ФХОЭТ_список литературы (1076350)
Текст из файла
С.В.Сидорова«Физико-химическиеосновыэлектронныхтехнологий»2015–2016уч.г.,IIсеместрОсновнаялитература1. ГоловинЮ.И.Основынанотехнологий/ГоловинЮ.И.-М.:Машиностроение,2012.-653с.:ил.-Библиогр.:с.17-18,вконцеглав.-ISBN978-5-94275-662-8.2. ПанфиловЮ.В.,УтенковВ.М.,МихайловВ.П.Физико-механическиекомпонентынаносистем:учеб.-метод.комплекспотем.направлениюдеятельностиННС"Наноинженерия":учеб.пособиедлявузов/ПанфиловЮ.В.,УтенковВ.М.,МихайловВ.П.;ред.ШахновВ.А.-М.:Изд-воМГТУим.Н.Э.Баумана,2011.-182с.:ил.-(Библиотека"Наноинженерия":в17кн.,ISBN978-5-7038-3509-8;кн.8).-Библиогр.:с.178-179.-ISBN978-5-7038-3499-2.3. СтаростинВ.В.Материалыиметодынанотехнологий:учеб.пособие/СтаростинВ.В.;общ.ред.ПатрикеевЛ.Н.-2-еизд.-М.:БИНОМ.Лабораториязнаний,2013.-431с.:ил.-(Нанотехнологии).-Библиогр.:с.424-426.-ISBN978-5-9963-0346-5.Дополнительнаялитература1. Макарчук В.
В., Родионов И. А., Цветков Ю. Б. Методы литографии в наноинженерии :учеб.-метод. комплекс по тем. направлению деятельности ННС "Наноинженерия" : учеб.пособиедлявузов/МакарчукВ.В.,РодионовИ.А.,ЦветковЮ.Б.;ред.ШахновВ.А.-М.:Изд-во МГТУ им.
Н. Э. Баумана, 2011. -175 с. : ил.-(Библиотека "Наноинженерия" : в 17кн.,ISBN978-5-7038-3509-8;кн.9).-Библиогр.:с.171.-ISBN978-5-7038-3500-5.2. Слепцов В.В. Физико-химические основы наноматериалов и нанотехнологий. М.: ООО«Самполиграфист»,2015.368с.3. Введениевнанотехнологию:учебникдлявузов/МарголинВ.И.,ЖабревВ.А.,ЛукьяновГ. Н., Тупик В. А. - СПб. : Лань, 2012. - 457 с. : ил. - (Учебники для вузов. Специальнаялитература).-Библиогр.вконцегл.-ISBN978-5-8114-1318-8.4. Справочник по технологии наночастиц : [монография] : пер.
с англ. / ред. Хосокава М.,Ноги К., Наито М., Йокояма Т. ; МГУ им. М. В. Ломоносова. Науч.-исслед. центр понанотехнологиям;науч.ред.пер.ЯрославцевА.Б.,МаксимовскийС.Н.-М.:Научныймир,2013.-727с.,[6]л.ил.:ил.-(Фундаментальныеосновынанотехнологий.Справочники).-Библиогр.вконцеразделов,прил.-ISBN978-5-91522-231-0.5.
Афонский А. А., Дьяконов В. П.Электронные измерения в нанотехнологиях имикроэлектронике:[монография]/АфонскийА.А.,ДьяконовВ.П.;ред.ДьяконовВ.П.-М.:ДМК,2012.-687с.-Библиогр.:с.679-686.-ISBN978-5-94074-626-3.6. Дзидзигури Э. Л., Сидорова Е. Н. Процессы получения наночастиц и наноматериалов.Нанотехнологии : учеб. пособие / Дзидзигури Э. Л., Сидорова Е. Н. ; Министерствообразования и науки РФ, Национальный исслед.
технол. ун-т "МИСиС", Кафедрафункциональных наносистем и высокотемпературных материалов. - М. : Издат. ДомМИСиС,2012.-70с.:ил.-Библиогр.:с.69-70.-ISBN978-5-87623-605-0.7. Герасименко Н., Пархоменко Ю. "Кремний - материал наноэлектроники", МирМатериаловиТехнологий,Техносфера,2007-352с.8. КалоусВ.Биофизическаяхимия./КалоусВ.,ПавличекЗ.–М.,1985г.9. Общаяхимия.Биофизическаяхимия.Химиябиогенныхэлементов:Учеб.длявузов/Ю.А.Ершов,В.А.Попков,А.С.Берляндидр.;Под.Ред.Ю.А.Ершова.–2-еизд.,испр.идоп.-М.:Высш.шк.,2000м–560с.:ил.10.
МаршеллЭ.Биофизическаяхимия.–М.:Мир,1981.11. АнализповерхностиметодамиОже-ирентгеновскойфотоэлектроннойспек-троскопии/подред.Д.Бриггса,М.П.Сиха.М.,1987.600с.12. Вудраф,Д.Современныеметодыисследованияповерхности/Д.Вудраф,Т.Делчар;пер.сангл.М.,1989.564с.13. Комаров,Ф.Ф.Неразрушающийанализповерхностейтвердыхтелионнымипучками/Ф.Ф.Комаров,М.А.Кумахов,И.С.Ташлыков.Минск,1987.256с.14. Методыанализанапучкахзаряженныхчастиц/А.А.Ключников[идр.].Киев,1987.152с.15. Методыанализаповерхностей/подред.А.Зандерны.М.,1979.582с.16. Петров, Н. Н.
Диагностика поверхности с помощью ионных пучков / Н. Н. Петров, И. Л.Аброян.Л.,1977.130с.17. Пранявичюс,Л.Модификациясвойствтвердыхтелионнымипучками/Л.Праня-вичюс,Ю.Дудонис.Вильнюс,1980.242с.18. Праттон, М. Введение в физику поверхности / М. Праттон.
Ижевск , 2000. 256 с. Рид, С.Электронно-зондовыймикроанализ/С.Рид.М.,1979.423с.19. Фелдман, Л. Основы анализа поверхности и тонких пленок / Л. Фелдман, Д. Майер. М.,1989.344с.20. Шипатов,Э.Т.Обратноерассеяниебыстрыхионов:теория,эксперимент,прак-тика/Э.Т.Шипатов.Ростовн/Д.,1988.160с.21. Электроннаяиионнаяспектроскопиятвердыхтел/подред.Л.Фирмэнса,Дж.Вэнника,В.Декейсера.М.,1981.467с.22. Электроннаяспектроскопия/подред.И.Б.Боровского;пер.сангл.М.,1971.467с.23. ОураК.,ЛифшицВ.Г.,СаранинА.А.идр.Введениевфизикуповерхности/Подред.В.И.Сергиенко.—М.:Наука,2006.—490с.24. ПентинЮ.А.,ВилковЛ.В.Физическиеметодыисследованиявхимии.—М.:Мир,2006.—683с.25. БрандонД.,КапланУ.Микроструктураматериалов.Методыисследованияиконтроля.—М.:Техносфера,2006.—384с.26.
ГусевА.И.,РемпельА.А.Нанокристаллическиематериалы.–М.:Физматлит,2003.–224с.27. БреховскихЛ.М.,ГончаровВ.В.Введениевмеханикусплошныхсред.-М.:Наука,198228. Пул,Ч.Нанотехнологии/Ч.Пул.-М.:Техносфера,2006.-336с.29. Гусев,А.И.Наноматериалы,наноструктуры,нанотехнологии.М.:Физматлит,2007.416с.30. ХаррисП.Углеродныенанотрубкииродственныеструктуры.Новыематериалы21века:Пер.сангл.М.:Техносфера,2003.-336с.31. ДельмонБ.Кинетикагетерогенныхреакций.1972.Мир.552с.32. А.И.Русанов,Фазовыеравновесияиповерхностныеявления,Наука,Ленинград,1967.33. С.Оно, и С.Кондо, Молекулярная теория поверхностного натяжения в жидкостях, ИЛ,Москва,1963.34.
А.Адамсон,Физическаяхимияповерхностей,Мир,М.,1974.35. М.Джейкок,Дж.Парфит,Химияповерхностиразделафаз,М.,Мир,1984.36. Дж.Андерсон,Структураметаллическихкатализаторов,Мир,М.,1978.37. Я.ДеБур,Динамическийхарактерадсорбции,ИЛ,М.,1962.38. А.А.Лопаткин,Теоретическиеосновыфизическойадсорбции.39. М.М.Дубинин,Адсорбцияипористость,М.197240.
Chu,W.K.Backscatteringspectrometry/W.K.Chu,J.W.Mayer,M.-A.Nicolet.N.Y.,1978.384p.41. Lindhard,J.RangeconceptsandHeavyIonRanges(NotesonAtomicCollisions,II)/J.Lindhard,M.Scharff,H.E.Schiott//Mat.Fys.Medd.Dan.Vid.Selsk.1963.Р.1–42.42. Lüth, H. Solid Surfaces, Interfaces and Thin Films / H.
Lüth. Leipzig, 2001. 559 p. Sigmund, P.Theoryofsputtering.I.Sputteringyieldofamorphousandpolycrystallinetargets//Phys.Rev.1969.Vol.184,№2.P.383–416.43. Surfaceandthinfilmanalysis:principles,instrumentation,application/ed.H.Bubert,H.Jenett.Weinheim,2002.336p.44. OuyangM.,HuangJ.L.,CheungC.L.,LieberC.M.(2001).Atomicallyresolvedsingle-walledcarbonnanotubeintramolecularjunctions.Science291,97–100;45. GrossL., MohnF., MollN., LiljerothP., Meyer G. (2009).
The chemical structure ofamoleculeresolvedbyatomicforcemicroscopy.Science325,1110–1114;46. EatonP., Fernandes J.C., PereiraE., Pintado M.E., Xavier Malcata F. (2008). Atomic forcemicroscopystudyoftheantibacterialeffectsofchitosansonEscherichiacoliandStaphylococcusaureus.Ultramicroscopy108,1128–1134;47. MustataM., RitchieK., McNally H.A. (2010). Neuronal elasticity asmeasured byatomic forcemicroscopy.J.Neurosci.Methods186,35–41;48. Wong K.L., PawinG., Kwon K.Y., LinX., JiaoT., SolankiU., Fawcett R.H., BartelsL., StolbovS.,RahmanT.S.(2007).Amoleculecarrier.Science315,1391–1393..
Характеристики
Тип файла PDF
PDF-формат наиболее широко используется для просмотра любого типа файлов на любом устройстве. В него можно сохранить документ, таблицы, презентацию, текст, чертежи, вычисления, графики и всё остальное, что можно показать на экране любого устройства. Именно его лучше всего использовать для печати.
Например, если Вам нужно распечатать чертёж из автокада, Вы сохраните чертёж на флешку, но будет ли автокад в пункте печати? А если будет, то нужная версия с нужными библиотеками? Именно для этого и нужен формат PDF - в нём точно будет показано верно вне зависимости от того, в какой программе создали PDF-файл и есть ли нужная программа для его просмотра.
![](https://s.studizba.com/z.php?f=/templates/si/i/noavatar.png&w=100&h=100&t=1"){kind=avatar}
