ФЭМАЭК

1. Отличительные черты четырех классов объектов моделирования.

2. Основные цели и возможности описания свойств КЭТ на основе систем эквивалентных схем.

МЭИ(ТУ)

ЭКЗАМЕНАЦИОННЫЙ БИЛЕТ №10

Дисциплина: моделирование технологических

Процессов и компонентов электронной техники

Утверждаю:

Зав.

Кафедрой

ФЭМАЭК

1. Основные определения и термины моделирования.

2. Характеристика ограниченных возможностей экспериментального подхода к контролю и описанию свойств КЭТ.

МЭИ(ТУ)

ЭКЗАМЕНАЦИОННЫЙ БИЛЕТ №11

Дисциплина: моделирование технологических

Процессов и компонентов электронной техники

Утверждаю:

Зав.

Кафедрой

ФЭМАЭК

1. Классификация моделей и видов моделирования.

2. Характеристика условий, обуславливающих использование микроподхода для моделирования объекта исследования.

МЭИ(ТУ)

ЭКЗАМЕНАЦИОННЫЙ БИЛЕТ №12

Дисциплина: моделирование технологических

Процессов и компонентов электронной техники

Утверждаю:

Зав.

Кафедрой

ФЭМАЭК

1. Характерные особенности процесса мысленного моделирования исследуемого объекта.

2. Методологические особенности микроподхода к построению модели объекта исследования.

МЭИ(ТУ)

ЭКЗАМЕНАЦИОННЫЙ БИЛЕТ №13

Дисциплина: моделирование технологических

Процессов и компонентов электронной техники

Утверждаю:

Зав.

Кафедрой

ФЭМАЭК

1. Характерные особенности процесса материального моделирования исследуемого объекта.

2. Возможные виды декомпозиции объекта исследования и их характерные особенности.

МЭИ(ТУ)

ЭКЗАМЕНАЦИОННЫЙ БИЛЕТ №14

Дисциплина: моделирование технологических

Процессов и компонентов электронной техники

Утверждаю:

Зав.

Кафедрой

ФЭМАЭК

1. Основные требования к процессу моделирования и создаваемой модели.

2. Различие во влиянии на уровень сложности модели объекта числа «входов» и «выходов».

МЭИ(ТУ)

ЭКЗАМЕНАЦИОННЫЙ БИЛЕТ №15

Дисциплина: моделирование технологических

Процессов и компонентов электронной техники

Утверждаю:

Зав.

Кафедрой

ФЭМАЭК

1. Принципиальные отличия методологически различающихся подходов к построению модели объекта исследования.

2. Представление об «оптимальном уровне сложности» декомпозированной модели объекта исследования.

МЭИ(ТУ)

ЭКЗАМЕНАЦИОННЫЙ БИЛЕТ №16

Дисциплина: моделирование технологических

Процессов и компонентов электронной техники

Утверждаю:

Зав.

Кафедрой

ФЭМАЭК

1. Характеристика условий, обуславливающих использование макроподхода при моделировании объекта исследования.

2. Физико-математическая основа, цели и возможности теоретического подхода к описанию свойств КЭТ.

МЭИ(ТУ)

ЭКЗАМЕНАЦИОННЫЙ БИЛЕТ №17

Дисциплина: моделирование технологических

Процессов и компонентов электронной техники

Утверждаю:

Зав.

Кафедрой

ФЭМАЭК

1. Обобщенный алгоритм действий при подготовке и решении проблемы на основе моделирования с использованием макроподхода.

2. Характерные особенности трех классов задач, решаемых в полупроводниковой электронике на основе теоретических моделей КЭТ.

МЭИ(ТУ)

ЭКЗАМЕНАЦИОННЫЙ БИЛЕТ №18

Дисциплина: моделирование технологических

Процессов и компонентов электронной техники

Утверждаю:

Зав.

Кафедрой

ФЭМАЭК

1. Требования к целям моделирования и границам объекта моделирования.

2. Области применения и классификационные признаки физико-математических моделей КЭТ разного уровня декомпозиции.

МЭИ(ТУ)

ЭКЗАМЕНАЦИОННЫЙ БИЛЕТ №19

Дисциплина: моделирование технологических

Процессов и компонентов электронной техники

Утверждаю:

Зав.

Кафедрой

ФЭМАЭК

1. Разделение «входов» и «выходов» объекта и его модели по возможности их изменять и контролировать.

2. Цели, возможности и ограничения моделей, рассматривающих полупроводниковые структуры КЭТ в качестве единого целого.

МЭИ(ТУ)

ЭКЗАМЕНАЦИОННЫЙ БИЛЕТ №20

Дисциплина: моделирование технологических

Процессов и компонентов электронной техники

Утверждаю:

Зав.

Кафедрой

ФЭМАЭК

1. Характеристика обязательных компонентов любой модели объекта (виды структур и параметров модели).

2. Цели, возможности и ограничения моделей, рассматривающих структуру КЭТ в виде отдельных областей со значительно различающимися свойствами.

МЭИ(ТУ)

ЭКЗАМЕНАЦИОННЫЙ БИЛЕТ №21

Дисциплина: моделирование технологических

Процессов и компонентов электронной техники

Утверждаю:

Зав.

Кафедрой

ФЭМАЭК

1. Взаимосвязь требований к моделям и тех «ловушек», которые ожидают исследователя, создающего модель объекта.

2. Основа, цели, возможности и ограничения моделей, описывающих свойства полупроводниковой структуры КЭТ в виде системы алгебраических уравнений.