Для студентов МТИ по предмету Нейронные сети и машинное обучениеРазработка программного модуля в пакете Matlab для определения неисправных чипов с помощью логистической регрессииРазработка программного модуля в пакете Matlab для определения неисправных чипов с помощью логистической регрессии
5,0052
2026-01-262026-01-26СтудИзба
ВКР: Разработка программного модуля в пакете Matlab для определения неисправных чипов с помощью логистической регрессии
Новинка
Описание
Дипломная работа в Matlab на тему "Разработка программного модуля в пакете Matlab для определения неисправных чипов с помощью логистической регрессии"
Пояснительная записка: 76 страниц, 19 рисунков, 11 таблиц, 25 источников.
Объектом исследования данной работы выступает рынок полупроводниковых чипов. Предметом исследования является использование методов логистической регрессии для определения неисправных чипов.
Цель данной работы – разработка программного модуля в пакете Matlab для определения неисправных чипов с применением методов логистической регрессии. Для достижения этой цели необходимо решить следующие задачи:
- описать рынок полупроводниковых чипов и его актуальные тенденции;
- исследовать методы логистической регрессии и их применение в области диагностики неисправностей;
- описать используемые средства разработки, включая возможности пакета Matlab;
- разработать программный модуль для определения неисправных чипов на основе собранных данных.
Практическая значимость результатов исследования заключается в создании эффективного инструмента для диагностики неисправных чипов, который позволит повысить качество производства и снизить затраты на тестирование. Ожидается, что разработанный программный модуль станет полезным для специалистов в области полупроводниковой электроники и поможет улучшить процессы контроля качества.
Пояснительная записка: 76 страниц, 19 рисунков, 11 таблиц, 25 источников.
Объектом исследования данной работы выступает рынок полупроводниковых чипов. Предметом исследования является использование методов логистической регрессии для определения неисправных чипов.
Цель данной работы – разработка программного модуля в пакете Matlab для определения неисправных чипов с применением методов логистической регрессии. Для достижения этой цели необходимо решить следующие задачи:
- описать рынок полупроводниковых чипов и его актуальные тенденции;
- исследовать методы логистической регрессии и их применение в области диагностики неисправностей;
- описать используемые средства разработки, включая возможности пакета Matlab;
- разработать программный модуль для определения неисправных чипов на основе собранных данных.
Практическая значимость результатов исследования заключается в создании эффективного инструмента для диагностики неисправных чипов, который позволит повысить качество производства и снизить затраты на тестирование. Ожидается, что разработанный программный модуль станет полезным для специалистов в области полупроводниковой электроники и поможет улучшить процессы контроля качества.
Файлы условия, демо
Характеристики ВКР
Учебное заведение
МТИСеместр
Просмотров
1
Размер
2,56 Mb
Список файлов
microchip test
formulas
alpha.svg
cost-function-1.svg
cost-function-2.svg
cost-function-3.svg
cost-function-4.svg
cost-function-with-regularization.svg
demo.png
gradient-descent-1.svg
gradient-descent-2.svg
gradient-descent-3.svg
hypothesis-1.svg
hypothesis-2.svg
lambda.svg
multi-class-classifier.svg
output.svg
overfitting-1.svg
predict-0.svg
predict-1.svg
sigmoid.svg
theta-0.svg
theta-j.svg
training-set-1.svg
training-set-2.svg
x-0.svg
x-i-j.svg
x-i.svg
add_polynomial_features.m
cost_function.m
gradient_callback.m
rus.lazarskiy
26 января в 23:53
Комментарии
Нет комментариев
Стань первым, кто что-нибудь напишет!
![](https://s.studizba.com/z.php?f=/templates/si/i/noavatar.png&w=100&h=100&t=1"){kind=avatar}
