20090526_2350 (чернь3) (1088602), страница 3
Текст из файла (страница 3)
для устройства ввода-вывода:
для арифметического устройства:
для устройства управления:
-
Поправочный коэффициент для уточнения количества микросборок в субблоке j-го типа определяем по формуле:
для устройства ввода-вывода:
для арифметического устройства:
для устройства управления:
-
Уточненное количество микросборок в субблоке j-го типа определяем по формуле:
для устройства ввода-вывода:
для арифметического устройства:
для устройства управления:
-
Уточненное количество микросхем широкого применения в субблоке j-го типа определяем по формуле:
для устройства ввода-вывода:
для арифметического устройства:
для устройства управления:
-
Уточненное количество микросхем широкого применения в блоке:
-
Уточненное количество микросборок в блоке:
-
Ориентировочное количество микросборок i-го типа в субблоке j-го типа определяем по формуле:
для устройства ввода-вывода:
для арифметического устройства:
для устройства управления:
-
Поправочный коэффициент для уточнения количества микросборок i-го типа в субблоке j-го типа определяем по формуле:
для устройства ввода-вывода:
для арифметического устройства:
для устройства управления:
-
Уточненное количество микросборок i-го типа в субблоке j-го типа, за исключением микросхем Nт.с-го типа, определяем по формуле:
для устройства ввода-вывода:
для арифметического устройства:
для устройства управления:
-
Уточненное количество микросборок определяем по формуле:
для устройства ввода-вывода:
для арифметического устройства:
для устройства управления:
-
Количество микросборок всех типов во всех субблоках записываем в табличной форме:
для J1:
| j | Nс.с.i.j | ||||||||||
| 1 | 12 | 12 | 12 | ||||||||
| 2 | 12 | 12 | 12 | 12 | 12 | 12 | 12 | 12 | 12 | ||
| 3 | 12 | 12 | 12 | 12 | 12 | 12 | |||||
для J2:
| j | Nс.с.i.j | |||||||||||
| 1 | 7 | 7 | 7 | |||||||||
| 2 | 7 | 7 | 7 | 7 | 7 | 7 | 7 | 7 | 7 | |||
| 3 | 7 | 7 | 7 | 7 | 7 | 7 | ||||||
-
Определение параметров надёжности аппаратуры.
-
Интенсивность отказов микросхем.
-
В данной курсовой работе пункт 5.1. не считается. Интенсивность отказов гибридных микросхем определяем по справочнику [4]:
-
Интенсивность отказов аппаратуры.
-
Интенсивность отказов субблоков j-го типа определяем по формуле:
-
где: λс.ш – интенсивность отказов схем широкого применения (
[4]);
λс.с – интенсивность отказов микросборок (
[4]);
λ1К.П – интенсивность отказов паяного контакта (
[4]);
ММ.С – количество задействованных выводов микросхемы (для J1 и J2 = 8 [2]).
для устройства ввода-вывода:
для арифметического устройства:
для устройства управления:
-
Количество внешних выводов разъёма кассеты в устройстве управления определим по формуле:
-
Количество внешних выводов разъёма кассеты в устройстве ввода-вывода определим по формуле:
-
Количество внешних выводов разъёма кассеты в арифметическом устройстве определим по формуле:
-
Интенсивность отказов кассеты устройства управления определим по формуле:
-
Интенсивность отказов кассеты устройства ввода-вывода определим по формуле:
-
Интенсивность отказов кассеты арифметического устройства определим по формуле:
-
Определим количество внешних выводов аппаратуры:
-
Интенсивность отказа аппаратуры варианта разъёмной конструкции определим по формуле:













