Для студентов МГТУ им. Н.Э.Баумана по предмету ФизикаИнтерференция в тонких пленках. Определение геометрических параметров поверхностей прозрачных тел интерференционным методомИнтерференция в тонких пленках. Определение геометрических параметров поверхностей прозрачных тел интерференционным методом
4,64514
2020-05-222024-11-05СтудИзба
Интерференция в тонких пленках. Определение геометрических параметров поверхностей прозрачных тел интерференционным методом
Описание
Характеристики лабораторной работы
Предмет
Учебное заведение
Семестр
Номер задания
Вариант
Просмотров
245
Качество
Скан рукописных листов
Размер
3,72 Mb
Список файлов
лаба О-7.pdf
Комментарии
Нет комментариев
Стань первым, кто что-нибудь напишет!
МГТУ им. Н.Э.Баумана
alexbelkin















