Реферат Добровольской (1248291), страница 3
Текст из файла (страница 3)
Рисунок 3: Геометрия обратного рассеяния в образце ионов с начальной энергией Ео
Применение метода РОР для анализа содержания легких примесей.
Впервые метод POP пытались использовать для исследования содержания водорода в Si. В энергетическом спектре обратно рассеянных протонов наблюдали "провалы" вызванные уменьшением плотности ядер матрицы на глубине, соответствующей максимуму концентрации ядер внедренного водорода. Отношение концентрации легких примесных атомов СН к концентрации атомов матрицы СSi можно определить используя приближенную формулу:
Здесь: Nобл. и Nнеобл. - выход рассеянных ионов от облученного и не облученного легкими ионами образцов. Более точная формула для определения соотношения между концентрациями атомов матрицы учитывает тормозные [S] -факторов чистой матрицы и матрицы с примесью.
Весь энергетический спектр рассеянных частиц условно можно разбить на два участка. В первом рассеяние и торможение ионов происходит на одних и тех же атомах (гомогенная структура мишени). При наличии в мишени, локализованной на некоторой глубине примесных атомов, из-за изменения тормозной способности вещества на других участках энергетического спектра наблюдаются "провалы" или "выедание". При высокой энергии анализирующих ионов (более 500 кэВ/нуклон) изменение тормозной способности вызвано наличием примесных атомов. При меньших энергиях вклад в изменение тормозной способности дополнительно вносят структурные дефекты материала (или изменение электронной плотности вещества).
В большинстве случаев исходная концентрация атомов матрицы известна и можно легко определить концентрацию примеси при условии, что в образце содержится только один тип примеси (и известен ее атомный номер). К сожалению, при определении концентрации легких примесей в металлах с помощью описанной методики форма энергетического спектра при наличии нескольких видов примесей практически не меняется.
На рисунке 4 показаны модельные спектры POP, иллюстрирующие деформацию энергетического спектра при наличии равномерно распределенного водорода в титане. Концентрация водорода в титане постоянная по глубине. Угол рассеяния α-частиц θ =165°. Энергия ионов 1,7 МэВ. Видно, что из-за невысокого сечения торможения, даже значительная по величине добавка атомов водорода приводит к небольшим изменениям энергетических спектров обратного рассеяния.
Для экспериментального исследования водорода использовался пучок ионов Не+ с энергией 1,7 МэВ ускоренных на электростатическом ускорителе ЭСГ-2,5 НИИ ядерной физики при ТПУ. На рисунке 5 показаны энергетические спектры рассеянных ионов для исходного образца титана ВТ 1-0 и образца, электролитически насыщенного Н в течение 1 ч.
Рисунок 4: Модельные энергетические спектры POP с использованием программы SIMNRA.
Рисунок 5: Энергетические спектры POP до и после электролитического насыщения водородом
Внедренный в материал водород образует твердые растворы и подрешетки в зависимости от состояния водорода в материале, его количества, внешнего давления и других условий.
На примере ванадия и водорода (Н) это следующие комбинации:
α -фаза — это твердый разупорядоченный раствор Н в о.ц.к. решетке V,
β-фаза — это V2H,
γ-фаза — это VH2 г.ц.к. решетка,
δ-фаза — это V3H2
Также бывают и другие фазы, появление которых сильно зависит от температуры образца, давления и других внешних условий. Некоторые фазы представляют собой раствор одного гидрида в другом гидриде или первоначальной структуре материала, например γ-фаза системы титан-дейтерий — это раствор Ti в гидриде TiD2, имеющий структуру типа флюорита.
С точки зрения кристаллографии, наличие подрешетки означает наличие новой кристаллографической плоскости. Для каждой такой плоскости существуют свои постоянные решеток, а значит дифракция от этих плоскостей будет давать отличные друг от друга дифракционные картины. Таким образом можно узнать какие связи образует водород с материалами при определенных условиях. На рис. 6 приведен пример исследования методом электронной дифракции титановой пленки при ее насыщении дейтерием до дозы 1.3 х 1018 см-2 при температуре 110 К и последующем линейном отжиге в диапазоне температур от 300 до 1000 К.
Рисунок 6: Электронограммы титановой пленки. Показано появление различных фаз системы титан-дейтерий при отжиге.
Нейтронные исследования водорода в материалах
Нейтронные исследования водорода в материалах позволяют получить множество уникальной информации о данных системах.
С помощью нейтронной дифрактометрии возможно определение кристаллической и магнитной структуры гидридов . Для данных целей используются нейтронные дифрактометры такие как DN-2 в Лаборатории нейтронной физики ОИЯИ в Дубне. Для иллюстрации возможностей метода нейтрон-дифракционная картина образца ε-CrH и результат ее профильного анализа показаны на рис. 7.
В ГПУ и ГЦК решетках металла у этого гидрида имеется два типа высокосимметричных межузельных позиций, обычно занимаемых атомами водорода при образовании гидридов. Это октаэдрические позиции (число которых равно числу атомов металла) и тетраэдрические позиции (которых в
Рисунок 7: Порошковая нейтронограмма образца ε-CrH, измеренная при 8 K на времяпролетном нейтронном дифрактометре DN-2 в ОИЯИ, Дубна (открытые кружки) и результаты ее профильного анализа (линии).
видеть, что модель с тетраэдрической координацией водорода качественно непригодна для описания экспериментальных спектров. Модель же , в которой атомы водорода занимают все октаэдрические позиции, обеспечивает удовлетворительную подгонку профиля экспериментального спектра для ε-CrH.
Октаэдрическая координация атомов водорода, установленная для ε-CrH , характерна для всех гидридов с плотноупакованными металлическими подрешётками, образуемых переходными металлами VI-VIII групп.
Пунктирной кривой, помеченной “магнитный как ...” в верхней части рисунка 7 показан рассчитанный профиль магнитного вклада, который наблюдался бы в дополнение к структурным линиям, если бы ε-CrH был антиферромагнетиком с такой же магнитной структурой и магнитным моментом как фаза ε-MnD0.83 с близким значением эффективной концентрации электронов .
Нейтронная спектроскопия позволяет определить моды фононных колебаний решетки. Например, исследование динамики решетки гидрида γ-CrH методом неупругого рассеяния нейтронов на нейтронном спектрометре IN1-BeF в ИЛЛ, Гренобль приведено на рис. 8.
Рисунок 8: Динамический структурный фактор S(Q,ω) рассеяния нейтронов для γ-CrH (сплошная линия, эксперимент) и вклад многофононного рассеяния(пунктирная линия), рассчитанный итерационным методом [12] в изотропном гармоническом приближении.
Ядерный магнитный резонанс
ЯМР — это один из наиболее эффективных методов для исследования характеристик диффузионного движения (таких как энергия активации и частота перескоков) ядер в твердом теле. Важным преимуществом метода ЯМР является возможность как на подвижных ядрах водорода, так и на неподвижных ядрах матрицы материала, релаксационные характеристики которых несут информацию о движении атомов водорода. ЯМР также удобен тем, что не предъявляет слабые требования к качеству образца, за исключением необходимости не содержать ферромагнитные примеси.
При экспериментах ядерного магнитного резонанса, магнитное поле на ядре атома водорода будет флуктуировать вследствие взаимодействия с колеблющейся решеткой металла и полями других (подвижных) атомов водорода. Это приведет к уширению линии ЯМР. Чем интенсивнее движение протонов в образце, тем более узкой будет линия ЯМР из-за усреднения полей на ядрах атомов водорода. Измерения ширины линии ЯМР таким образом позволяет найти среднее время оседлой жизни атомов водорода и измерить коэффициент диффузии.
ЯМР эффективен для исследований коэффициента диффузии соответствующего временам в диапазоне от 10-15 до 10-13 м2с-1.
В большинстве исследований измеряются времена спин-решеточной релаксации и спин-спиновой релаксации.
Атомно-физические методы анализа водорода
Метод вторичной ион-масс-спектроскопии (ВИМС)
Физические основы и особенности анализа изотопов водорода в металлах методом ВИМС
ВИМС является одним из физических методов исследования поверхности твердых тел. Его принципиальная схема представлена на рис. 9. Анализ образца проводится в условиях высокого вакуума. Образец бомбардируется пучком первичных ионов с энергией 0.1 - 100 кэВ. Сталкиваясь с поверхностью, первичные ионы выбивают вторичные частицы, часть из которых, обычно менее 5%, покидают поверхность в ионизированном состоянии. Эти ионы фокусируются и попадают в масс-анализатор, где они разделяются в соответствии с отношением их массы к заряду. Далее они попадают на детектор, который фиксирует интенсивность тока вторичных ионов и передает информацию на ЭВМ.
Метод ВИМС часто используется для анализа водорода в металлах. Исследованы профили дейтерия, имплантированного с разными энергиями в вольфрам, проникновение трития через нержавеющую сталь 316 с титановым покрытием, изучено влияние механической обработки на десорбцию водорода
Рисунок 9: Принципиальная схема метода ВИМС
Также с помощью метода ВИМС измерялись коэффициенты диффузии дейтерия в сплаве 600 при катодном насыщении из кислотного раствора при температуре 423 К и токе 1000 мА от 0,25 до 5 ч. После насыщения часть образцов подвергали механической деформации (растяжению) со скоростью 4x10-4 1/с. Исследование проводили с помощью пучка ионов Cs+ с энергией 10 кэВ. Показано, что глубина проникновения дейтерия коррелирует с глубиной разрушенной области металла, определенной методом электронной микроскопии. Полное разрушение материала соответствует концентрации 50 ррm (по весу), переход от пластической деформации к разрушению происходит при 10 ррm. Отмечено, что ниже этого уровня концентрации водород не оказывает влияния на механические свойства материала. Таким образом, в работе подтверждается возможность использовать декорирование дефектов для определения глубины разрушенного слоя. К сожалению, размытие профиля дейтерия не позволяет точно определить границу между разрушенным слоем и прилегающей к ней области пластически деформированного металла.
Вполне понятно, что искажение профиля концентрации водорода, измеренного методом ВИМС, в первую очередь, вызвано нарушением целостности поверхностного слоя металла, который представляет собой своеобразный потенциальный барьер для выхода растворенного водорода. Этот факт подтверждают многочисленные эксперименты по термостимулированной десорбции водорода из материалов с разным состоянием поверхности. Удаление поверхностного слоя, обогащенного химическими соединениями и содержащего повышенное число дефектов по сравнению с объемом материала, вызовет неизбежный отклик, связанный с нарушением установившегося физико-химического и механического равновесия системы. Поэтому первичная реакция системы на облучение должна быть наиболее сильной. Возможно появление пиковой концентрации примесей легких элементов, десорбированных из приповерхностной области металла. К этому следует добавить нарушение механической целостности микрополостей, содержащих молекулярный водород, метан или иные газы, содержащие водород. Проводились исследования распределения имплантированного и поступающего из плазмы в бериллий водорода и дейтерия. Энергия имплантированных ионов составляла 5-6 кэВ, дозы от 5x1018 до 1,5x1021 см-2. Исследование проводили методом ВИМС (распыление пучком Аг+) и методом ЯО (ионным пучком Не+ с энергией 2,2 МэВ). Вследствие распыления стенок газовых пузырей, расположенных на поверхности бериллия, в начале измерения методом ВИМС, водород выходит из металла.















