лаба1 (Выполненные лабораторные работы)
Описание файла
Файл "лаба1" внутри архива находится в папке "Выполненные лабораторные работы". Документ из архива "Выполненные лабораторные работы", который расположен в категории "". Всё это находится в предмете "электроника" из , которые можно найти в файловом архиве МГТУ им. Н.Э.Баумана. Не смотря на прямую связь этого архива с МГТУ им. Н.Э.Баумана, его также можно найти и в других разделах. Архив можно найти в разделе "лабораторные работы", в предмете "электроника и микропроцессорная техника" в общих файлах.
Онлайн просмотр документа "лаба1"
Текст из документа "лаба1"
Министерство образования Российской Федерации
Московский государственный технический университет
им. Н.Э.Баумана
__________________________________________________________________________
ЛАБОРАТОРНЫЙ ПРАКТИКУМ ПО КУРСУ
”Электроника и микропроцессорная техника”
ИССЛЕДОВАНИЕ ВОЛЬТАМПЕРНЫХ ХАРАКТЕРИСТИК БИПОЛЯРНОГО ТРАНЗИСТОРА.
Выполнил:
Группа: БМТ1-51
Проверил: Созинов Б.Л.
Кафедра РАДИОЭЛЕКТРОННЫЕ СИСТЕМЫ И УСТРОЙСТВА
_____________________________________________________________________
Москва 2006 год
Исследование статических вольтамперных характеристик биполярного транзистора, включенного по схеме с общим эмиттером.
Целью работы является освоение методик измерения статических вольтамперных характеристик (ВАХ) биполярного транзистора, включенного по схеме с общим эмиттером (ОЭ). На базе полученных ВАХ транзистора научиться вычислять его малосигнальные низкочастотные усилительные параметры.
Задание на выполнение работы.
-
Ознакомиться с паспортными данными на транзистор марки КТ501М. По паспортным данным определить пределы изменений токов и напряжений, в которых следует провести экспериментальные измерения ВАХ транзистора.
Паспортные данные на транзистор КТ501М.
Рк.max = 350 мВт,
Iк.max = 300 мА,
Uкб.max = 60 B
Uэбо.max = 60 B
h21э = 40…120
Iкб0 < 1мкА
fгр => 5 МГц
Cк =< 50 пФ
На базе паспортных данных транзистора изготовляется график-заготовка, куда в ходе измерений наносятся экспериментальные точки выходных характеристик биполярного транзистора.
Пределы изменений токов и напряжений, в которых следует провести экспериментальные измерения ВАХ транзистора:
-
максимальный ток коллектора IК.max. = 10 мА
-
максимальное напряжение на коллекторе UКЭ.max.экс = 15 В
Рис. 1. График-заготовка для выходной характеристики биполярного транзистора, включенного по схеме ОЭ.
-
Собрать схему для измерения семейства статических выходных характеристик транзистора, включенного по схеме с общим эмиттером.
Р
ис. 2. Принципиальная схема стенда для измерения семейства выходных характеристик биполярного транзистора в схеме ОЭ.
-
Измерить семейство выходных характеристик IК=f(UКЭ) биполярного транзистора.
IБ1* = 60.6 мкА
Выходные характеристики IК1(Uкэ), IК2(UКЭ), IК3(UКЭ), IК4(UКЭ) с токами базы IБ1 = IБ1*, IБ2= 0.75* IБ1*, IБ3= 0.5* IБ1*, IБ4= 0.25* IБ1* соответственно.
Таблица №1.
Uкэ[B] | 0 | Uкэ.нас | -1 | -3 | -5 | -10 | -15 |
Iк1[мА] | 0 | 4.28 (0.17) | 4.76 | 4.89 | Iк1*=5.00 | 5.15 | 5.51 |
Iк2[мА] | 0 | 3.28 (0.15) | 3.63 | 3.64 | Iк2*=3.66 | 3.68 | 3.70 |
Iк3[мА] | 0 | 1.99 (0.14) | 2.21 | 2.23 | Iк3*=2.26 | 2.26 | 2.28 |
Iк4[мА] | 0 | 0.86 (0.14) | 0.95 | 0.99 | Iк4*=1.00 | 1.01 | 1.03 |
Таблица №2
Uкэ [В.] | Iк [ма] | IБ [мкА] |
5 | IК1* = 5.00 | IБ1* = 60.6 |
5 | IК2* = 3.66 | IБ2 =0.75* IБ1*= 45.5 |
5 | IК2* = 2.26 | IБ3 =0.50* IБ1*= 30.3 |
5 | IК4* = 1.00 | IБ4 =0.25* IБ1*= 15.2 |
-
Собрать схему для измерения семейства статических входных и передаточной характеристик транзистора, включенного по схеме ОЭ.
Рис. 3. Схема для измерения семейства входных и передаточной характеристик транзистора, включенного по схеме ОЭ.
-
Измерить входные IБ=f(UБЭ) и передаточную IК=f(UБЭ) характеристики транзистора в схеме ОЭ.
Входные характеристики измеряются для двух напряжений на коллекторе: UКЭ*= -5 В. (работа транзистора в активном режиме) и UКЭ**= 0 В. (работа транзистора в режиме насыщения). Передаточную характеристику транзистора необходимо получить только для активного режима (UКЭ*= -5 В).
Определяем шаг изменения тока базы IБ, с которым проводят измерения:
IБ = IБmax / n = 60 мкА / 10 = 6 мкА,
где n = 10 – желаемое число экспериментальных точек.
При последнем измерении определяем напряжение на базе Uб0, когда коллекторный ток уменьшится до 5 – 10 мкА:
Uб0 = 0.45 В.
Измеряем сквозной ток транзистора IКЭ0, т.е. ток в коллекторной цепи при нулевом базовом токе:
IКЭ0 = 40 мА при Uкэ = 15 В.
Таблица №3
IБ | 60 | 54 | 48 | 42 | 36 | 30 | 24 | 18 | 12 | 6 |
UБЭ5 | 0.61 | 0.61 | 0.61 | 0.60 | 0.60 | 0.60 | 0.59 | 0.58 | 0.57 | 0.55 |
IК5 | 4.97 | 4.42 | 3.87 | 3.32 | 2.77 | 2.25 | 1.73 | 1.23 | 0.76 | 0.33 |
UБЭ0 | 0.58 | 0.58 | 0.57 | 0.57 | 0.57 | 0.56 | 0.55 | 0.54 | 0.53 | 0.51 |
По выходной характеристики транзистора для каждой ветви вычисляется выходное сопротивление rкэ транзистора как
rкэ = UКЭ/IК,
где UКЭ - приращение выходного напряжения и соответствующее ему IК - приращение выходного тока берется относительно рабочей точки с напряжением UКЭ = 5 B. Определяется четыре значения rкэ, каждое из которых соответствует току эмиттера IЭ, равному:
IЭ = IБ + IК(UКЭ = 5 B) IК(UКЭ = 5 B).
По четырем значения rкэ и тока IЭ строится зависимость rкэ=f(IЭ).
Для определения напряжения Эрли UЭР выходные характеристики аппроксимируются линейной зависимостью:
IК =a+b*UКЭ
где коэффициенты a и b определяются для каждой ветви выходной характеристики по двум измеренным точкам, например, при UКЭ = 10 B (UКЭ10 и IК10) и UКЭ = 1 B (UКЭ1 и IК1). Получив таким образом систему из двух уравнений и решая ее, находим коэффициенты a и b:
a=( IК1*UКЭ10 - IК10*UКЭ1)/( UКЭ10 - UКЭ1)
b=( IК10- IК1)/( UКЭ10- UКЭ1).
Тогда из условия, что при напряжении Эрли коллекторный ток становится равным нулю, определяем его величину:
UЭР=- (IК1*UКЭ10 - IК10*UКЭ1)/( IК10- IК1).
Каждая ветвь выходной характеристики дает свое значение UЭР, которые отличаются между собой незначительно. Их средняя величина характеризует семейство выходных характеристик транзистора.
По входным и передаточной характеристикам строятся зависимости изменения входного сопротивления по постоянному (Rвх=Uбэ/IБ) и переменному (rвх=Uбэ/IБ) току, коэффициента передачи для постоянного (В=Iк/IБ) и переменного (=Iк/IБ) тока, крутизны транзистора (S=Iк/Uбэ) от тока эмиттера (Iэ=Iк+IБ). В качестве приращений используйте показания соседних измерений, занесенные в таблицу №3.
Обработка результатов экспериментально измеренных
ВАХ биполярного транзистора.
В ходе проведения экспериментальных исследований выходных характеристик биполярного транзистора получена табличная зависимость тока коллектора от напряжения между коллектором и эмиттером при нескольких постоянных величин базового тока с равным шаговым изменением.
Рис. 1. Выходные характеристики транзистора КТ501М
Выходные характеристики транзистора позволяют определить его выходное сопротивление по переменному току, которое обозначим как rke. Это сопротивление вычисляется как отношение приращения напряжения на коллекторе Uкэ к приращению тока коллектора Iк при постоянном токе базы Iб:
rke=dUкэ/dIк при Iб=Const
С геометрических позиций выходное сопротивление по переменноу току характеризует наклон выходной характеристики. Из экспериментальных характеритик следует, что выходное сопротивление транзистора (на примере КТ501M) зависит от величины тока коллектора Iк (выходные характеристики транзистора имеют разные углы наклона).
Рис. 2. Изменение выходного сопротивления транзистора в схеме ОЭ в зависимости от величины тока коллектора (ток коллектора в мА, сопротивление в Ом).
На практике семейство выходных характеристик транзистора в активном режиме аппроксимируют линейными характеристикам, выходящими из одной точки. Это общая для всех характеристик точка, расположенная на оси х, когда ток коллектора равен нулю, носит название напряжения Эрли.
Примем, что выходная характеристика транзистора аппроксимируется линейной зависимостью
Iк=а*Uкэ+в