Для студентов МГТУ им. Н.Э.Баумана по предмету Дипломы и ВКРИсследование возможности оценки надежности СБИС на основе методологии ускоренных испытаний тестовых структур на пластинеИсследование возможности оценки надежности СБИС на основе методологии ускоренных испытаний тестовых структур на пластине
2017-12-212017-12-21СтудИзба
Исследование возможности оценки надежности СБИС на основе методологии ускоренных испытаний тестовых структур на пластине
Описание
Описание файла отсутствует
Характеристики ВКР
Предмет
Учебное заведение
Просмотров
101
Покупок
0
Размер
683,01 Kb
Список файлов
- Исследование возможности оценки надежности СБИС на основе методологии ускоренных испытаний тестовых структур на пластине.pdf 878,32 Kb
Хочешь зарабатывать на СтудИзбе больше 10к рублей в месяц? Научу бесплатно!
Начать зарабатывать
Начать зарабатывать