Book1 (560502), страница 7
Текст из файла (страница 7)
Уровень S3π— антенное устройство РЛС самолета. Размещение
антенны зеркального типа (вращающегося параболоида) в носу самолета определяется ее средним сечением (миделем), а следовательно, определяет ее площадь раскрыва S А = π D2 /4 или диаметр раскрыва D.
Ометаемый объем «зеркала» равен V3 = 0,25D . Мощность излучения
Ризл антенны прямо пропорциональная площади раскрыва, а максимальная дальность обнаружения цели
где Ризл, Рmin— мощности излучаемого и принимаемого сигналов;
G — коэффициент усиления антенны; λ, — длина волны; σ — «эффективная площадь» цели.
35
Таким образом, при заданном тактическом показателе R max объем, занимаемый антенной, должен иметь ограничение «не менее», что не всегда возможно. И в этом случае на помощь приходит микроэлектроника, а именно: применение плоской антенной фазированной решетки (АФР) с Vафр = (0,01... 0,04) D3 или получение в 6...25 раз меньшего объема по сравнению с зеркальным типом. Такой значительный выигрыш можно использовать следующим образом: АФР может быть отодвинута ближе к кабине летчика, так как освобождается место от двигателя, редуктора и карданной системы параболической антенны, при этом площадь ее раскрыва увеличивается, мощность — также увеличивается, и в конечном итоге увеличивается максимальная дальность обнаружения.
Уровень S2— блок цифрового вычислителя самолета. Будем
считать, что блок сконструирован на бескорпусных МСБ с объемом 5
дм 3 и рассеивает за счет конвекции и излучения 50 Вт. На рис. 1.6 при-
Рис. 1.6. Зависимости допустимой мощности
рассеяния блока IV поколения
от объема корпуса и условий теплопередачи:
I — излучение и естественная конвекция;
2 — излучение и обдув воздуха вокруг корпуса (V= 0,1 м/с);
3 — только излучение
36
ведены ориентировочные зависимости допустимой мощности рассеяния блока IV поколения при температуре среды +60°С и перегреве корпуса относительно среды на 20°С от объема корпуса и условий теплопередачи. Как видно из графика, для заданных условий (кривая 1) такую мощность рассеивает блок с объемом не менее 7дм3 .В общемслучае можно считать, что причиной ограничения объема блока является допустимая тепловая напряженность, т.е.
Vдоп ≥Ррасс /Руд,расс,доп
Уровень S1- субблок (микросборка) приемоусилительного тракта.
В работе [9] показано, что уменьшение размеров усилительной МСБ в k l раз приводит вначале к увеличению паразитных емкостей
(Cпар к/ Cпар 0; Cпар к/ Cпар0 паразитные емкости между проводниками
микросборки в первоначальном варианте, в варианте с уменьшенными размерами соответственно) и уменьшению устойчивой работы схемы до значения k1 = 2,36, а далее
Рис. 1.7. Зависимость
относительного изменения
паразитных емкостей МСБ
от относительного уменьшения
происходит обратное (рис.1.7). Практический вывод из это-
го: при высоте корпуса МСБ, рав-
ной 7...10 мм, уменьшение ее ли-
нейных размеров в 2—4 раза край-
не нежелательно, так как устой-
чивость усиления ухудшается в 7
раз, поэтому рекомендуемое
уменьшение должно быть не ме-
нее, чем в 8...10 раз. Иными слова-
ми, имеем ограничение на массо-
габаритные показатели МСБ для
обеспечения их устойчивой рабо-
ты. Более конкретно это означа-
ет, что возможен переход от МСБ
к минимикросборкам (разд. 3.10)
или линейным интегральным схе-
мам в виде кристаллов.
Уровень S 0 — логические ИС, полупроводниковые генераторы крайне высоких частот.
37
Рис. 1.8. Взаимное расположение структур ИС
в сетке уровней работы переключения:
7 — биполярные ИС; 2 —КМДП ИС;
3 — р - МДП БИС; 4 — И2Л БИС
быстродействия и задержек
сигнала в линиях связи (ори-
ентировочно 0,1 нс на 1 см
проводника) в сильной степе-
ни зависят быстродействие и
производительность борто-
вых и наземных ЭВМ. С рос-
том миниатюризации конст-
рукций ФЯ и увеличением
плотности монтажа в МСБ за-
держки сигналов становятся
все более сравнимы с време-
нем переключения единично-
го логического элемента τэ.
Выясним, от чего зависит это
время и чем оно ограничива-
ется. Во-первых, для полупро-
водниковых приборов сущест-
вует теоретический предел на
работу переключения А = Рэ τ э = k Тэ In 2 = 2·10-14 Дж, где рэ — мощность потребления элемента; k — постоянная Больцмана; Тэ — температура элемента, К. Реальные уровни этого показателя (рис. 1.8) на один-три порядка ниже (для биполярных транзисторных ключей А=10-10 Дж, для комплементарных МДП-структур (КМДП)А=10-11 Дж; для интегральной инжекционной логики (И2Л)
А = 10-13 Дж). Объясняется это существующими уровнями технологии (предельными ее возможностями в получении минимальной ширины базы W). Из физики полупроводников известно, что р — n переход имеет нелинейные свойства лишь при напряжении U 36 = k Тэ /ē > 1 В, где ē — заряд электрона. Минимально возможная ширина базы определяется электрической прочностью полупроводника (Е = 10 6В/см), тогда
Wmin= U эб /Епр = 10-6 см = 0,01 мкм . В этом случае максимальное быстродействие, т.е. минимальное время переключения
τ э = W/vm = 10 -12 с = 1 пс, где vm — максимальная дрейфовая скорость носителей, равная 106 см/с. Таким образом, предельная величина времени переключения равна 1 пс, а для рассматриваемых структур она на три-четыре порядка выше (для биполярных 1 не,для КМДП — 10 нс, И 2Л —
38
50 не) из-за наличия технологического барьера (ширина базы р - п-пе-
рехода в настоящее время измеряется единицами микрометров).
2. Полупроводниковые генераторы крайне высоких частот
(КВЧ). Существующие в настоящее время генераторы СВЧ на полупроводниковых приборах имеют незначительный КПД. Например, для лавинно-пролетных диодов (ЛПД) на кремнии он равен 5...10%, а на арсениде галлия — 20...30%. Такие низкие значения КПД объясняются следующим. Для каждого класса генераторов (на электровакуумных или полупроводниковых приборах) существует своя, так называемая физи-
ко-технологическая, постоянная, т.е. физический предел α =P·f 2 , где
Р — генерируемая мощность,f— рабочая частота. Чем выше частота,
тем меньше генерируемая мощность и тем меньше КПД. Причем поскольку наибольшее влияние на эту постоянную оказывает скорость vm, движения носителей заряда (Vт ЭВП =3-1010 мм/с и
vmПП=107мм/с) наряду с диэлектрической постоянной и напряженностью электрического поля, то и генерируемая мощность на одной и той же рабочей частоте для полупроводниковых приборов будет меньше этой величины
на три порядка.
Таким образом, при конструировании генераторов миллиметрового диапазона волн следует считаться с этим ограничением по мощности.Конкретно это выражается в том, что один мощный передатчик, например на лампе бегущей волны или магнетроне, может быть заменен в миниатюрных конструкциях на тысячу полупроводниковых генераторов со сложением мощностей в общей нагрузке: либо сложением мощностей при параллельной работе N генераторов на общие шины нагрузки,либо сложением их мощности на тройниках. Первый способ из-за трудности согласования генераторов с нагрузкой на СВЧ не применяется,так как число работающих параллельных генераторов ограничено:N≤10. В тройнике (делителе мощности, гибридном мосте) обеспечиваются равенство волновых сопротивлений в его плечах и достаточная развязка между ними (порядка 30 дБ). Число тройников, нужных для сложения мощностей N генераторов, рассчитывается по формуле nт = lg2N, а суммарный коэффициент передачи по мощности по формуле К рΣ =КnTр,
где КP—коэффициент передачи по мощности одного тройника*. Поэтому если имеется, например, 1024 генератора
* Высоцкий Б.Ф., Войнич Б.А. Элементы инженерного расчета микроэлектронных
радиолокационных устройств. — М.: МАИ, 1971.
39
миллиметрового диапазона с выходной мощностью Р = 0,2 Вт каждый, то потребуется число тройников п T = lg2 1024= 10, а суммарный коэффициент передачи при Кр = 0,96 будет равен
КрΣ = 0,66. На выходе получим суммарную мощность
РΣ = 0,2∙1024∙ 0,66 = 135 Вт, т.е. примерно треть мощности теряется в тройниках. Поэтому число генераторов и тройников следует выбирать из условия получения достаточного коэффициента (например, порядка 0,8) и возможности размещения определенного числа генераторов в одной плоскости с микрополосковыми тройниками. Так, при λ,= 10 мм на поликоровой подложке размером 48x48 мм возможно разместить 64 излучателя АФР при n т = 6 и КpΣ =0,783, что вполне приемлемо как по площади и энергетике, так и по технологии изготовления, при условии, что базовая пластина для напыления ограничена размерами 48x60 мм.
1.4. Правила и принципы
микроэлектронного конструирования РЭС
Правила и принципы микроэлектронного конструирования РЭС, естественно, включают в себя все общие правила и принципы, характерные для РЭС в целом. Однако они имеют ряд особенностей. Перечислим основные правила микроэлектронного конструирования РЭС [2]:
невозможно создать новый экономически приемлемый и работоспособный вариант микроэлектронной конструкции, не пересмотрев электрическую принципиальную схему прототипа;
использование электрической принципиальной схемы обычного РЭС в микроэлектронном варианте с новой элементной базой практически полностью исключается: в лучшем случае в основу его разработки может быть положена электрическая функциональная схема, в остальных — только требования ТЗ;
при конструировании микроэлектронных средств должен быть использован принципиально новый подход к проектированию структуры РЭС;
использование ИС возможно большей степени интеграции для повышения надежности и уменьшения массы, габаритов и стоимости РЭС;
применение в конструкциях аналоговых устройств и субблоков навесных компонентов, по форме совместимых с пленарными конструкциями ИС, для уменьшения дезинтеграции по массе и объему;