КП Попов Алиса (Большущая куча доков и образцов)
Описание файла
Файл "КП Попов Алиса" внутри архива находится в следующих папках: ! Расчетное задание [Большая Куча Доков], КП Попов Алиса. Документ из архива "Большущая куча доков и образцов", который расположен в категории "". Всё это находится в предмете "физика и технология некристаллических полупроводников" из 8 семестр, которые можно найти в файловом архиве НИУ «МЭИ» . Не смотря на прямую связь этого архива с НИУ «МЭИ» , его также можно найти и в других разделах. Архив можно найти в разделе "остальное", в предмете "физика и технология некристаллических полупроводников" в общих файлах.
Онлайн просмотр документа "КП Попов Алиса"
Текст из документа "КП Попов Алиса"
М
ОСКОВСКИЙ ЭНЕРГЕТИЧЕСКИЙ ИНСТИТУТ
(ТЕХНИЧЕСКИЙ УНИВЕРСИТЕТ)
ИЭТ
ФЭМАЭК
Типовой расчет по физике и технологии
некристаллических полупроводников
"Определение параметров ближнего порядка в расположении атомов аморфных веществ по данным электронографических исследований"
Вариант №5
a-Se
Выполнила: студентка
Группы Эл-15-04
Рудова Алиса
Задание:
Построить ФРРА и определить параметры ближнего порядка.
Построим кривые почернения в масштабе D(log t)
Таблица 1.
S, A-1 | D, отн. ед. | ||||
2 | 4 | 8 | 16 | 32 | |
0.2 | 19.5 | 23 | 23.7 | - | - |
0.4 | 14.5 | 19 | 22.5 | 24 | - |
0.6 | 11 | 16 | 20 | 23.5 | - |
0.8 | 9 | 13.7 | 18 | 22.2 | 12.8 |
1 | 8 | 12.6 | 16 | 21.4 | 23.4 |
1.2 | 8 | 13 | 16 | 21.4 | 23.4 |
1.4 | 8.3 | 13.5 | 16.3 | 21.5 | 23.3 |
1.6 | 8.3 | 13.5 | 16.3 | 21.9 | 23.5 |
1.8 | 8 | 13 | 16 | 21.7 | 23.5 |
2 | 7.5 | 12 | 14.7 | 21.3 | 23.3 |
2.2 | 6.8 | 10 | 13.5 | 20.4 | 23 |
2.4 | 5.6 | 8.7 | 12.8 | 19.1 | 22.4 |
2.6 | 5 | 8.2 | 12.2 | 18.3 | 22 |
2.8 | 4.8 | 8.5 | 12.3 | 17.6 | 21.5 |
3 | 4.7 | 9.2 | 12.4 | 17.4 | 20.7 |
3.2 | 4.6 | 9.5 | 12.4 | 17.5 | 20.5 |
3.4 | 4.5 | 9.8 | 12.6 | 17.6 | 20.5 |
3.6 | 4.3 | 9.3 | 12.5 | 17.5 | 20.3 |
3.8 | 3.9 | 8.3 | 11.8 | 16.7 | 20 |
4 | 3.5 | 7.6 | 11 | 15.5 | 19.4 |
4.2 | 3 | 7 | 10.3 | 14.5 | 18.5 |
4.4 | 2.7 | 6.5 | 9.5 | 13.7 | 17.6 |
4.6 | 2.5 | 6.2 | 9 | 13 | 16.7 |
4.8 | 2.2 | 6.1 | 8.5 | 12.8 | 16 |
5 | 2.3 | 6 | 8 | 12.6 | 15.5 |
5.2 | 2.2 | 5.9 | 8 | 12.5 | 15.5 |
5.4 | 2.1 | 5.7 | 8 | 12.4 | 15.6 |
5.6 | 2 | 5.6 | 7.9 | 11.8 | 15.5 |
5.8 | 1.7 | 5.3 | 7.2 | 11.3 | 15.3 |
6 | 1.5 | 4.7 | 7.5 | 10.6 | 14.7 |
Р
ис.1. Кривые почернения в масштабе D(log t)
Из полученной серии кривых выбираем характеристическую кривую. Она выбирается так, чтобы при параллельном смещении относительно оси абсцисс экспериментальные точки других кривых почернения укладывались бы на нее наилучшим образом.
Р
ис.2. Характеристическая кривая
Таблица 2. Расчет нормированной интенсивности рассеивания электронов
S, A-1 | t=2" | t=4" | t=8" | t=16" | t=32" | Iэср, отн. ед. | f2 | Iэ/f2 | Iс/f2 | i1 | Iн | |||||
t | I/I0 | t | I/I0 | t | I/I0 | t | I/I0 | t | I/I0 | |||||||
0.2 | 20 | 10 | 40 | 10 | 45 | 5.6 | - | - | - | - | 8.5 | 46.24 | 0.18 | 0.063 | - | - |
0.4 | 10 | 5 | 18 | 4.5 | 35 | 4.4 | 47 | 2.9 | - | - | 4.2 | 44.89 | 0.094 | 0.063 | - | - |
0.6 | 7 | 3.5 | 12 | 3 | 21 | 2.6 | 42 | 2.6 | - | - | 2.9 | 43.56 | 0.067 | 0.063 | 0.004 | 48.4 |
1.2 | 4 | 2 | 9 | 2.3 | 12 | 1.5 | 27 | 1.7 | 40 | 1.3 | 1.76 | 34.81 | 0.051 | 0.06 | -0.009 | 26.1 |
2 | 3 | 1.5 | 8 | 2 | 10 | 1.3 | 28 | 1.8 | 42 | 1.3 | 1.58 | 23.04 | 0.069 | 0.063 | 0.006 | 26.9 |
2.2 | 3 | 1.5 | 6 | 1.5 | 9 | 1.1 | 24 | 1.5 | 39 | 1.2 | 1.36 | 20.25 | 0.067 | 0.067 | 0 | 20.3 |
2.6 | 2 | 1 | 4 | 1 | 8 | 1 | 16 | 1 | 32 | 1 | 1 | 16 | 0.063 | 0.071 | -0.008 | 12.4 |
3.8 | 1.6 | 0.8 | 4 | 1 | 8 | 1 | 13 | 0.8 | 21 | 0.7 | 0.86 | 7.84 | 0.109 | 0.098 | 0.011 | 10.2 |
4 | 1.5 | 0.75 | 3.5 | 0.9 | 6.6 | 0.8 | 11.5 | 0.7 | 19.5 | 0.6 | 0.75 | 7.29 | 0.103 | 0.103 | 0 | 7.3 |
4.2 | 1.3 | 0.65 | 3 | 0.75 | 6 | 0.75 | 10.5 | 0.66 | 15.8 | 0.5 | 0.66 | 6.25 | 0.106 | 0.108 | -0.002 | 5.9 |
4.4 | 1.26 | 0.63 | 2.8 | 0.7 | 5 | 0.63 | 9.5 | 0.6 | 14.5 | 0.45 | 0.6 | 5.54 | 0.108 | 0.11 | -0.002 | 5.2 |
4.8 | 1.1 | 0.55 | 2.5 | 0.63 | 4 | 0.5 | 8.5 | 0.53 | 12 | 0.38 | 0.52 | 4.41 | 0.118 | 0.12 | -0.002 | 5.4 |
5.8 | 1 | 0.5 | 2 | 0.5 | 3.16 | 0.39 | 6.9 | 0.4 | 11 | 0.34 | 0.43 | 3.24 | 0.133 | 0.148 | -0.015 | 1.9 |
6 | 1 | 0.5 | 1.9 | 0.48 | 3.23 | 0.4 | 6.2 | 0.38 | 10.5 | 0.33 | 0.42 | 2.56 | 0.164 | 0.15 | 0.014 | 3.5 |
Пользуясь соотношением находим по предыдущему графику (Рис.2.) интенсивность рассеивания в относительных единицах для каждой экспозиции. Далее, определяем среднее арифметическое значение величины относительной интенсивности для каждого значения S.