Шпора (2) (1157913)

Просмтор этого файла доступен только зарегистрированным пользователям. Но у нас супер быстрая регистрация: достаточно только электронной почты!

Текст из файла

3.1 Какое физическое явление лежит в основе рентгеноструктурного анализа? Что представляет собой материальная субстанция, рассеивающая рентгеновские лучи?

Дифракция Х-лучей решеткой кристалла. Материальная субстанция – электроны (континуальное распределение электронной плотности)

3.2 Назовите основные способы получения дифракционной картины в рентгенографии.

1)Метод Лауэ (полихроматический) пучок разных по длине волн.

2)Метод вращения – кристалл движется во время эксперимента (меняются углы в уравнении Лауэ)

3)Метод порошка (дебаеграмма) – в порошке множество кристаллов в разных ориентациях. Найдется ориентация, где произойдет дифракция, все лучи одновременно накладываются.

3.3 Какие характеристики кристаллического вещества можно получить с помощью уравнений Лауэ?

a(cos1-cos1)=p, b(cos1-cos1)=q, c(cos1-cos1)=r,

a,b,c – параметры решетки

1,2,3 – углы, определяющие направление данного луча

1,2,3 – углы первичного пучка

p, q, r – индексы данного дифракционного луча.

3.4 Какие характеристики кристаллического вещества можно получить с помощью уравнения Брэгга-Вульфа?

2d_hklsin=n

n – порядок отражения

d – межплоскостное расстояние

 - угол падения луча

h,k,l – индексы серии узловых сеток

3.5Какие формулы выражает зависимость интен-

сивности дифракц. луча от крист. стр-ры? Что такое

“структурная амплитуда”?

I_hkl = kF_hkl^(эксп) ² F_hkl =  F_hkl e ^iD_hkl

_n

F_hkl ^(выч) =  f_j e^i2(hx_j^+ky_j^+lz_j⁾ * _j -учит.тепл.движение

^j=1

F_hkl =  (x,y,z) e^{i2(hx+ky+lz)} dv

^V0

_{+ }

(x,y,z) = 1/v₀  F_hkl e^{i2(hx+ky+lz)}

^{n k l}

^{- }

F - структурная амплитуда (компл. величина)

F  = амплитуда суммарного дифракц. луча.

выражается в электр. единицах.

f_j – функция атомного рассеяния, j – индекс атома,

N – число атомов в ячейке.

3.6 Что такое R-фактор(ф-р недостоверности) в РСА?

• величина,показ.насколько точно вычисл.стр-ра

соотв. реальной (чем точнее,тем меньше)

  F_hkl^(эксп)  -  F_hkl ^(выч) 

^nkl

R = ^{___________________________________________________}

  F_hkl^(эксп) 

^nkl

3.7 Какая формула распределения эл. плотности используетсяся в РСА? Какие хар-ки крист. в-ва извл. из этой ф-ии?

_{+ }

(x,y,z) = 1/v₀  F_hkl e^{-2(hx+ky+lz)}

^{n k l}

^{- }

Если известно F(-) то можно опр. (x,y,z) в

(x,y,z)  R³  положение всех макс.центров

“тяжести” электр.облаков атомов.

3.8 В чем сущность прямого статистического метода определения "начальных фаз" структурных амплитуд?

-требование неотрицательности эл. плотности. Если рассчет распределения эл. плотности использует произвольные значения фаз, то в каких-то местах эл. плотность окажется отрицательной. Требуется

подобрать фазу, чтобы в любой точке пр-ва эл. плотность не была отрицательной.

3.9 В чем состоит процедура уточнения кристалл.стр-рыв РСА?

В методе малых квадратов

  F_hkl^(эксп)  -  F_hkl ^(выч) 

^nkl

R = ^{___________________________________________________}

  F_hkl^(эксп) 

^nkl

R минимизируют. Ст-ся подогнать F_hkl^(эксп) и F_hkl^(выч),

При этом варьируют положение атомов и параметр тепл. эллипсоидов –станд. РСА. В прец. РСА еще варьируют электр. погр. Эл. погрешн. коэф. разл.fj мультиполя.

3.10 Почему стандартный рентгеноструктурный анализ не может дать адекватную информацию о функции распределения электронной плотности?

Потому что в ходе стандартного РСА используется формула стандартной амплитуды содержания f_i. А эти функции считаются табличными величинами, заранее известными и неучитывающими валентное состояние и симметрию атома. А прецизионный РСА уже их не использует их уточняют и получают адекватную картину электронной плотности.

3.11 Каково назначение и общие принципы устройства автоматического дифрактометра?

Монокристаллический дифрактометр. Осуществляет вращение кристалла вокруг различных осей так, чтобы кристалл мог иметь любую ориентацию и автоматически кристалл устанавливается в такое положение, что возникают вполне определенные лучи. Счетчик перемещается так, чтобы измерить и зарегистрировать интенсивность

2.Поликристалл. Полож.диф.конусов.Для РСА + сочет. инт.дифф.конусов дост.

3.12 Для какой цели используется рентгенофазовый анализ? В чем сущность этого метода?

- идентификация различных фаз в смеси на основе анализа дифрактограммы исследуемого образца (обычно порошка). Сначала снимается Дебаеграмма, потом рассчитываются межплоскостные расстояния. Вещество идентифицируется по набору d и I.

3.13 Какие дифракционные методы (кроме рентгенографии) используются для определения структуры кристаллов? В чем их преимущества и недостатки?

Нейтронография и электронография

Нейтронография – дифракция нейтронов (при определенной скорости)

Электронография – дифракция электронов.

Нейтронография позволяет определить положения ядер легких эл-тов. Недостатки – дорого и неудобно.

Мат. Субстации (эл-фия) – эл.стат. потенциал на ядр. и эл-нах

(не-фия) – распр. потенц. яд. сил.

3.14 Какое физическое явление лежит в основе нейтронографии и электронографии? на каких материальных объектах рассеиваются нейтроны и электроны?

Дифракция нейтронов и эл-нов соответственно (при опред. скорости).

Мат. Субстации (эл-фия) – эл.стат. потенциал на ядр. и эл-нах

(не-фия) – распр. потенц. яд. сил.

Характеристики

Тип файла документ

Документы такого типа открываются такими программами, как Microsoft Office Word на компьютерах Windows, Apple Pages на компьютерах Mac, Open Office - бесплатная альтернатива на различных платформах, в том числе Linux. Наиболее простым и современным решением будут Google документы, так как открываются онлайн без скачивания прямо в браузере на любой платформе. Существуют российские качественные аналоги, например от Яндекса.

Будьте внимательны на мобильных устройствах, так как там используются упрощённый функционал даже в официальном приложении от Microsoft, поэтому для просмотра скачивайте PDF-версию. А если нужно редактировать файл, то используйте оригинальный файл.

Файлы такого типа обычно разбиты на страницы, а текст может быть форматированным (жирный, курсив, выбор шрифта, таблицы и т.п.), а также в него можно добавлять изображения. Формат идеально подходит для рефератов, докладов и РПЗ курсовых проектов, которые необходимо распечатать. Кстати перед печатью также сохраняйте файл в PDF, так как принтер может начудить со шрифтами.

Список файлов ответов (шпаргалок)