63818 (695462), страница 2
Текст из файла (страница 2)
Методы активного ТК.
| Название метода | Область применения | Контролируемые параметры | Факторы, ограничивающие область применения | Чувствительность | Быстродействие (с) | Погрешность, (%) | Примечание | ||
| Стационарный | Контроль теплофизических свойств изделий с анизотропией теплопроводно-сти; | Теплопроводность теплоемкость | Допустимая температура нагрева объекта, | + 5% | 0,1 - 1,0 | 5,0- 10,0 | Для контактных датчиков | ||
| 10 - 106 | Для неконтактных датчиков | ||||||||
| контроль пористости, излучательной | Коэффициент | временная и пространственная | Amin = 0,02 | 0,1 - 1,0 | Для контактных датчиков | ||||
| способности объектов | излучения | нестабильность излучения объекта | 10-4 – 10-6 | Для неконтактных датчиков | |||||
| Нестационарный | Контроль теплофизических | Теплопроводность | (при неконтактных методах контроля) | 0,1 - 1,0 | Для контактных датчиков | ||||
| свойств материалов | 104 -106 | Для неконтактных датчиков | |||||||
| с большой теплопроводностью, динамики нагрева (охлаждения) объектов; контроль дефектов типа нарушения сполшности | Тепловая постоянная времени | 0,1 - 1,0 | 5,0- 10,0 | Для контактных датчиков | |||||
| в сотовых и композитных материалах, полимерах; контроль тепловых деформаций | Размер дефектов | Порядка М=1-3 | Время задержки 0,1 - 1,0 ДЛЯ металлов и 10-100 для неметаллов | При несинхронном контроле | |||||
| Температурная деформация | Порядка ОДА, | При интерферрационном голографическом методе регистрации | |||||||
Примечание: h – глубина залегания; / - раскрыв дефекта; Amin – минимальное изменение коэффициента излучения.
Можно отметить следующие основные преимущества теплового контроля:
- дистанционность (для ИК систем);
- высокая скорость обработки информации;
- высокая производительность испытаний, ограниченная скоростью нагре ва в активном режиме и скоростью сканирования в пассивном режиме;
- высокое линейное разрешение (до 10 мкм в ИК микроскопии);
- возможность контроля при одно- и двухстороннем подходе к изделию;
- теоретическая возможность контроля практически любых материалов, если теплофизические или спектральные свойства дефектов и материалов различаются;
- практическая целесообразность методов контроля материалов с высокой и низкой теплопроводностью, а также контроля при обилии внешних тепловых помех;
- многопараметрический характер испытаний;
- малая зависимость результатов контроля от шероховатости поверхности по сравнению с некоторыми другими видами МНК;
- возможность взаимодополняющего сочетания ТК с другими методиками МНК, особенно радиационными, капиллярными и ультразвуковыми;
- возможность исследования динамических и статистических тепловых процессов, процессов производства, преобразования, передачи, потребления и консервации энергии различных видов;
- возможность прогнозирования тепловой деградации изделий; исследования усталостных и коррозионных процессов;
- совместимость со стандартными системами обработки информации;
- возможность поточного контроля и создания автоматизированных систем контроля и управления технологическими процессами.
Таблица 5
Критерии дефектности и их зависимость от различных факторов.
| Критерии дефектности | Влияние температуры нагрева (мощности ИТН) | Влияние помехи | |||||
| Аддитивной | Мультипликативной | ||||||
| Амплитудные | + | + | |||||
| 1. Абсолютная температура Т или температурный перепад AT | + | ||||||
| 2. Температурный контраст АТ/Т | _ | + | |||||
| Критерии дефектности | Влияние температуры | Влияние помехи | |||||
| Аддитивной | Мультипликативной | ||||||
| 3. Первая производная от температуры на поверхности по толщине изделия | + | + | + | ||||
| 4. Положение экстремумов первой производной от температуры по поверхностной координате | + | ||||||
| 5.Форма температурных перепадов | - | + | + | ||||
| Временные | - | - | - | ||||
| 6.Время достижения относительных уровней температуры | |||||||
| 7. Наличие и время достижения экстремумов первой производной от температурного контраста по времени | - | - | - | ||||
| 8. Время распространения поверхностной изотермы | - | - | - | ||||
Примечание:
Знак + (-) означает, что помеха оказывает (не оказывает) существенное влияние на КД; принято, что локальное изменение оптических свойств не влияет на температуру.
Знак * свидетельствует об отсутствии исследований.
ЛИТЕРАТУРА
-
Глудкин О.П. Методы и устройства испытания РЭС и ЭВС. – М.: Высш. школа., 2001 – 335 с
-
Испытания радиоэлектронной, электронно-вычислительной аппаратуры и испытательное оборудование/ под ред. А.И.Коробова М.: Радио и связь, 2002 – 272 с.
-
Млицкий В.Д., Беглария В.Х., Дубицкий Л.Г. Испытание аппаратуры и средства измерений на воздействие внешних факторов. М.: Машиностроение, 2003 – 567 с
-
Национальная система сертификации Республики Беларусь. Мн.: Госстандарт, 200
-
Федоров В., Сергеев Н., Кондрашин А. Контроль и испытания в проектировании и производстве радиоэлектронных средств – Техносфера, 2005. – 504с.
![](https://s.studizba.com/z.php?f=/templates/si/i/noavatar.png&w=100&h=100&t=1"){kind=avatar}
