63084 (573355), страница 2
Текст из файла (страница 2)
Концепция системы:
1. Протяженный ионно-лучевой источник распыления IBSS или двойной планарный магнетрон IzoMag с автоматически меняющимися мишенями из различных материалов.
2. Протяженный ионно-лучевой источник очистки IBCS, используемый для окончательной очистки поверхности подложки от микрочастиц, адсорбированных паров газов или молекул воды и подготовки ее к напылению.
Подложка загружается в рабочую камеру через шлюзовую систему и остается неподвижной в течение всего процесса напыления. Оптический контроль осуществляется непосредственно по самой подложке. Датчик кварцевого контроля также находится в плоскости подложки.
Будучи испытанной с широким перечнем распыляемых материалов (Ti, Ta, Nb, In-Sn (5%), Al, Mg, Si, Ge, Pb, Cu, Ag и т.д) и комбинацией газов (Ar, O2, N2, H2, C2H2, C3F8, C3H8, и т.д.), установка PlsamaScan предоставляет неограниченные возможности для разработки и исследования новых процессов и тонкопленочных покрытий, что невозможно с использованием традиционного вакуумного напылительного оборудования.
Система ионно-лучевого распыления IBSS
Назначение. Система IBSS (рис.1) является высокоэффективным инструментом для качественного нанесения покрытий из металлов, сплавов, окислов, нитридов методом ионно-лучевого распыления протяженных мишеней в среде аргона, кислорода, азота, фреонов или смеси этих газов и позволяет обеспечить:
– нанесение проводников, полупроводников и диэлектриков;
– температуру подложки при распылении не выше 60°С (140°F).
– возможность последовательного распыления нескольких различных материалов в одном процессе;
– большой динамический диапазон скоростей нанесения
(1 Å/сек10 Å/сек);
– очень гладкую поверхность пленок;
– высокую плотность структуры пленок;
– однородный состав многокомпонентных пленок;
– возможность распыления мишеней длиной до 3360 мм;
– уровень неравномерности не хуже ±2% по поверхности распыления;
– надежную непрерывную работу;
– стабильные реактивные процессы распыления;
– возможность работы с инертными (Ar, He, Ne, и т.д.) и активными газами (O2, N2, CFx, CxHy и т.д.);
– косое напыление.
Схема установки IBSS показана на рис.1.
Рис. 1 - Схема установки IBSS
Применение системы ионно-лучевого распыления IBSS наиболее эффективно в следующих областях:
– напыление на чувствительные к температуре подложки;
– высококачественные оптические пленки для дисплейной промышленности;
– высокоточная оптика;
– износоустойчивые пленки;
– сверхтонкие пленки (нанотехнологии).
Система распыления IzoMag является высокоэффективным инструментом для нанесения покрытий из металлов, сплавов, окислов и нитридов методом двойного магнетронного распыления на переменном токе с частотами 40…80 кГц и магнетронного распыления на постоянном токе.
Система двойного магнетронного распыления на постоянном/переменном токе IzoMag
Схема установки IzoMag представлена на рис. 2.
Рис. 2 - Схема установки IzoMag
Основные достоинства и преимущества IzoMag:
– возможность распыления от одного до четырех материалов мишеней в одном цикле на постоянном токе;
– возможность чередующегося нанесения слоев с низким и высоким коэффициентом преломления;
– возможность нанесения сплавов переменного состава при одновременном независимом распылении двух металлических мишеней на постоянном токе;
– возможность распыления мишеней длиной до 1646 мм;
– уровень неравномерности не хуже ±5% по поверхности распыления;
– надежная непрерывная работа.
Применение системы двойного магнетронного распыления IzoMag наиболее эффективно в следующих областях:
– высококачественные оптические пленки для дисплейной промышленности;
– износоустойчивые пленки;
– декоративные пленки;
– напыление на большие поверхности;
– оптические пленки;
– защитные пленки.
Система ионно-лучевой очистки IBCS
Описание изделия. Система ионно-лучевой очистки IBCS предназначена для финишной очистки поверхности подложки от молекулярных частиц, адсорбированных газов, полимерных фрагментов, воды, а также для активации поверхностных связей подложки в вакуумной камере непосредственно перед нанесением покрытия. Ионно-лучевая очистка гарантирует отличную адгезию между первым нанесенным слоем и подложкой. Ионно-лучевой источник очистки может поставляться с оригинальным блоком питания IPS-С5K.
Достоинства:
– возможность работы с инертными (Ar) и активными (O2, N2, CFx, CxHy ) газами и их смесями;
– очистка с равномерностью не хуже ±5% подложки с шириной до 3400 мм;
– надежная продолжительная работа;
– давление в вакуумной камере в процессе очистки
10-3…102Па;
– легкая и надежная установка в вакуумные установки поточного и периодического действия;
– возможность обработки поверхности под различными углами: 10 …90°;
– высокая скорость очистки;
– надежная адгезия без специальных подслоев;
– возможность обрабатывать различные типы подложек (металлические, полупроводники, диэлектрики, полимеры).
Применение. Система ионно-лучевой очистки (рис.3) обеспечивает эффективную атомарную очистку и подготовку поверхности подложки при использовании в следующих областях:
– нанесение покрытий на большие подложки при производстве плоскопанельных дисплеев (FPD);
– нанесение покрытий на большие подложки при производстве архитектурного стекла;
– производство кремниевых микроэлектронных чипов;
– оптика и лазеры;
– оптическая электроника и телекоммуникации.
Рис. 3 - Схема ионно-лучевого источника очистки
Автоматизированная установка "НИКОЛАЙ"
Установка предназначена для получения тонких пленок различных материалов на стекле, полиэтилене, металле, бумаге методом вакуумного дугового и магнетронного напыления. Установка позволяет получать полупрозрачные и зеркальные пленки на листовых и рулонных материалах, изделиях большого габарита.
Имеется возможность получения многокомпонентных составов (до шести элементов плюс реактивные газы).
Установка рассчитана на эксплуатацию в условиях умеренного климата. Управление установкой производится от ЭВМ, что гарантирует высокое качество и стабильность технологии.
Список литературы
-
Гибкие производственные комплексы /под.ред. П.Н.Белянина. – М.: Машиностроение, 1984. – 384с.
-
Гибкое автоматическое производство/под.ред. С.А.Майорова. – М.: Машиностроение, 1985. – 456с.
-
Иванов А.А. ГПС в приборостроении. – М.: Машиностроение,1988. – 282с.













