мой курсач (991079), страница 2
Текст из файла (страница 2)
Для резкого перехода:
Расчет и построение зависимости ОПЗ от приложенного напряжения.
Рассчитываем зависимости для резкого и плавного перехода:
Для того, что бы найти напряжение, при котором плавный переход становится резким, решаем равенство:
Конечная зависимость ОПЗ от приложенного напряжения будет иметь следующий вид:
Расчет и построение вольт-амперной характеристики структуры при нескольких температурах.
Концентрация собственных носителей заряда зависит от температуры. Построим ВАХ структуры при температурах T=3000K, T=3570K, T=3920K. Из графика зависимости Ni от Т находим соответствующие этим температурам концентрации собственных носителей заряда.
Построение прямых ветвей вольтамперной характеристики при различных температурах(T=3000K, T=2230K, T=3430K). Мы учитываем модуляцию сопротивления базы. Поэтому нам удобнее построить зависимость U(I).
где Rb вычисляется по формуле:
Получаем зависимость:
Справедливо лишь тогда, когда сохраняется распределение Больцмана, когда область перехода находится в квазинейтральном состоянии. При очень больших уровнях инжекции, когда концентрация дырок в базе становится равной концентрации дырок в эмиттере, (потенциальный барьер снижается меньше чем на kT/q) эти формулы не работают.
Построение обратных ветвей вольтамперной характеристики при различных температурах(T=3000K, T=3570K, T=3920K):
При температуре выше T=3920K выпрямляющий эффект не наблюдается.
Расчет и построение распределения электрического поля, изменения потенциала с расстоянием, распределения пространственного заряда.
Емакс=9,278*103 В/см
Напряженность достигает своего максимального значения при х=0, на границе металлургического перехода.
Функция распределения заряда имеет следующий вид:
Расчет и построение барьерной емкости как функции от приложенного напряжения.
Изменение толщины ОПЗ при изменении напряжения на величину ∆U связано с изменением объемного заряда нескомпенсированных ионов акцепторов вблизи левой границы ОПЗ на величину ∆Q и равного ему изменения заряда ионов доноров вблизи правой границы. Эти изменения связаны с подтеканием такого же заряда дырок к левой границе ОПЗ и электронов к правой границе ОПЗ за счет протекания тока проводимости во внешней цепи.[3]. Электронно-дырочный переход ведет себя подобно конденсатору. Емкость такого конденсатора называется барьерной емкостью p-n перехода, так как она связана с формированием потенциального барьера p-n перехода. Формула для расчета емкости плоского конденсатора[4]:
Находим зависимость барьерной емкости от напряжения для плавного перехода и резкого:
Конечная зависимость барьерной емкости от напряжения будет иметь следующий вид:
Описание инжекционной способности полученного перехода.
Оценим инжекционную способность выбранной структуры
Величина эффективности инжекции определяется отношением тока электронов к току дырок.
При расчете были использованы следующие значения:
Dn=35 см2/с – коэффициент диффузии для электронов
Dl=13 см2/с – коэффициент диффузии для дырок
Ln=0,1 см – диффузионная длинна для электронов
Lp=0,061 см – диффузионная длинна для дырок
Nd=3.457*1014 см-3 – концентрация доноров
Na=1,4*1019 см-3 – концентрация акцепторов.
Полученный результат говорит о низкой инжекционной способности материала.
Выбор соответствующего материала для создания омического контакта к полученной структуре.
Данная работа была проведена при описании технологических параметров диффузии. В качестве материала был выбран Al.
Расчет напряжения пробоя
В кремниевых p-n переходах напряжение пробоя (Uпр) можно найти, зная обратное напряжение (Uобр): [4]
Расчет диффузионной емкости.
Появление диффузионной емкости вызвано тем, что из p в n инжектируются дырки, создавая дополнительный заряд, а из n области электроны. Одновременно для сохранения нейтральности в эту область поступают основные носители заряда и суммарный заряд равен нулю. Заряды обусловлены неравновесными носителями заряда. Диффузионная емкость перехода в отличие от барьерной емкости не зависит от его геометрических размеров, а определяется только током через переход и временем жизни неосновных носителей заряда. [3].
Формула для расчета диффузионной емкости: [4].














