Мальцев-ИК-спектроскопия (1120605), страница 2

Просмтор этого файла доступен только зарегистрированным пользователям. Но у нас супер быстрая регистрация: достаточно только электронной почты!

Текст из файла (страница 2)

Еолм амплитуды различны, то гааекме ке будет полыми, что умекьимт коитраствость иктерферекписнкой картиыы, Марой контрастности моает служить откоиекие иытеисивиостей в местах усилекия и ослаблепия колебелий. попятив, что отепеиь коктрастыости при иптерферекции ыа тоикой плеикв определяется ковффипиевтом отраыепая от грвкып ипеккв. Ив теории взаимодействия влектромегвиткого иелучеквя о вещвствок иввестао, чтв при иормвльиои падеиим лучей коэффипиеат отраиеиви Е ао вкергии раков Е~ (М=~ ) (9) я+1 Здесь Е - отаоиекие виергим отражеакой волки к виергии падающей волам; ю - откооительвмй покаватель преломления сред, иаходяикхся по разные стороыы от отражающей поверхности.

#ля грапыпы стекло-воэдух, например, и 1,5 и коэффыпкент отрааеыия Е ЕИ, Зто озыачает, что амплитуда луча, отраженного от отекла, почти э 5 рав моньке, чем проиедиего. Лля полупроводниковых пленок германия и кремния ковффппкект отраженкя зкачителько впво. Контрастность кктерфереппыонкой карткпы мокко повысить ьа очек мкогокретного отракекыя, как вто осуществляе*ся пры.мпоголучевой иптерферекпыи (папркмер, в эталоке Фабрк-перо). повыиеяие коктресткости достигается также ва счет улучиепыя от раквющмх свойотв путем накесепкя топких полупрозрачных пленок ав иапылекыого металла, Зкаыке толщкыы поглощающего слоя исследуемого вещества веобходиыо для количественных кзмерепкй в ИК-области спектра, Метод определекия телкины, осповаккый ыа каблюдеккм иктерфереппкоккой картикы, обладает каыбольвеп точкостью по сравнению о другими способаык.

Пределы воаыоиных толщык, поддаюидхся аадежыому определеыкю зависят ст свойств кктерферекпконной картикм. Так, ив условия (б) видно, что при ьщ 1 4 ~— ° Нет х т.е. расстоякые между соседккыи макскмумаии, выраивыкое в.едивкпах обратных длип волк, обратпо пропорпионально толциме.' Если учесть, что больвкыство промымлекпых прыэкеппых спентрофотоыетров поэволяет разреиать спектральные липки, различающие ся по волковми числам аа ю4к~щ "5т10 сы , то максимально допустимую толщкку пленка мокко опеккть как дххах ~500— 1000 мхм.

Ныжккй же 'предел зависит . во многом от коптрастпоств ваписк, фактически - от интервала эелисмваемых частот. На практике гх )хеах'"200-250 см , и тогда ххха(в "'20-25 мкм. -1 Иитерферекпкокыув картииу можао попользовать для калибровки опектрофстокетров в мироном спектральном дкапавоке, Для втого необходимо ека~ь касколько реперпых ливий по краяи тра дукруемого кктервела. В случаях, когда прояллеаае кытерфереапми в вапаоываемом опектре являетсе кеиелателькю, приккыаются меры, предельно ° умекьвающке коитрасткость иктерферекпыоакой картикы.

Пика ив воеыоккостей заключается в умевьаевии отраиекия аа гренков раскола сред. С этой келью иооледуемую плевку мои- 4 'й' Отсиди легяо пайки ~Ф,', по юмсстить между толсткми пластиками из материала, прсврачного в исследуемой области спектра, а для лучисто коытакта поверхкоствй сказать пх ъазелмновым паслен, В соответствии с (7) это умепьппт «сз(4ипкспт отражения К . Мокко также учесть тот Факт, что пнтерйвренпиопная картина раэмкта и практически кв паблвдавтся, если пленка в прелвлах озетового пятна кв одксродна пс толпипв. Ллн устранонкя иктврберенпкоккой картипы кмввтм делают пореквпной толпикы в ппдо клика. УПРАЖНЕНИЕ 1 Озмакомлвпив о уотрсйством к работой иы4ракраского спактройотоквтра.

Калибровка впали дями лолп (волковых чксвл) Зто украинские вкполпяется в ссотввтствки о указаниями„ иалопекными в кпигв А,А.Малькова "Молекулярная спектроскопкя", см. раздал М, работа М 1, п.п. 1-3. УПРАЖНЕНИЕ 2 Опрвделекке толпмпм плавки плв ьовдуипого пакора и капоте по кптсрЗерввпкопкой иартива в ЗК-опектре 1. Запюать НК-опвктр првдлсюппогс преподавателем обравпа, вмдвлив в иск мктерфвравпмоппю колвбапмя иитспсивкости. 2.' Пользуяоь равулътатом калибровки упрамаепая 1, построить гравия вапиоимости порядка актсрйвреипми т от волкового чксла '4 убодвться в отсувтвим дюпврсма.

3-. Опрвдапить впачамие ди для образка. Длк того слвдует вмбраьь два доотаточио отличавпмхо» авачеиив пч; и ю„ и иайти ооотпвтстпуппиа им ввачепмя 4( и 4к ° Зги пвличиим свяввмм условиям (5). пчвм 2Мп4 пткм 2дп4» дм е к) уквваииум проподуру продвлать дпя пяти равличпмх пар ю в 4 ° ч ° Нолъвуяоь виачвмием м дкп дамиого материала, пайва тспМпиу плвиви (мла зовдумиого капора). рявкать, в каком иапрапле- вви иа грайикв раотет порядок мвтерЗереппми ю 5. Опалить погрваиость опредвлопю получеыаоге вивчвмкя тояпикке Приквчаппвг вкачеиие бп моию пайки такие по иаклопу граЗппа вапюимооти ~и от 4 (п.2).

Иля опвпки погреипоотм мокко воополъзопатъоя катодом ааимспь° пп квадратов. ЖйтедатКНК 1', А.А,Малъпеи "Молекуляркая спвктроскопвв", мвд. МГу, 19ЗО 2. Методвчаовая разработка "Статмоткчеакка метода обработки вюпвримвиталъпмх дакымх па ЗВМ 15 ВСМ-5". 3, Справочкмк "Тврмодкпамичсские свойства кпдкакдувлъпмх помести", мвд. Наука, 1978, т.1, «кпга 1.

.

Характеристики

Список файлов лабораторной работы