СЗМ (Раздаточные материалы от преподавателя), страница 17
Описание файла
Файл "СЗМ" внутри архива находится в папке "Раздаточные материалы от преподавателя". PDF-файл из архива "Раздаточные материалы от преподавателя", который расположен в категории "". Всё это находится в предмете "метрология, стандартизация и сертификация (мсис)" из 11 семестр (3 семестр магистратуры), которые можно найти в файловом архиве МГТУ им. Н.Э.Баумана. Не смотря на прямую связь этого архива с МГТУ им. Н.Э.Баумана, его также можно найти и в других разделах. Архив можно найти в разделе "остальное", в предмете "метрологическое обеспечение инновационных технологий" в общих файлах.
Просмотр PDF-файла онлайн
Текст 17 страницы из PDF
И.Е.Тамм – "Основы теории электричества", М.: "Наука", 1976, 616 с.45. Л.Д.Ландау, Е.М.Лифшиц - "Теоретическая физика том 2 – Теория поля",М.: "Наука", 1973, 504 с.46. A.M. Алексеев, Ю.В.Веревкин, Н.В.Востоков, В.Н.Петряков, Н.И.Полушкин,А.Ф.Попков, Н.Н.Салащенко – Наблюдение лазерно-индуцированных локальныхмодификациймагнитногопорядкавслояхпереходныхметаллов// Письма в ЖЭТФ, 73, 214 (2001).47. D.W.Pohl, W.Denk, M.Lanz – Optical spectroscopy: image recording with resolutionλ/20. // Appl. Phys.
Lett., v. 44, p. 651 – 653 (1984).48. U.Durig, D.W.Pohl, F.Rohrer – Near-field optical-scanning microscopy. J.Appl. Phys. 59(10) 3318-3327, 1986.49. В.Ф.Дряхлушин, А.Ю.Климов, В.В.Рогов, С.А.Гусев – Зонд сканирующегоближнепольного оптического микроскопа. // Приборы и техника эксперимента,№ 2, с. 138-139 (1998).50. P.K.Wei, W.S.Fann – The probe dynamics under shear force in near-field scanningoptical microscopy. // J.
Appl. Phys., v. 83, № 7, p. 3461 – 3468 (1998).51. D.G.Volgunov, A.V.Buryukov, S.V.Gaponov, V.L.Mironov - Probe - surface interactionin the piezo-resonator "shear force" microscope. // Physics of Low – DimensionalStructures, № 3/4, p. 17-23 (2001).52. D.Courjon, C.Bainier – Near field microscopy and near field optics. Rep.
Prog. Phys. 57,p. 989 – 1028, (1994).53. H.K.Wickramasinghe – Progress in scanning probe microscopy. // Acta materialia, 48, p.347-358 (2000)..