20090526_2350 (чернь3) (Ещё один готовый курсовик), страница 4
Описание файла
Файл "20090526_2350 (чернь3)" внутри архива находится в папке "Ещё один готовый курсовик". Документ из архива "Ещё один готовый курсовик", который расположен в категории "". Всё это находится в предмете "управление качеством" из 10 семестр (2 семестр магистратуры), которые можно найти в файловом архиве РТУ МИРЭА. Не смотря на прямую связь этого архива с РТУ МИРЭА, его также можно найти и в других разделах. Архив можно найти в разделе "курсовые/домашние работы", в предмете "управление качеством электронных средств" в общих файлах.
Онлайн просмотр документа "20090526_2350 (чернь3)"
Текст 4 страницы из документа "20090526_2350 (чернь3)"
где: λ1КВ – интенсивность отказов врубного контакта разъёма ( [4]).
для J1: | для J2: |
-
Интенсивность отказа аппаратуры варианта книжной конструкции определим по формуле:
для J1: | для J2: |
-
Интенсивность отказа аппаратуры варианта кассетной конструкции определим по формуле:
для J1: | для J2: |
-
Учёт влияния условий окружающей среды на интенсивность отказа аппаратуры.
-
Интенсивность отказов аппаратуры с учетом её работы при реальной температуре, выбранной внутри интервала допустимых температур определим по формуле:
-
где: Кэ – поправочный коэффициент, учитывающий режимы эксплуатации для различных классов аппаратуры (задан как ω = 0,9).
для разъёмной конструкции:
для J1: | для J2: |
для книжной конструкции:
для J1: | для J2: |
для кассетной конструкции:
для J1: | для J2: |
-
Интенсивность отказов аппаратуры с учетом влияния условий окружающей среды определим по формуле:
где: КМ – коэффициент, учитывающий влияние механических воздействий (КМ = 1,0 Приложение 2);
КВЛ – коэффициент, учитывающий влияние влажности (КВЛ = 1,0 Приложение 2);
КД – коэффициент, учитывающий влияние пониженного давления (КД = 1,14 Приложение 2).
для разъёмной конструкции:
для J1: | для J2: |
для книжной конструкции:
для J1: | для J2: |
для кассетной конструкции:
для J1: | для J2: |
-
Среднее время безотказной работы аппаратуры определим по формуле:
для разъёмной конструкции:
для J1: | для J2: |
для книжной конструкции:
для J1: | для J2: |
для кассетной конструкции:
для J1: | для J2: |
-
Определение количества микросхем и субблоков аппаратуры основного состава и ЗИПа.
-
Число профилактических осмотров.
-
Т.к. аппаратура эксплуатируется в течение части суток, и при этом осуществляются профилактические осмотры в промежутках между рабочими циклами, то величину среднего времени между отказами аппаратуры определяем путем решения уравнения:
-
-
где: ТПР – время профилактического осмотра.
Это уравнение решаем графоаналитически (Приложение 3), путем нахождения общей точки кривых Т1 и Т2 – Т3, описываемых формулами:
для разъёмной конструкции:
для J1: | для J2: |
для книжной конструкции:
для J1: | для J2: |
для кассетной конструкции:
для J1: | для J2: |
-
Время назначенного ресурса аппаратуры определим по формуле:
для разъёмной конструкции:
для J1: | для J2: |
для книжной конструкции:
для J1: | для J2: |
для кассетной конструкции:
для J1: | для J2: |
-
Время наработки между двумя профилактическими осмотрами определим по формуле:
для разъёмной конструкции:
для J1: | для J2: |
для книжной конструкции:
для J1: | для J2: |
для кассетной конструкции:
для J1: | для J2: |
-
Число профилактических осмотров в течение времени назначенного ресурса аппаратуры определим по формуле:
для разъёмной конструкции:
для J1: | для J2: |
для книжной конструкции:
для J1: | для J2: |
для кассетной конструкции:
для J1: | для J2: |
-
Комплект ЗИП.
-
Типовыми элементами замены (ТЭЗ) аппаратуры являются:
-
для варианта разъёмной конструкции – субблок,
для варианта кассетной конструкции – кассета,
для варианта книжной конструкции – блок.
-
Количество ТЭЗ в комплекте ЗИПа определяется в два этапа:
а) определим количество ЭВ, необходимое для замены:
для устройства ввода-вывода:
для J1 и J2: |
для арифметического устройства:
для J1 и J2: |
для устройства управления:
для J1 и J2: |
б) количество ТЭЗ в комплекте ЗИПа определим по формуле:
для устройства ввода-вывода:
для J1 и J2: |
для арифметического устройства:
для J1 и J2: |
для устройства управления:
для J1 и J2: |
-
Количество субблоков, заменяемых при проведении профилактических осмотров в течении времени назначенного ресурса.
-
Количество ТЭЗ, заменённых в течение времени назначенного ресурса, определяем по формуле:
-
для разъёмной конструкции:
для J1: | для J2: |
для книжной конструкции:
для J1: | для J2: |
для кассетной конструкции:
для J1: | для J2: |
-
Распределение по типам субблоков, заменяемых при проведении профилактических осмотров, для варианта разъёмной конструкции аппаратуры определяем по формуле:
для устройства ввода-вывода:
для J1: | для J2: |
для арифметического устройства:
для J1: | для J2: |
для устройства управления:
для J1: | для J2: |
-
Количество субблоков j-го типа, заменяемых в течение времени назначенного ресурса, определяем по формуле:
где: א – число допустимых замен микросхем в субблоке (א = 3).
для устройства ввода-вывода:
для J1: | для J2: |
для арифметического устройства:
для J1: | для J2: |
для устройства управления:
для J1: | для J2: |
-
Количество кассет устройства управления, заменяемых при проведении профилактических осмотров в течение времени назначенного ресурса, определяем по формуле:
для J1: | для J2: |
-
Количество кассет устройства управления, заменённых в течение времени назначенного ресурса, определяем по формуле:
для J1: | для J2: |
-
Количество субблоков j-го типа в устройстве управления аппаратуры варианта кассетной конструкции, заменённых в течение времени назначенного ресурса, определяем по формуле:
для J1: | для J2: |
-
Количество кассет устройства ввода-вывода, заменяемых при проведении профилактических осмотров в течение времени назначенного ресурса, определяем по формуле:
для J1: | для J2: |
-
Количество кассет устройства ввода-вывода, заменяемых в течение времени назначенного ресурса, определяем по формуле:
для J1: | для J2: |
-
Количество субблоков в устройстве ввода-вывода аппаратуры варианта кассетной конструкции, заменённых в течение времени назначенного ресурса, определяем по формуле:
для J1: | для J2: |
-
Количество кассет арифметического устройства, заменяемых при проведении профилактических осмотров в течение времени назначенного ресурса, определяем по формуле:
для J1: | для J2: |
-
Количество кассет арифметического устройства, заменённых в течение времени назначенного ресурса, определяем по формуле:
для J1: | для J2: |
-
Количество субблоков арифметического устройства аппаратуры варианта кассетной конструкции, заменённых в течение времени назначенного ресурса, определяем по формуле:
для J1: | для J2: |
-
Количество субблоков аппаратуры варианта книжной конструкции, заменённых в течение времени назначенного ресурса, определяем по формуле:
для J1: | для J2: |
-
Количество субблоков j-го типа устройства управления аппаратуры варианта книжной конструкции, заменённых в течение времени назначенного ресурса, определяем по формуле:
для J1: | для J2: |
-
Количество субблоков устройства ввода-вывода аппаратуры варианта книжной конструкции, заменённых в течение времени назначенного ресурса, определяем по формуле:
для J1: | для J2: |
-
Количество субблоков арифметического устройства аппаратуры варианта книжной конструкции, заменённых в течение времени назначенного ресурса, определяем по формуле:
для J1: | для J2: |
-
Количество субблоков и микросхем, необходимых для эксплуатации аппаратуры.
-
Количество субблоков j-го типа, необходимое для эксплуатации аппаратуры варианта разъёмной конструкции в течение времени назначенного ресурса, определяем по формуле:
-