ДТА - Входной контроль структурно-чувствительных параметров некристаллических полупроводников при производстве приборов (991019), страница 2
Текст из файла (страница 2)
С учетом выбранного температурного диапазона измерений и скорости нагреваобразца проставить числовые значения по осям температуры и времени.3. Идентифицировать наблюдаемые фазовые переходы и определить их температуры.4. Определить температуры характеристических точек термограммы и рассчитатьэнергию активации процесса кристаллизации.КОНТРОЛЬНЫЕ ВОПРОСЫ1. Какие методы исследования структуры относятся к прямым, а какие к косвенным?2.
В чем заключается принцип метода дифференциально-термического анализа?3. Какие требования предъявляются к эталонному веществу?4. Какую информацию о свойствах стеклообразных полупроводников можно получить из термограмм ДТА?5. Как определить энергию активации кристаллизации стеклообразного материалаиз термограмм ДТА?ЛИТЕРАТУРА1. Попов А.
И., Михалев Н. И. Атомная структура некристаллических полупроводников. М.: Издательство МЭИ, 1992.2. Уэндландт У. Термические методы анализа. М.: Мир, 1978. С. 145—212..
![](https://s.studizba.com/z.php?f=/templates/si/i/noavatar.png&w=100&h=100&t=1"){kind=avatar}
