Для студентов МГТУ им. Н.Э.Баумана по предмету ФизикаИнтерференция в тонких пленках. Определение геометрических параметров поверхностей прозрачных тел интерференционным методомИнтерференция в тонких пленках. Определение геометрических параметров поверхностей прозрачных тел интерференционным методом
5,0051
2024-01-142024-11-05СтудИзба
Интерференция в тонких пленках. Определение геометрических параметров поверхностей прозрачных тел интерференционным методом
Описание
Описание файла отсутствует
Файлы условия, демо
Характеристики лабораторной работы
Предмет
Учебное заведение
Семестр
Номер задания
Вариант
Просмотров
10
Размер
2,22 Mb
Список файлов
Измерение геометрических параметров поверхностей прозрачных тел интерференц. методом.pdf
МГТУ им. Н.Э.Баумана
id293579938















