Book1 (Учебник Конструирование РЭС), страница 7
Описание файла
Файл "Book1" внутри архива находится в папке "Учебник Конструирование РЭС". Документ из архива "Учебник Конструирование РЭС", который расположен в категории "". Всё это находится в предмете "основы конструирования и технологии приборостроения радиоэлектронных средств (окитпрэс)" из 6 семестр, которые можно найти в файловом архиве МАИ. Не смотря на прямую связь этого архива с МАИ, его также можно найти и в других разделах. Архив можно найти в разделе "книги и методические указания", в предмете "основы конструирования и технологии рэс" в общих файлах.
Онлайн просмотр документа "Book1"
Текст 7 страницы из документа "Book1"
Уровень S2— блок цифрового вычислителя самолета. Будем
считать, что блок сконструирован на бескорпусных МСБ с объемом 5
дм 3 и рассеивает за счет конвекции и излучения 50 Вт. На рис. 1.6 при-
Рис. 1.6. Зависимости допустимой мощности
рассеяния блока IV поколения
от объема корпуса и условий теплопередачи:
I — излучение и естественная конвекция;
2 — излучение и обдув воздуха вокруг корпуса (V= 0,1 м/с);
3 — только излучение
36
ведены ориентировочные зависимости допустимой мощности рассеяния блока IV поколения при температуре среды +60°С и перегреве корпуса относительно среды на 20°С от объема корпуса и условий теплопередачи. Как видно из графика, для заданных условий (кривая 1) такую мощность рассеивает блок с объемом не менее 7дм3 .В общемслучае можно считать, что причиной ограничения объема блока является допустимая тепловая напряженность, т.е.
Vдоп ≥Ррасс /Руд,расс,доп
Уровень S1- субблок (микросборка) приемоусилительного тракта.
В работе [9] показано, что уменьшение размеров усилительной МСБ в k l раз приводит вначале к увеличению паразитных емкостей
(Cпар к/ Cпар 0; Cпар к/ Cпар0 паразитные емкости между проводниками
микросборки в первоначальном варианте, в варианте с уменьшенными размерами соответственно) и уменьшению устойчивой работы схемы до значения k1 = 2,36, а далее
Рис. 1.7. Зависимость
относительного изменения
паразитных емкостей МСБ
от относительного уменьшения
происходит обратное (рис.1.7). Практический вывод из это-
го: при высоте корпуса МСБ, рав-
ной 7...10 мм, уменьшение ее ли-
нейных размеров в 2—4 раза край-
не нежелательно, так как устой-
чивость усиления ухудшается в 7
раз, поэтому рекомендуемое
уменьшение должно быть не ме-
нее, чем в 8...10 раз. Иными слова-
ми, имеем ограничение на массо-
габаритные показатели МСБ для
обеспечения их устойчивой рабо-
ты. Более конкретно это означа-
ет, что возможен переход от МСБ
к минимикросборкам (разд. 3.10)
или линейным интегральным схе-
мам в виде кристаллов.
Уровень S 0 — логические ИС, полупроводниковые генераторы крайне высоких частот.
37
Рис. 1.8. Взаимное расположение структур ИС
в сетке уровней работы переключения:
7 — биполярные ИС; 2 —КМДП ИС;
3 — р - МДП БИС; 4 — И2Л БИС
1. Логические ИС. От их
быстродействия и задержек
сигнала в линиях связи (ори-
ентировочно 0,1 нс на 1 см
проводника) в сильной степе-
ни зависят быстродействие и
производительность борто-
вых и наземных ЭВМ. С рос-
том миниатюризации конст-
рукций ФЯ и увеличением
плотности монтажа в МСБ за-
держки сигналов становятся
все более сравнимы с време-
нем переключения единично-
го логического элемента τэ.
Выясним, от чего зависит это
время и чем оно ограничива-
ется. Во-первых, для полупро-
водниковых приборов сущест-
вует теоретический предел на
работу переключения А = Рэ τ э = k Тэ In 2 = 2·10-14 Дж, где рэ — мощность потребления элемента; k — постоянная Больцмана; Тэ — температура элемента, К. Реальные уровни этого показателя (рис. 1.8) на один-три порядка ниже (для биполярных транзисторных ключей А=10-10 Дж, для комплементарных МДП-структур (КМДП)А=10-11 Дж; для интегральной инжекционной логики (И2Л)
А = 10-13 Дж). Объясняется это существующими уровнями технологии (предельными ее возможностями в получении минимальной ширины базы W). Из физики полупроводников известно, что р — n переход имеет нелинейные свойства лишь при напряжении U 36 = k Тэ /ē > 1 В, где ē — заряд электрона. Минимально возможная ширина базы определяется электрической прочностью полупроводника (Е = 10 6В/см), тогда
Wmin= U эб /Епр = 10-6 см = 0,01 мкм . В этом случае максимальное быстродействие, т.е. минимальное время переключения
τ э = W/vm = 10 -12 с = 1 пс, где vm — максимальная дрейфовая скорость носителей, равная 106 см/с. Таким образом, предельная величина времени переключения равна 1 пс, а для рассматриваемых структур она на три-четыре порядка выше (для биполярных 1 не,для КМДП — 10 нс, И 2Л —
38
50 не) из-за наличия технологического барьера (ширина базы р - п-пе-
рехода в настоящее время измеряется единицами микрометров).
2. Полупроводниковые генераторы крайне высоких частот
(КВЧ). Существующие в настоящее время генераторы СВЧ на полупроводниковых приборах имеют незначительный КПД. Например, для лавинно-пролетных диодов (ЛПД) на кремнии он равен 5...10%, а на арсениде галлия — 20...30%. Такие низкие значения КПД объясняются следующим. Для каждого класса генераторов (на электровакуумных или полупроводниковых приборах) существует своя, так называемая физи-
ко-технологическая, постоянная, т.е. физический предел α =P·f 2 , где
Р — генерируемая мощность,f— рабочая частота. Чем выше частота,
тем меньше генерируемая мощность и тем меньше КПД. Причем поскольку наибольшее влияние на эту постоянную оказывает скорость vm, движения носителей заряда (Vт ЭВП =3-1010 мм/с и
vmПП=107мм/с) наряду с диэлектрической постоянной и напряженностью электрического поля, то и генерируемая мощность на одной и той же рабочей частоте для полупроводниковых приборов будет меньше этой величины
на три порядка.
Таким образом, при конструировании генераторов миллиметрового диапазона волн следует считаться с этим ограничением по мощности.Конкретно это выражается в том, что один мощный передатчик, например на лампе бегущей волны или магнетроне, может быть заменен в миниатюрных конструкциях на тысячу полупроводниковых генераторов со сложением мощностей в общей нагрузке: либо сложением мощностей при параллельной работе N генераторов на общие шины нагрузки,либо сложением их мощности на тройниках. Первый способ из-за трудности согласования генераторов с нагрузкой на СВЧ не применяется,так как число работающих параллельных генераторов ограничено:N≤10. В тройнике (делителе мощности, гибридном мосте) обеспечиваются равенство волновых сопротивлений в его плечах и достаточная развязка между ними (порядка 30 дБ). Число тройников, нужных для сложения мощностей N генераторов, рассчитывается по формуле nт = lg2N, а суммарный коэффициент передачи по мощности по формуле К рΣ =КnTр,
где КP—коэффициент передачи по мощности одного тройника*. Поэтому если имеется, например, 1024 генератора
* Высоцкий Б.Ф., Войнич Б.А. Элементы инженерного расчета микроэлектронных
радиолокационных устройств. — М.: МАИ, 1971.
39
миллиметрового диапазона с выходной мощностью Р = 0,2 Вт каждый, то потребуется число тройников п T = lg2 1024= 10, а суммарный коэффициент передачи при Кр = 0,96 будет равен
КрΣ = 0,66. На выходе получим суммарную мощность
РΣ = 0,2∙1024∙ 0,66 = 135 Вт, т.е. примерно треть мощности теряется в тройниках. Поэтому число генераторов и тройников следует выбирать из условия получения достаточного коэффициента (например, порядка 0,8) и возможности размещения определенного числа генераторов в одной плоскости с микрополосковыми тройниками. Так, при λ,= 10 мм на поликоровой подложке размером 48x48 мм возможно разместить 64 излучателя АФР при n т = 6 и КpΣ =0,783, что вполне приемлемо как по площади и энергетике, так и по технологии изготовления, при условии, что базовая пластина для напыления ограничена размерами 48x60 мм.
1.4. Правила и принципы
микроэлектронного конструирования РЭС
Правила и принципы микроэлектронного конструирования РЭС, естественно, включают в себя все общие правила и принципы, характерные для РЭС в целом. Однако они имеют ряд особенностей. Перечислим основные правила микроэлектронного конструирования РЭС [2]:
невозможно создать новый экономически приемлемый и работоспособный вариант микроэлектронной конструкции, не пересмотрев электрическую принципиальную схему прототипа;
использование электрической принципиальной схемы обычного РЭС в микроэлектронном варианте с новой элементной базой практически полностью исключается: в лучшем случае в основу его разработки может быть положена электрическая функциональная схема, в остальных — только требования ТЗ;
при конструировании микроэлектронных средств должен быть использован принципиально новый подход к проектированию структуры РЭС;
использование ИС возможно большей степени интеграции для повышения надежности и уменьшения массы, габаритов и стоимости РЭС;
применение в конструкциях аналоговых устройств и субблоков навесных компонентов, по форме совместимых с пленарными конструкциями ИС, для уменьшения дезинтеграции по массе и объему;
замена функциональных узлов из дискретных ЭРЭ на аналоги интегральной и функциональной электроники (см. табл. В.2).
40
Наглядный пример выполнения первых трех правил был приведен в
разд. 1.2 при оптимизации конструкции бортовой РЛС. Выполнение
четвертого правила подтверждается всем ходом развития микроэлект-
роники, а именно: появлением и внедрением в конструкции РЭС интег-
ральных схем с числом элементов до 106 вентилей на кристалл. При
этом надежность и стоимость БИС и СБИС в условиях эксплуатации и
их массового производства незначительно отличаются от этих показа-
телей ИС средней и малой степени интеграции, а массы и габариты
РЭС, построенных на них, в отличие от прототипов уменьшаются почти
на порядок, так как высокая интеграция позволяет все элементы, ком-
поненты и монтаж, ранее находящиеся на платах и подложках, разме-
стить на одном кристалле БИС. Уместно все же заметить, что и для
БИС существует предел интеграции, обусловленный тем, что с увели-
чением числа элементов в кристалле резко возрастает та часть его пло-
щади, которая отводится на межсоединения и периферийные выводы
от него, т.е. ,где N—число элементов; h т — шаг трассы межсоединений, зависящий от уровня развития полупроводниковой технологии [9]. Кроме того, с увеличением площади кристалла уменьшается процент выхода годных ИС; например, при увеличении стороны кристалла цифровых ИС с 4 до 10 мм процент выхода годных падает с 12...15% до 4...5%.
Эффективность выполнения пятого правила может быть показана
на примере замены каркасной катушки индуктивности мегагерцевого
диапазона волн на интегральные пьезоэлектрические фильтры в кор-
пусе 115.15-3 с размерами 19,5x14,5x3,2 мм в условной линейке усилителя промежуточной частоты (УПЧ), конструктивно выполненной в виде пенальной формы экранированного субблока (рис. 1.9). Примем, что минимально возможный внешний диаметр каркаса катушки индуктивности D=5мм (при меньшем значении без сердечника будет очень низкая добротность). Для получения максимально возможной добротности катушки должно соблюдаться отношение l/D = 1, где l —длина намотки провода; для того чтобы экран не вносил потери более чем 20% и не приводил к расстройке контура, расстояния h э от края намотки до экранов (сверху и снизу) должны быть не менее половины диаметра катушки. Тогда минимальная высота катушки равна hK min = l + 2hэ=D + D= 10мм. Примем также, что в обоих вариантах толщина стенок корпуса