TABLE (990963), страница 2

Просмтор этого файла доступен только зарегистрированным пользователям. Но у нас супер быстрая регистрация: достаточно только электронной почты!

Текст из файла (страница 2)

Целью анализа электронограмм, полученных от аморфных материалов, является отыскание угловой зависимости интенсивности электронов I(S). Для перехода от почернений фотопластин к интенсивности рассеяния электронов веществом используется закон взаимозаменяемости, который предполагает подобие кривых почернения в функции времени при постоянной интенсивности и в функции интенсивности при постоянной экспозиции. Из этого закона следует, что для двух участков образца, имеющих одинаковые почернения, будет выполняться следующее соотношение:

(1)

Для использования этой зависимости перестроим зависимость D = f(S) в другом виде:
Величина почернения D в зависимости от времени в логарифмическом масштабе

Далее производим выбор характеристической кривой таким образом, чтобы при параллельном смещении относительно оси абсцисс экспериментальные точки других кривых почернения укладывались бы на нее наилучшим образом. Я выбрал кривую при S=2.8.

Пользуясь соотношением (1)ходим по предыдущему графику интенсивность рассеивания в относительных единицах для каждой экспозиции. алее, определяем среднее арифметическое значение величины относительной интенсивности для каждого значения S. Результат заносим в соответствующуу колонку таблицы.

Среднее арифметическое значение экспериментальной интенсивности

Чтобы нормировать функцию , значения функции делятся на соответствующие значения суммарного атомного фактора рассеивания электронов ..

Далее строятся зависимость и аппроксимационная кривая

Затем строим кривую (2). Её значения при различных S заносим соответствующий столбец таблицы.

Из двух предыдущих графиков находим нормирующий множитель J как среднее арифметическое и .

Нормированная интенсивность некогерентного рассеивания i(S) рассчитывается по формуле:

(3).

Теперь построим функцию радиального распределения по формуле:

(4)

Из графика определяем:

Опишем каждый пик полученной ФРРА кривой Гаусса:

(5)

Применим пошаговую методику отыскания заключается параметров ближнего порядка. Идея метода состоит в том, что левый фронт первого пика экспериментальной ФРРА соответствует нормальному распределению. Определим площадь первого пика, зная r₁, как удвоенную площадь левого фронта первого максимума. N₁ = 2,21. Следовательно, теперь можно определить среднеквадратичное отклонение параметров первой координационной сферы по формуле:

. (6)

Теперь из экспериментальной кривой вычитаем первый пик . Полученная после этой операции функция “открывает” левый фронт второго пика ФРРА. N₂ = 5.185

Угол связи:

Результаты расчёта:

МЭИ(ТУ)

Типовой расчёт

по курсу

“Физика и технология некристаллических полупроводников”

Определение параметров ближнего порядка

расположения атомов аморфных веществ

по данным электронографических исследований

Выполнил: Коновалов А.В.

Группа: ЭР-05-04

Проверила: Васильева Н.Д.

Москва
2008

Задание

Определить параметры ближнего порядка в расположении атомов исследуемого аморфного вещества а-Se путём обработки кривых почернения фотопластинки. Вариант №21

Таблица значений ФРРА

Характеристики

Список файлов учебной работы