Для студентов МГТУ им. Н.Э.Баумана по предмету ФизикаИнтерференция в тонких пленках. Определение геометрических параметров поверхностей прозрачных тел интерференционным методомИнтерференция в тонких пленках. Определение геометрических параметров поверхностей прозрачных тел интерференционным методом
5,0052
2024-01-142024-11-05СтудИзба
Интерференция в тонких пленках. Определение геометрических параметров поверхностей прозрачных тел интерференционным методом
Описание
Описание файла отсутствует
Файлы условия, демо
Характеристики лабораторной работы
Предмет
Учебное заведение
Семестр
Номер задания
Вариант
Просмотров
18
Размер
2,22 Mb
Список файлов
Измерение геометрических параметров поверхностей прозрачных тел интерференц. методом.pdf
Комментарии
Нет комментариев
Стань первым, кто что-нибудь напишет!
МГТУ им. Н.Э.Баумана
id293579938


















