05.02.23 (1089814), страница 2
Текст из файла (страница 2)
Системная ориентация, Использование моделей. Виды моделей. 25. Имитационное моделирование, 26. Методы прогнозирования. 27, Качественные методы прогнозирования. 28. Количественные методы прогнозирования. 29. Прогнозирование на основе анализа временных рядов. 30.
Усреднение ретроспективных данных. 31. Статистический анализ. 32. Линейная экстраполяция и интерполяция данных. Литература 1. Лнцыферов С.С. и др. Метрология, стандартизация, сертификация и системы управления качеством радиоэлектронной наукоемкой продукции: учебное пособие/ под ред.
чл,-корр. РЛН Л.С. Сигова. Часть 1. Общая методология управления качеством. Метрология, квалиметрия и информационные технологии в управлении качеством. — М.: МИРЭА, 2010. 2, Анцыферов С.С. и др, Метрология, стандартизация, сертификация и системы управления качеством радиоэлектронной наукоемкой продукции: учебное пособием под ред. чл,-корр, РАН А,С. Сигова. Часть 2.
Методология управления. качеством радиоэлект1эонной наукоемкой продукции, включая стандартизацию и сертификацию, Системы адаптивного управления качеством и их практическая реализация. — М.: МИРЭА, 2010. 3. Анцыферов С,С., Голубь Б.И. Общая теория измерений: учебное пособие / под ред, академика РАН Н.Н. Евтихиева. — М.: Горячая линия— Телеком, 2007. 4, Анцыферов С.С., Афанасьев М.С. Основы теоретической метрологии: учебное пособие. — М.: Икар, 2012, 5. Анцыферов С.С., Афанасьев М.С., Русанов К.Е..
Обработка результатов измерений: учебное пособие I под ред. академика РАН А.С, Сигова, — М.; ИКАР, 2014. 6, Стандартизация и управление качеством продукции; учебник для вузов' под ред. проф, В.А. Швандара. — М.: Юнити-Дана, 1999, 7, Берновский Ю.Н. Стандартизация: учебное пособие, — М.: Форум, 2012. 8.
Шишкин И.Ф. Теоретическая метрология. Часть 1. Общая теория измерений: учебник для вузов. — СПб.: Питер, 2010. 9. Шишкин И.Ф. '1еоретическая метрология. Часть 2. Обеспечение единства измерений: учебник для вузов, — СПб,: Питер, 2012, 10. Метрологическое обеспечение нанотехнологий и продукции наноиндустрии: учебное пособие 1 под ред.
В.Н. Крутикова. — М.; Лагос, 2011. 11, Дегтярев Ю.И. Системный анализ и исследование операций. — М.: Высшая школа, 1996. 12. Лагоша Ь.А., Емельянов А.А. Основы системного анализа. — М.: МЭСИ, ! 998, 13, Волкова В,11.„Денисов А.А. Основы теории систем и системного анализа: учебное пособие для студентов вузов. — СПб.: СПбГПУ, 2003. 14, Информационные системы: учебное пособие I под общ.
ред. В.Н. Волковой и Б,И. Кузина. — СПб,: СПбГПУ, 1999. 15. Матвеев Л.А. Системы поддержки принятия решений: учебное пособие. — Спб.: СПОГУ, 1993. 16, Аристов О.В. Управление качеством: учебное пособие для вузов.— М.: Инфра-М, 2004. 17, Кириллов В.И, Квалиметрия и системный анализ: учебное пособие. — Минск: Новое знание; — М.: Инфра-М, 2012. 18.
Пул Ч., Оуэнс Ф. Нанотехнологии. — М.: Техносфера, 2001. 19. Нанотехнология в электронике ~ под ред Ю.А, Чаплыгина. — М,: Техносфера, 2005. 20. Головин 1О.И. Введение в нанотехнику. -- М.: Машиностроение, 2007. 21. Европейский портал по нанотекнодокивм; 1п1: Й~~~~. папойтитп. 01'я, 22. Миронов В.Л. Основы сканируюшей зондовой микроскопии.
— М.: "1 ехиосфера, 2005. Директор Физико-текнодосииескоГо инстит~та В.С. Кондратенко .
![](https://s.studizba.com/z.php?f=/templates/si/i/noavatar.png&w=100&h=100&t=1"){kind=avatar}
