Дипломчик (1089131), страница 4
Текст из файла (страница 4)
5 – подвижное зеркало
6 – светоделительная пластинка
7 – рассеивающая линза
8 – фотоприемник
9 – генератор синусоидальных колебаний
10 – осциллограф
11 – полупроводниковый лазер
Исследование He-Ne лазера.
Перед началом проведения измерений следует выполнить юстировку оптической системы.
Собираем схему для юстировки лазера (рис. 3.2)
Рис. 3.2 Юстировка He-Ne лазера
1 – He-Ne лазер
2 – блок питания лазера
3, 3’ – экран (в двух положения)
Ставим экран (3) рядом с лазером (1) и перемечая лазер делаем так, что бы пятно лазерного излучения было в центре экрана. Затем ставим экран в конце оптической скамьи и юстировочными винтами лазера добиваемся что бы пятно лазерного излучения попало в центр экрана. Опять ставим экран ближе к лазеру, если пятно осталось в центре экрана, то фиксируем лазер, если же пятно немного сместилось, то стоит проделать юстировку пока пятна лазерного излучения в разных положениях экрана не будут по центру.
Собираем схему установки для измерения временной когерентности He-Ne лазера (рис. 3.3)
Рис. 3.3 Схема установки для измерения временной когерентности He-Ne лазера
1 – исследуемый He-Ne лазер
2 – блок питания лазера
3 – поляризатор
4 – четвертьволновая пластинка
5 – полупрозрачное зеркало (светоделитель)
6 – зеркало
7 – электро-динамический привод
8 – юстировочные винты
9 – подвижное зеркало (в двух положениях)
10 – фотоприемник
11 – блок питания фотоприемника
12 – апертура фотоприемника
13 – рассеивающая линза
14 – генератор синусоидальных колебаний
15 – осциллограф
Выставляем зеркало (9) в положение 0, то есть когда и фиксируем его.
Юстировочными винтами (8) зеркала (6) добиваемся того, что бы отраженный луч совпал с выходящим лучом из резонатора. Тоже самое проделываем юстировочными винтами (8) зеркала (9).
Настраиваем оптический вентиль, он состоит из поляризатора (3) и четвертьволновой пластинки (4). Вращая поляризатор, добиваемся максимального пропускания. В области выхода излучения из резонатора ищем отраженные от зеркал пятна и поворотом червертьволновой пластинки добиваемся их исчезновения. Теперь отраженные лучи не будут возвращаться в резонатор, тем самым не нарушается режим генерации.
Юстировочными винтами (8) зеркала (9) добиваемся максимальной амплитуды интерференционного сигнала на осциллографе.
На корпусе фотоприемника наблюдаем интерференционную картину (рис. 3.4).
Рис. 3.4 Интерференционная картина
На экране осциллографа интерференционная картина выглядит следующим образом (рис. 3.5):
Рис. 3.5 Интерференционная картина на экране осциллографа
Вычисляем значения и
и записываем в таблицу.
Перекрывая поочередно зеркала, вычисляем значения интенсивности от них.
Рис. 3.6 Значение интенсивности от зеркала (6)
Рис. 3.7 Значение интенсивности от зеркала (9)
Вычисляем значения и
и записываем в таблицу.
Рассчитываем значения контраста и функции временной когерентности для данного плеча.
Двигаем зеркало (9) на 5 см, фиксируем его и юстировочными винтами (8) накладываем пятно на другое, добиваемся максимальной амплитуды.
Вычисляем значения ,
,
,
и записываем в таблицу.
Находим значение контраста и функции временной когерентности для плеча 5 см.
Проделываем все тоже самое для значений плеча от 0 до с 100 см с шагом 5 см и записываем в таблицу.
Мною был проведен эксперимент и получены следующие данные:
Таблица.3.1
K | ||||||
0 | 1,10 | 3,00 | 7,40 | 0,50 | 0,87 | 2,95 |
5 | 1,00 | 2,20 | 5,80 | 0,70 | 0,78 | 1,38 |
10 | 1,00 | 1,50 | 5,70 | 0,70 | 0,78 | 0,73 |
15 | 0,90 | 1,30 | 4,00 | 0,50 | 0,78 | 0,50 |
20 | 0,80 | 1,00 | 3,00 | 1,00 | 0,50 | 0,18 |
25 | 1,00 | 1,00 | 3,30 | 0,50 | 0,74 | 0,37 |
30 | 1,00 | 0,90 | 3,40 | 0,30 | 0,84 | 0,36 |
35 | 1,00 | 0,90 | 3,50 | 0,40 | 0,79 | 0,34 |
40 | 1,00 | 0,60 | 2,60 | 0,80 | 0,53 | 0,13 |
45 | 0,80 | 0,60 | 2,30 | 1,00 | 0,39 | 0,07 |
50 | 0,80 | 0,50 | 2,20 | 0,60 | 0,57 | 0,07 |
55 | 0,80 | 0,50 | 1,70 | 1,00 | 0,26 | 0,03 |
60 | 0,80 | 0,40 | 1,90 | 0,50 | 0,58 | 0,06 |
65 | 0,80 | 0,20 | 1,90 | 0,30 | 0,73 | 0,03 |
70 | 0,75 | 0,20 | 1,80 | 0,30 | 0,71 | 0,03 |
75 | 0,70 | 0,15 | 1,50 | 0,50 | 0,50 | 0,01 |
80 | 0,70 | 0,15 | 1,50 | 0,50 | 0,50 | 0,01 |
85 | 0,70 | 0,15 | 1,50 | 0,50 | 0,50 | 0,01 |
90 | 0,75 | 0,10 | 1,40 | 0,50 | 0,47 | 0,01 |
95 | 0,75 | 0,15 | 1,50 | 0,50 | 0,50 | 0,01 |
100 | 0,75 | 0,10 | 1,50 | 0,40 | 0,58 | 0,01 |
Построим график функции временной когерентности (рис. 3.8)
Рис.3.8 Функция временной когерентности He-Ne лазера
Анализируя данный график и сравнивая его с графиком (рис. 2.1.6) можно сделать вывод о том, что исследуемый He-Ne лазер работает в двухчастотном режиме, что потом подтвердилось используя сканирующий интерферометр Фабри-Перо.
Исследования полупроводникового лазера.
Перед тем как собрать установку для измерения временной когерентности, нужно сколлимировать лазерное излучение, так как из лазера выходит расходящийся пучок. Это можно сделать двумя способами.
Первый способ: собираем схему (рис. 3.9), двигая на миллиметры лазер (что бы попасть в фокус линзы) добиваемся параллельного луча, это можно проверить, передвигая экран по оптической скамье.
Рис. 3.9 Коллимирование лазерного пучка
1 – полупроводниковый лазер
2 – блок питания лазера
3 – линза
4 – экран
Второй способ: собираем схему (рис. 3.10), зеркало (6) устанавливаем в самом конце оптической скамьи. На экране (8) наблюдаем два пятна от зеркал (5) и (6) разного размера. Двигаем лазер на миллиметра и добиваемся что бы оба пятна были одинаково размера.