Метрология в нанотехнологиях (1027620), страница 32
Текст из файла (страница 32)
2003. № 5. 34. Браун С. Стандарты нанотехнологий в области безопасности и экологии //Мир стандартов. 2007. № 5(16), 35. Брянский Л.Н., Дойников А.С., Крупин Б.Н. Шкалы, единицы и эталоны. // Измерительная техника. 1992. № 6. 36. Буденная Ж.Н., Грозовскнй Г И., Макушкина С.М, Место и роль технических комитетов по стандартизации // Стандарты и качество. 2003. № 1О. 37.
Бурдун ГД. Справочник по Международной системе единиц. Изд. 2-е. — М.: Изд-во стюцгартов, 1977. 38. Бурдун ГД., Марков Б.Н. Основы метрологии. М.: Изд-во стандартов, 1985. 39. Бушнев Л.С. Основы электронной микроскопии. Томск: Томск. гос. ун-т, 1990. 40. Винокуров Н. А., Князев Б.А., Кулипанов Г Н. и др. Визуализация излучения мощного терагерцовоголазера на свободных электронах с помощью термочувствительного интерферометра.
Новосибирск: Ин-т ядерной физики СО РАН, 2006. 41. Выбор стратегических приоритетов регионального развития: новые теоретико-методические подходы / Под общ. ред. В.В. Окрепилова. СПб.; Наука, 2008. 42. Гоглинский К.В., Кудрявцева В.И., Новиков С.В., Решетов В.Н. Применение атомно-силовой микроскопии для исследования микро- 200 структуры твердых сплавов на основе карбида вольфрама. Препринт/002- 96. М.: МИФИ, 1996. 43. Головин Ю.И. Введение в нанотехнологию. М.: Машиностроение, 2003. 44.
Государственные эталоны России: Каталог. М.; Госстандарт России, 2000. 45. Гримшо Д.Дж. По-прежнему ли прекрасно очень маленькое? // Мир стандартов. 2007. № 5(16). 46. Гуртов В. Твердотельная электроника. М.: Техносфера, 2005. 47. Драгунов В.П. Основы наноэлектроники учебное пособие. 2-е изд., испр. и дон. Новосибирск: Изд-во НГТУ, 2004. 48. Еленин ГГ. Нанотехнологии, наноматериалы, наноустройства // Новое в синергетике: Взгляд в третье тысячелетие.
М.: Наука, 2002. 49. Еременко И.Л., Талисманов С.С. Химическое конструирование гомо- и гетероядерных полиоксомолибдатных каастеров // Успехи химии. 2003. Т. 72. 50. Земельман М.А. Метрологические основы технических измерений.М.: Изд-во стандартов, 1991. 51. Зимовнова А. Публикация по материалам «круглого стола»вЂ” «Техническое регулирование и Национальная системастандартизации»// Стандарты и качество. 2004.
№ 6. 52. Иванова Г.Н., Андросенко Н.В. Стандартизация как инструмент обеспечения качества и конкурентоспособности // П Всероссийский научно-практический форум молодых ученых и специалистов «Конкурентоспособность — основа стратегического развития России», 19-22 октября 2004 гз Материалы форума. СПбз Изд-во СПбГУЭФ, 2004, 53. Иванова ГН. Национальная стандартизация а свете Федерального закона «О техническом регулировании» // Научно-практический симпозиум молодых ученых и специалистов «Актуальные проблемы и перспективы развития Северо-Запада».
19 декабря 2005г:. Материалы симпозиума. СПбз Изд-во ИМЦ «НВШ вЂ” СПб», 2006. 54. Исаев Л.К. Российская система измерений // Измерительная техника. 1993. № П. 55. Исаев Л.К., Малинский В.Д. Обеспечение качества: стандартизация, единспю измерений, оценка соответствия. М з Изд-во стандартов, 2001. 56.
Ичимура Ш., Юмура М. Углеродные нанотрубки и фуллерены в нанотехнологиях: применение и стандартизация // Мир стандартов. 2007. № 5(16). 57. Классен К.Б. Основы измерений. Электронные методы и приборы в измерительной технике. М.: Постмаркет, 2000. 201 203 202 «аг««ьмв«еен»«а«а»»»»аямаъь»аа ~ .«».» 58.
Клюшников В.Н. О приоритетных направлениях стандартизации // Компетентность. 2005. М 4. 59. Кобаяси Н. Введение в нанотехнологию. М.: Бином. Лаборатория знаний, 2005, 60. Ковальчук М.В. Нанотехнологии — фундамент новой наукоемкой экономики 21 века // Сборник материалов Петербургского научного форума «Наука и общество», круглый стол «Нанодиагностика». СанктПетербургский физико-технический научно-образовательный центр РАН. СПб. 2008. 61. Крутиков В.Н. О Концепции обеспечения единства измерений, стандартизации, оценки соответствия и безопасности нанотехнологий, наноматериалов и продукции наноиндустрии в Российской Федерации до 2015 года // Сборник материалов Петербург.
науч. форума «Наука и общество», круглый стол «Нанодиагностика». С Пб.: Санкт-Петербургский физико-технический научно-образовательный центр РАН, 2008. 62. Куейт Ф. Вакуумное туннелирование: новая методика в микроскопии // Физика за рубежом. Сер. А. М.: Мир, 1988. 63. Кузнецов В.А., Исаев Л.К„Шайке И.А. Метрология. М.: Стандартинформ, 2005, 64. Кузнецов В.А., Ялунина ГВ. Метрология (теоретические, прикладные и законодательные основы). М.: Изд-во стандартов, 1998.
65. Ларченко ГА., Спирина Т.Н. Размышления о технических регламентах в химической промышленности // Компетентность. 2005. М 9, 66. Лахов В.М. Метрологическое обеспечение, стандартизация и оценка соответствия нанотехнологий // Компетентность. 2008. М 2. 67. Лучинин В.В, Наноиндустрия — базис новой эко)гомики// Петербургский журнал электроники. 2003. М 3. 68. Лысцов В.Н., Мурзин Н.В.
Проблемы безопасности нанотехнологий. М.: МИФИ, 2007. 69. Международные документы по законодательной метрологии / Под ред. Исаева Л,К. М.: ВНИИМС, 2005, 70. Метрологическое обеспечение, стандартизация и оценка соответствия нанотехнологий и нанопродукции. Аналитический обзор. М.: Ростехрегулирование, ноябрь 2007. 71. Миронов В.Л. Основы сканирующей зондовой микроскопии. М.: Техносфера, 2005. 72.
Моисеев Ю.Н., Мостепаненко В.М., Панов В.И., Соколов И.Ю. Экспериментальное и теоретическое исследование сил и пространственного разрешения в атомно-силовом микроскопе // ЖТФ. 1990. Т. 60. М 1. 73. Нанотехнологии. Азбука для всех / Под ред. Ю.Д. Третьякова, М.: ФИЗМАТЛИТ, 2008. 74. Нанотехнология в ближайшем десятилетии / Под ред, М.К. Роко, Р.С. Уильямса, П. Аливисатоса. М.: Мир, 2002. 75. Нанотехнологии: вчера, сегодня, завтра. Ред. статья // Мир стандартов. 2007.
гй 5 (16). 76. Нанотехнологии, наноматериалы, наносистемная техника / Под ред. П.П, Мальцева Сер. «Мир материалов и технологий>, М.: Техносфера, 2008. 77. Нанотехнологии в электронике / Под ред. Ю.А. Чаплыгина. М.: Техносфера, 2005. 78. Неволин В. К, Зондовые нанотехнологии в электронике. М.: Техносфера, 2005. 79. Никифоров Н.В. О концепции развития национальной системы стандартизации // Стандарты и качество, 2006. М 5. 80. Новая иллюстрированная энциклопедия.
М.: Большая российская энциклопедия, 2007. 81. Новиков Ю.А., Раков А.В., Тодуа П.А. «Нанотехнология и нано- метрология». Нано- и мнкросистемная техника. 2006. М 12. 82. Новиков Ю.А., Раков А.В., Тодуа П.А. Нанотехнологии и нано- метрология // Линейные измерения микрометрового и нанометрового диапазонов в микроэлектронике и нанотехнологии. М.: Наука, 2006. 83. Облант Ж.М. Метрология: проблема наномасштаба// Мир стандартов.
2007. )Ч» 5(16). 84. Окрепилов В.В. Всеобщее управление качеством. Учебник в 4-х книгах. СПб.: Изд-во СПбУЭФ, 1996. 85. Окрепилов В.В. Достижение социально-экономического прогресса на основе всеобшего управления качеством // Экономика и управление. 2008. Х» 3 (35). 86. Окрепилов В.В. Единая нормативно-техническая база — необходимое условие обеспечения единого свободного рынка // Вестник Межпарламентской Ассамблеи СПб., 2000. гв 1 (24).
87. Окрепилов В.В. Инновационный потенциал и управление качеством // Петербург в зеркале. 2008. М 3 (42). 88. Окрепнлов В.В. Инновационное развитие экономики и федеральный закон Российской Федерации «О техническом регулировании», // Научное издание «Современное экономическое и социальное развитие; проблемы и перспективы. Ученые и специалисты Санкт-Петербурга и Ленинградской области — Петербургскому экономическому форуму 2005 года».
СПб., 2005, 89. Окрепилов В.В. Эволюция качества. СПб.: Наука, 2008. 90. Окрепилов В.В. Менеджмент качества. В 2-хт. СПб.: Наука, 2007. 91. Окрепилов В,В. От точных измерений к управлению качеством // Петербург в зеркале. 2001. М 2 (37). 92. Окрепилов В.В. О мероприятиях по реализации положений Федерального закона «О техническом регулировании» в Санкт-Петербурге // Сб. материалов семинара «Актуальные проблемы технического регулирования» в рамках международной конференции «Контроль на потребительском рынке и зашита прав потребителей в государствах-членах СНГ». СПб, 2004.
93. Окрепилов В.В., Иванова ГН., Исаев И И. Проблемыучетариска в технических регламентах (методологнческий подход к преподаванию) // Материалы П межотраслевой научно-практической конференции «Проблемы и пути решения задач подготовки инженерных кадров ллл военно-промышленного комплекса Российской Федерации». СПб., 16- ! 7 ноября 2006 г. СПб., 2007.
94. Окрепилов В.В., Элькин ГИ. Система подтверждения соответствия в России. М.: Инновационный фонд «РОС ИСПЫТАНИЯ», 2007. 95. Оснко В,В. Лазерные материалы. Избранные труды. М.: Наука, 2002. 96. Осипьян Ю.А., В.А. Аксенов, В.С. Шахматов Группы симметрии углеродных нанотрубок. Письма в ЭЧАЯ 2000. М 4 (101). 97. Петров Р.В., Михайлова А.А., Фонина Л.А., Степаненко РН. Миелопептиды. М.: Наука, 2001. 98.
Постек М.Т. Метрология в нанометровом диапазоне // Вестник технического регулирования. 2007. М 1. 99. Пугачев С.В., Белобрагин В.Я. Концепция развития национальной системы стандартизации // Стандарты и качество. 2006. М 5. 100. Пул Ч., Оуэнс Ф. Нанотехнологии.
![](https://s.studizba.com/z.php?f=/templates/si/i/noavatar.png&w=100&h=100&t=1"){kind=avatar}
