Надежность_ЭлементнойБазы (Раздаточные материалы), страница 4
Описание файла
Файл "Надежность_ЭлементнойБазы" внутри архива находится в папке "Раздаточные материалы". Документ из архива "Раздаточные материалы", который расположен в категории "". Всё это находится в предмете "основы надёжности технических систем" из 8 семестр, которые можно найти в файловом архиве МГТУ им. Н.Э.Баумана. Не смотря на прямую связь этого архива с МГТУ им. Н.Э.Баумана, его также можно найти и в других разделах. Архив можно найти в разделе "остальное", в предмете "основы надёжности технических систем" в общих файлах.
Онлайн просмотр документа "Надежность_ЭлементнойБазы"
Текст 4 страницы из документа "Надежность_ЭлементнойБазы"
конденсаторы керамические, стеклянные и слюдяные:
конденсаторы оксидно-электролитические алюминиевые: (10)
конденсаторы объемно-пористые танталовые: [мкФ];
конденсаторы оксидно-полупроводниковые: ;
Таблица 21
Коэффициент Kэ, зависящий от жесткости условий эксплуатации
Условия | Лабораторные | Наземные стационарные | Наземные мобильные | Суда | Гражданская авиация |
Kэ | 1 | 3 | 8 | 5 | 6 |
Таблица 22
Значения коэффициента качества изготовления Kк
Уровень качества | СП 2 | СП I | I | II | Неизвестное качество |
Kк | 0,1 | 0,5 | 1,0 | 2 | 4,0 |
1.4 Микросхемы
Эксплуатационная интенсивность отказов λэ для различных групп микросхем осуществляется по следующим зависимостям:
• интегральные полупроводниковые цифровые:
• интегральные полупроводниковые аналоговые:
• интегральные гибридные: (11)
где Kст – среднетемпературный коэффициент;
Kv – коэффициент технологичности;
Kкоп – коэффициент типа корпуса Kкор=1 (Kкор=3 для пластмассовых корпусов)
Kэ – коэффициент жесткости условий эксплуатации;
Kк – коэффициент качества.
Значения λбсг и коэффициентов Kэ, Kк приведены в табл. 23, 25, 26. Значения Kст, Kv определяют по уравнению (12) и табл. 23 и 24.
Среднетемпературный коэффициент определяется как
Таблица 23
Значения базовой среднегрупповой интенсивности отказов λбсг
и постоянные модели для Kст
Группа | Количество | λбсг∙10-6,ч-1 | А∙10-4 | В∙10-3 |
Логические, | до 10 элементов | 12,79 | ||
арифметические, | до 100 элементов | 10,54 | ||
микропроцессорные | До 1000 элементов | 20,53 | ||
комплекты; | До 5000 элементов | 37,18 | ||
Пpoграммируемые | До 10000 элементов | 0,020 | 83,17 | 22,14 |
логические матрицы; | До 50000 элементов | 102,35 | ||
Регистры сдвига; | До 100000 элементов | 17,01 | ||
Базовые матрицы; | До 250000 элементов | 19,12 | ||
Кристаллы | ||||
до 64 бит | 10,3 | |||
Оперативное запоминающее устройство (ОЗУ) | до 1024 бит до 4096 бит до 16384 бит | 0,055 | 20,53 29,07 36,18 | 22,14 |
до 65538 бит | 53 | |||
Постоянное | до 4096 бит | 20,53 | ||
запоминающее | до 16384 бит | 0,022 | 53,23 | 22,14 |
устройство (ПЗУ) | до 65536 бит | 73,6 | ||
Репрограммируемое | до 4096 бит | 26,21 | ||
запоминающее устройство (РПЗУ) | до 16384 бит до 65536 бит | 0,022 | 63,1 83,17 | 22,14 |
до 10 элементов | 6,5 1 | |||
Микросхемы | до 100 элементов | 11,04 | ||
интегральные | До 1000 элементов | 0,025 | 15,73 | 24,15 |
полупроводниковые | До 5000 элементов | 22,47 | ||
аналоговые | До 10000 элементов | 33,29 | ||
До 20000 элементов | 44,26 | |||
До 25 компонентов | 7,45 | |||
Микросхемы | До 50 компонентов | 8,3 | ||
интегральные | До 100 компонентов | 0,030 | 10,13 | 24,37 |
гибридные | До 500 компонентов | 11,09 | ||
свыше 500 | 13,23 |
Таблица 24
Коэффициент технологичности Kv в зависимости технологии изготовления
Технология | Напряжение источника питания, В | ||
До 10 | до 12,6 | До 15 | |
Комплементарный металл – окисел – полупроводник (КМОП) | 1,2 | 3,5 | 11 |
Прочие виды | 1,2 | 1,2 | 1,2 |
Таблица 25
Коэффициент Kэ, зависящий от жесткости условий эксплуатации
Условия | Лабораторные | Наземные стационарные | Наземные мобильные | Суда | Гражданская авиация |
Kэ | 0,7 | 2,5 | 4,0 | 5,0 | 6,0 |
Таблица 26
Значения коэффициента качества изготовления Kк
Уровень качества | СП 1 | I | II | Неизвестное качество |
Kк | 0,3 | 1,0 | 2,0 | 10,0 |
1.5. Соединители
Эксплуатационная интенсивности отказов λэ для различных групп соединителей определяется по следующей зависимости:
где Kр – коэффициент режима;
Kкк – коэффициент количества задействованных контактов;
Kкс – коэффициент сочленений-расчленений;
Kэ – коэффициент жесткости условий эксплуатации;
Kк – коэффициент качества.
Значения λбсг и коэффициентов Kэ, Kк приведены в табл. 27-29. Значения Kр, Kкк, Kкс определяют, используя уравнения (14) и (15).
Таблица 27
Значение базовой среднегрупповой интенсивности отказов λбсг
Группы | λбсг∙10-6,ч-1 |
Низкочастотные цилиндрические для объемного монтажа нормальных габаритов | 0,0005 |
Низкочастотные цилиндрические для объемного монтажа малогабаритные | 0,0010 |
Низкочастотные цилиндрические для объемного монтажа миниатюрные | 0,0025 |
Низкочастотные прямоугольные для объемного монтажа нормальных габаритов | 0,0012 |
Низкочастотные прямоугольные для объемного монтажа миниатюрные | 0,0013 |
Низкочастотные прямоугольные для печатного монтажа | 0,0013 |
Радиочастотные с фторопластовой изоляцией | 0,0012 |
Радиочастотные с полиэтиленовой изоляцией | 0,0125 |
Коэффициент режима Kр вычисляют по следующей зависимости:
где tп – температура нагрева контактов по ТУ при максимальной токовой нагрузке, °С;
t – температура окружающей среды, °С;
I – рабочий ток через соединение, А;
Iмакс – максимально допустимый по ТУ ток через соединение, А;