Для студентов МГТУ им. Н.Э.Баумана по предмету Дипломы и ВКРИсследование возможности оценки надежности СБИС на основе методологии ускоренных испытаний тестовых структур на пластинеИсследование возможности оценки надежности СБИС на основе методологии ускоренных испытаний тестовых структур на пластине
4,78522131
2017-12-212017-12-21СтудИзба
Исследование возможности оценки надежности СБИС на основе методологии ускоренных испытаний тестовых структур на пластине
Описание
Описание файла отсутствует
Характеристики ВКР
Предмет
Учебное заведение
Просмотров
101
Размер
683,01 Kb
Список файлов
Исследование возможности оценки надежности СБИС на основе методологии ускоренных испытаний тестовых структур на пластине.pdf

Зарабатывай на студизбе! Просто выкладывай то, что так и так делаешь для своей учёбы: ДЗ, шпаргалки, решённые задачи и всё, что тебе пригодилось.
Начать зарабатывать
Начать зарабатывать