Для студентов МГТУ им. Н.Э.Баумана по предмету ФизикаИнтерференция в тонких пленках. Определение геометрических параметров поверхностей прозрачных тел интерференционным методомИнтерференция в тонких пленках. Определение геометрических параметров поверхностей прозрачных тел интерференционным методом
5,00521
2021-10-272025-01-02СтудИзба
Интерференция в тонких пленках. Определение геометрических параметров поверхностей прозрачных тел интерференционным методом
Описание
Описание файла отсутствует
Характеристики лабораторной работы
Предмет
Учебное заведение
Семестр
Номер задания
Вариант
Теги
Просмотров
1852
Качество
Фото рукописных листов
Размер
12,47 Mb
Список файлов
Вопросы
Вопрос
не оч
Вопрос
круто
МГТУ им. Н.Э.Баумана
TemaFlex


















