Диссертация (1152200), страница 7
Текст из файла (страница 7)
Использование нанокристаллических защитных метокПроцессы идентификации изделийпредставляютсясущественнымидействиями по оценке качества и определения их существующими эталонамиилиустановленными требованиями, предусмотренными соответствующейдокументацией.В соответствии с терминологическим словарем термин "идентификация" (отлат identifico - отождествляю) - это утверждение соответствия параметровкачествапищевыхпродуктовипродовольственногосырьяпоказателям,установленным в нормативной и технической документации производителяпищевых продуктов или приведенным в информации об этих продуктах.Одновременно определение соответствия в данном случае пищевых продуктов ипродовольственного сырья в общем названии с методом сертификации.38Главнымицелямиидентификациивсовременныхусловияхпредставляется следующее:- создание главных понятий, структуры, нормативов и правил в областиидентификации товаров;- созданиеособыхмер, приидентификация однозначныхкоторыхобразцов,можетосуществлятьсяразновидностей и наименованийпродукции;- разработка документов в области технического регулирования, включаяновые технические регламенты и стандарты с указанием в них вопросовидентификации;- совершенствование методов идентификации товаров, которые позволятоперативным методом выявить разновиднуюпринадлежность товара смаксимально значительной степенью вероятности.Разработка новой техники, создание наукоемких технологий и новыхобразцов могут обеспечить существенные движения по организации структуры иповышении технического уровня различныхпроизводств.
Недостаточныйуровень качества защитных мер для продукции от подделок сдерживает доступотечественного производителя на международный уровень.В настоящее время уровень создания техники по сверхточным измерениямнесколько низок, отсутствуют необходимые методики прецизионных измерений,необоснованно медленно внедряются новые экологически чистые технологии впищевой промышленности.Максимальные возможности можно получить при определении длины внанометровомдиапазонесприменениемвысокоразрешающихметодикизмерений растровой электронной и сканирующей зондовой микроскопии вкомплексес лазерной интерферометрией и фазометрией при применениипервичного эталона.Идентификация может быть физической и документальной.
Физическаяидентификация(маркирование) состоит в нанесении идентификатора наотождествляемый предмет, тару или упаковку.39Долгое время проводятсяпроизводство высокого качестваприоритетныенаноразмерных коллоидных кристаллов изизвестных полупроводниковых материалов,определениеизыскания, нацеленные наэффекта размера, чтоих главной задачейбылосвязанно с квантовым удерживаниемэлектронов и дырок.В последнее времясозданияполученысущественныедостижениякристаллов, в спекроскопических изысканиях.в методахЭто создаловозможность построить новый вид устойчивых макромолекулярных структур слегко регулируемой энергией излучения.Такаятехнологияспособствовалазначительномурасширениюипроведению исследовательских работ по развитию оптоэлектроники.Одновременноприисследованияхвыяснилось,чтоколлоидныенанокристаллы можно применять в основе как флуоресцентные метки в опытахс биомаркировкой,являясь в настоящее время среди методов диагностики ивизуализации наиболее значительным и востребованным.В соответствии с некоторыми данными,основе защитных метокколлоидные нанокристаллы впревышают применяемыесегодня свойстваорганических красителей.Это положение дел, будет способствоватьбыстрой коммерческойреализации новейших нанотехнологий.Кроме того, в Российской Федерации решение задачи по созданию основметрологического обеспечения измерений длины в диапазоне 1-1000 нм былоосуществлено вследствие долговременных исследовательских работ.Трансляциядиапазонединицы длины от первичного эталона в нанометровыйосуществляетсяэталоннойтрехмернойлазернойинтерфе-рометрической системой измерений наноперемещений.Эталонная система, созданная на основе атомно-силового микроскопа(АСМ)оригинальнойконструкцииилазерныхинтерферометрическихизмерителей наноперемещений (ЛИИН), предназначена для измерения линейныхперемещений по трем координатам и калибровки мер и стандартных образцов,40используемых, в свою очередь, для калибровки измерительных системпотребителей.Диапазон области перемещений по осям Х и Y составляет 1-3000 нм, по осиZ - от 1 до 1000 нм.
Погрешность измерений перемещений по Х и Y составляет 0,5нм, по Z - от 0,5 до 3 нм. Диапазон смещений в области перемещений - до 100 нм.Непосредственное измерение наноперемещений в эталонной системеосуществляет лазерный интерферометрический измеритель наноперемещений.В его конструкции заложена комбинация методов интерферометрии ифазометрии. Три таких устройства, встроенные в эталонную трехмерную ЛИИН,выполняют измерения перемещений по трем координатам.Однако ЛИИН имеет и самостоятельное назначение, заключающееся визмерении линейных перемещений в реальном масштабе времени, в том числе вкалибровке систем сканирования и позиционирования в нанотехнологии, вхимическом машиностроении, легкой и пищевой промышленности, растровойэлектронной микроскопии.Интервал измерений перемещений составляет 1 нм-10 нм, дискретностьотсчета 0,1 нм.
Абсолютная погрешность измерений лежит в диапазоне 0,5 - 3 нмпри максимальном значении скорости перемещения 3 мм/с.В действительнойпрактике определения параметров объектов внанометровой области могут быть организованы с применениемрастровогоэлектронного микроскопа (РЭМ) и сканирующего зондового микроскопа (СЗМ),установленных у пользователя. Калибровка указанных сложных измерительныхприборов согласноэталонному образцу необходимо проводить помераммалой длины, выполненным в виде рельефных шаговых структур с заданнойшириной, высотой (глубиной) и формой профиля.Первостепенным условием при проведениилинейных измерений внанометровом диапазоне может быть получение определенных носителей поразмеру илимерес организованным нанорельефом поверхности, которыеобеспечивают калибровку средств измерений с максимальной точностью.41Трехмерные меры малой длины-материальные носители размера,позволяющие производить комплексную калибровку и контроль основныхпараметров РЭМ и СЗМ, предназначены для перевода этих сложных устройств изразряда устройств для визуализации исследуемого объекта в разряд средствизмерений, т.е.
в разряд приборов для измерений линейных размеров объектовисследования, обеспечивающих привязку измеряемых величин в нанометровойобласти к первичному эталону единицы длины - метру.Утверждение меры реализуется на эталонной ЗD интерферометрическойсистеме измерений нанопередвижений. Утверждается мера по длине шага иразмерам в максимальных и минимальных выступов (ширина линии), а также повысоте (глубине) поверхности.Одновременно, в случаи надобности, доказательства точности измеренийдопустимконтроль показателей РЭМнапрямую в алгоритме проведенияизмерений величин изучаемого образца, что будетдобавочнымпоказателеммаксимального качества измерений.Мера разрешаетбез трудностей создать автоматизированные системылинейных измерений и формироватьна базеРЭМсовременныеавтоматизированные экспериментальные измерительные установки.
В настоящеевремя уже имеются и функционируют подобные комплексы и установки.1.7. Двумерные многослойные структуры из пленок нанометровой толщиныс включением нанокристаллическихзащитных метокПри рассмотрении нормируемых национальными стандартами методовспектральной идентификации,анализируют некоторую совокупность пленок,которые отображают мощное отражение электромагнитных волн.При длиневолны излучения, эффективно взаимодействующего с многослойной структурой,и ее период связаны соотношением λ = 2d sin α , где α - это угол скольженияпадающего луча. Диапазон длин волн, в котором эффективно используются этиустройства, простирается от экстремального ультрафиолетового излучения (λ = 6042нм) до жесткого рентгеновского (λ = 0,01 нм), т.е.
диапазон, в котором наиболеедлинные волны в 6000 раз больше самых коротких. Для видимого света этосоотношение равно 20.Представленный спектральный диапазон имеет большое значение, так какобъемфизических эффектов, обозначение которых находятся в этойспектральной области, весьма значительно.Указанные структуры рассматриваются какискусственные одномерныекристаллы из пленок нанометровой толщины, и кроме потенциала их применениядля управления излучением в зависимости от материалов слоев (диэлектрик,полупроводник, металл, сверхпроводник) они представляют большой интерес идля других физических показателей.В случае, если одним из материалов многослойных наноструктур служитсверхпроводник,тоэтобудетсистемамножественныхпоследовательновключенных совершенно идентичных джозефсоновских переходов Системапоследовательно включенных диодов Шотки - это когда металл чередуется сполупроводником.В максимальнокоротковолновой части диапазона 0,01 - 0,02 нмрентгеновские зеркала позволяют фокусировать излучение синхротронов илирентгеновских трубок на исследуемые объекты или формировать параллельныепучки.Одновременно, их применение увеличивает эффективность рентгеновскихтрубок в 30 - 100 раз, что делает возможной замену синхротронного излучения вряде биологических, структурных и материаловедческих исследований.Примерно в этом же диапазоне лежит излучение высокотемпературнойплазмы.Здесьзеркалаприменятсякакдисперсионныеэлементыдляспектральных исследований.В диапазоне 0,6-6 нм лежит характеристическое излучение легкихэлементов - от бора до фосфора.
![](https://s.studizba.com/z.php?f=/templates/si/i/noavatar.png&w=100&h=100&t=1"){kind=avatar}
