Резонансные эффекты вблизи краев поглощения рентгеновского излучения при отражении от многослойных структур (1104678), страница 4
Текст из файла (страница 4)
Впервые предложен и реализован метод определения абсолютныхзначений оптических констант, включая магнитные добавки, поасимметрии кривых отражения по знаку круговой поляризации падающегоизлучения. Определены абсолютные значения оптических констант иттриядля энергий фотонов вблизи L2 и L3 краев поглощения иттрия(Eph=2145-2180 эВ и Eph=2070-2100 эВ) в результате обработкиэкспериментальных угловых зависимостей асимметрии отражения дляизлучения правой и левой круговой поляризации.6. Создан пакет программ, позволяющий проводить корректную обработкуэкспериментальных данных для получения детальной информации оструктуре исследуемых многослойных объектов: селективный по глубинеэлементный анализ, уточнение оптических констант отдельных слоев и ихмагнитных характеристик в резонансных областях вблизи краевпоглощения.СПИСОК ПУБЛИКАЦИЙ АВТОРА[A1].Одинцова Е.Е., Андреева М.А., Анализ применимости приближенныхметодов в теории рентгеновского отражения от магнитных мультислоев //Поверхность.
Рентгеновские синхротронные и нейтронные исследования. 2010.№11. С.46-56.[A2].Одинцова Е.Е., Андреева М.А., Анализ применимости приближенныхметодов в теории рентгеновского отражения от магнитных мультислоев // Тезисыдокладов VII национальной конференции РСНЭ-НБИК (Москва, 2009). С. 503[A3].Андреева М.А., Одинцова Е.Е., Влияние малых магнитных добавок квосприимчивости на угловые зависимости отражения рентгеновскогополяризованного излучения от многослойных структур // Письма ЖЭТФ.
2011.Т.93. С. 78-82.[A4].Андреева М.А., Одинцова Е.Е., Семёнов В.Г., Иркаев С.М., Панчук В.В.,Программное обеспечение селективного по глубине метода резонанснойрентгеновской флуоресценции в скользящей геометрии // Сборник материалов ипрограмма Четвёртого международного научного семинара «Современные методыанализа дифракционных данных (топография, дифрактометрия, электроннаямикроскопия)» (Великий Новгород, 2008). С.
54.[A5]. Андреева М. А., Одинцова Е. E., Смехова А. Г., Рентгеновская флуоресценцияв условиях резонансного возбуждения в скользящей геометрии // Сборникматериалов и программа второй международной научной школы-семинара«Современные методы анализа дифракционных данных (дифракционные методыдля нанотехнологии)». (Великий Новгород, 2008). С. 60.[A6].Андреева М.А., Одинцова Е.Е., Смехова А.Г., Рентгеновская резонанснаяспектроскопия ультратонких пленок в условиях зеркального отражения //20Материалы ХII Симпозиума "Нанофизика и наноэлектроника - 2008" (НижнийНовгород, 2008).
С. 218.[A7].Андреева М. А., Грибова А. Д., Одинцова Е. Е., Борисов М. М.,Мухамеджанов Э. Х., Ковальчук М. В., Локализация ультратонкого слоя Fe внутримногослойной структуры Nb/Fe/[Mo/Si]*40/стекло методом стоячих рентгеновскихволн // Вестн. Моск. ун-та, сер.3.: физика, асторон. 2009. №4. С. 76-79.[A8].Андреева М. А., Грибова А. Д., Одинцова Е. Е., Борисов М. М.,Мухамеджанов Э.Х., Борисов М.М., Локализация ультратонкого слоя Fe внутримногослойной структуры Nb/Fe/[Mo/Si]*40/glass методом стоячих рентгеновскихволн // Труды XIII международного симпозиума «Нанофизика и наноэлектроника»(Нижний Новгород, 2009). С.206.[A9].Мухамеджанов Э.
Х., Борисов М. М., Ковальчук М. В., Андреева М. А.,Грибова А. Д., Одинцова Е. Е., Локализация нанослоя железа с помощьюмногослойного генератора стоячих рентгеновских волн // Тезисы докладов VIIнациональной конференции РСНЭ-НБИК (Москва, 2009). С.217.[A10]. Андреева М. А., Иркаев С. М., Одинцова Е. Е., Панчук В. В., Семёнов В. Г.,Флуоресцентный анализ в условиях полного отражения от мультислойнойструктуры Zr/[Fe/Cr]26 // Сборник материалов и программа первой международнойнаучной школы-семинара «Современные методы анализа дифракционныхданных». (Великий Новгород, 2007).
С. 38.[A11]. Андреева М. А., Одинцова Е. Е., Семёнов В. Г., Иркаев С. М., Панчук В. В.,Флуоресцентный анализ мультислойной структуры Zr(10 нм)/[Fe(1.6 нм)/Cr(1.7 нм)]26/Cr(50 нм)/стекло в скользящей геометрии // Поверхность. 2008. Т.7.С. 60-65.[A12]. Одинцова Е. Е., Андреева М. А., Иркаев С. М., Панчук В.
В., Семёнов В. Г.,Флуоресцентный анализ мультислойной структуры Zr(10 нм)/[Fe(1.6 нм)/Cr(1.7 нм)]26/Cr(50 нм)/стекло в скользящей геометрии // Тезисы докладов РСНЭ–2007. (Москва, 2007). С. 318.[A13]. Одинцова Е. Е., Андреева М. А., Домашевская Э. П., Терехов В. А.,Турищев С. Ю., Моделирование квантового выхода вторичных электронов вобласти L23 краев поглощения Si в условиях зеркального отражения от структурыSiO2/Si/SiO2 // Материалы совещания «Рентгеновская оптика-2010», (Черноголовка,2010) C. 41.[A14]. Смехова А.
Г., Андреева М. А., Одинцова Е. Е., Дуфур К., Думеснил К.,Вилхелм Ф., Рогалев А., Определение магнитного вклада в восприимчивость YFe2слоя методом рентгеновской резонансной магнитной рефлектометрии //Кристаллография. 2010. Т.55. №5. С.906-915.[A15]. Андреева М.А., Одинцова Е.Е., Смехова А.Г., Rogalev A., Wilhelm F.,Определение магнитных вкладов в восприимчивость вблизи L2,3 краев поглощенияиттрия рефлектометрическим методом // Материалы совещания «Рентгеновскаяоптика — 2008» (Черноголовка, 2008).
С.144.[A16]. Andreeva M., Dufour C., Dumesnil K., Odintsova E., Smekhova A., XRMRinvestigation of the magnetic contribution to the dispersive part of susceptibility by shiftsof Kiessig oscillations near the critical angle // Отчет по эксперименту MI – 925 ESRF.2009. электронная публикация: http://ftp.esrf.eu/pub/UserReports/38216_B.pdf21[A17]. Andreeva M.A., Odintsova E.E., Dufour C., Dumesnil K., Rogalev A.,Smekhova A., Wilhelm F., XRMR determination of the magnetic contribution to thedispersive part of susceptibility by shifts of Kiessig oscillation // Материалы рабочегосовещания EDXAS Workshop (Гренобль, Франция, 2009).
С. 139[A18]. Одинцова Е.Е., Определение магнитного вклада в восприимчивостьиттрия с помощью рентгеновского излучения круговой поляризации // Материалыконференции «Ломоносов-2009», секция «Физика твердого тела» (Москва, 2009).С. 16.[A19]. Andreeva M., Odintsova E., Dufour C., Dumesnil K., Rogalev A., Smekhova A.,Wilhelm F. , X-Ray Resonant Magnetic Reflectivity as a tool for the determination ofmagnetic contribution in the dispersive part of refractive index // Тезисы конференции «Polarized Neutrons and Synchrotron X-rays for Magnetism 2009».
(Бонн, Германия,2009). С. 108[A20]. Смехова А.Г., Андреева М.А., Одинцова E.E., Dufour C., Dumesnil K.,Wilhelm F., Rogalev A., Определение магнитного вклада в восприимчивость YFe2слоя методом рентгеновской резонансной магнитной рефлектометрии // Тезисыдокладов VII национальной конференции РСНЭ-НБИК (Москва, 2009). С.237[A21]. Andreeva M.A., Odintsova E.E., Dufour C., Dumesnil K., Rogalev A., SmekhovaA., Wilhelm F., XRMR determination of the magnetic contribution to the dispersive partof susceptibility by shifts of Kiessig oscillations // Тезисы конференции « InternationalWorkshop on X Ray spectroscopy of Magnetic Solids (XRMS10)» (источниксинхротронного излучения Даймонд, 2010). С. 53.ЦИТИРУЕМАЯ ЛИТЕРАТУРА[1] Борздов Г. Н., Барковский Л. М., Лаврукович В.
И. // Журнал ПрикладнойСпектроскопии. 1976. Т. 25. С. 526[2] Андреева М. А., Смехова А. Г. // Поверхность. 2006. Т. 2. С. 83.[3] Zak J., Moog E. R., Liu C., et al. // Phys. Rev. B. 1991. V. 43. P. 6423.[4] Stepanov S. A., Sinha S. K. // Phys. Rev. B. 2000. V. 61. P. 15302.[5] Ishimatsu N., Hashizume H., Hamada S., et al. // Phys. Rev. B. 1999. V. 60. P. 9596.[6] Kravtsov E., Haskel D., Velthuis T., et al. // Phys.
Rev. B. 2009. V. 79. P. 134438.[7] Valvidares S. M., Quirós C., Mirone A., et al. // Phys. Rev. B. 2008. V. 78. P. 064406.[8] http://kftt.phys.msu.ru/index.php?page=_Odintsova[9] Домашевская Э. П., Терехов В. А., Турищев С. Ю. // Тезисы докладовконференции РСНЭ-НБИК. 2009. С. 119.[10] Kasrai M. // Applied Surface Science. 1996.
V. 99. P. 303.22.
![](https://s.studizba.com/z.php?f=/templates/si/i/noavatar.png&w=100&h=100&t=1"){kind=avatar}
